化學物理ppt課件-資料下載頁
2025-05-04 18:29本頁面
【正文】 光提供的信息：提供的信息： ? 近表面處的化學組成 ? 表面幾何結(jié)構(gòu) ? 已占居表面態(tài)能級分布 ? 未占居表面態(tài)能級分布 ? 表面軌道取向特征 ? ? 固體與吸附質(zhì)之間成鍵特征 ? ? 表面粒子的氧化態(tài) 15 種表面光譜，可分為四類： ? ( a~f ) 可測量清潔表面的表面態(tài)，成鍵軌道特征以及外 來粒子與表面相互作用 ?.( g ) 表面結(jié)構(gòu)，特別能提供表面原子如何替代預期的正 常晶格位置 ? ( h~l ) 研究表面組成、檢測雜質(zhì)、缺陷 ?.( m~o ) 提供表面化學反應動力學方面的資料 1. ( a~f ) 2. ( g ) 3. ( h~l ) 4. ( m~o ) ?? 紫外光電子能譜 ( UPS ) 入射粒子： 紫外光 ， 光源為同步加速器輻射 或氫 、 氦和氖的共振燈 檢測粒子： 光電子 ， 具有一定能量分布的光電子 測試原理： 使用能量 h?? 材料 ? 的光照射表面就會 得到具有 E = h?? ??動能的光電子 ? 光能量： ?約為 25 eV 分辨率： eV (240 cm1) 光能量： ?約為 25 eV 分辨率： eV (240 cm1) 如何區(qū)別體相 、 本征表面態(tài) 、 外來粒子吸附對 UPS的貢獻 ? 隨外來粒子的吸附 UPS 消失時 ， 是表面態(tài)而不是體 相的響應 。 ? 吸附后新峰出現(xiàn)或峰發(fā)生位移 ， 可能與吸附質(zhì)－固體 絡合物的 UPS有關 。 低能電子衍射 ( LEED ) 入射粒子： 電子 檢測粒子： 衍射電子 測試深度： 10 A 測試原理： 類似 X －光衍射 衍射電子 入射電子 o o o o o o o o o o o o o o o o o o o o o o o o LEED提供有關晶格距離的數(shù)據(jù)，由于使用低能電子，因此，主要提供表面原子、頂層和兩層原子的信息 ? 了解外來粒子的清除情況 ? 提供有關表面重建的信息 ? 提供有關吸附粒子有序間距 ? 提供表面臺階的資料 ? .3 能量損失譜 ( E LS ) 入射粒子： 低能電子束， E0 約為 10 0 eV 或氫、氦和氖的共振燈 檢測粒子： 電子 測試深度： 1 0 A 測試原理： 低能電子束入射在樣品表面上，分析散射電子的 能量。 ? 彈性碰撞 E0 ? 非彈性碰撞 (E0 E? ) 電子束 E0 (E0E?) 非彈性 ( E0) 彈性碰撞 分辨率： 由于入射電子束能量數(shù)量級為 eV, 因此分辨率限于 eV
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