材料分析測試方法(1)-資料下載頁
2025-04-29 12:03本頁面
【正文】 測試方法 》 LKLKK hhWWh ??? ? ????3. 分析解釋 —— 特征 X射線的產(chǎn)生 《 材料分析測試方法 》 3. 分析解釋 —— 特征 X射線的命名 《 材料分析測試方法 》 ? 同樣當 K空位被 M層電子填充時，則產(chǎn)生 Kβ輻射。 M能級與 K能級之差大于 L能級與 K能級之差，即一個 Kβ光子的能量大于一個 Kα光子的能量； 但因 L→K 層躍遷的幾率比M→K 遷附幾率大，故 Kα輻射強度比 Kβ輻射強度大五倍左右。 ? 顯然， 當 L層電子填充 K層后，原子由 K激發(fā)狀態(tài)變成 L激發(fā)狀態(tài)，此時更外層如 M、 N…… 層的電子將填充 L層空位，產(chǎn)生 L系輻射。因此，當原子受到 K激發(fā)時，除產(chǎn)生 K系輻射外，還將伴生 L、 M…… 等系的輻射。除 K系輻射因波長短而不被窗口完全吸收外，其余各系均因波長長而被吸收。 3. 分析解釋 —— 臨界激發(fā)電壓 ? 產(chǎn)生特征輻射前提是將內(nèi)層電子轟擊出來，即要求陰極射來的電子的動能必須大于等于該內(nèi)層電子與原子核的結(jié)合能電離。 ? eV≥WK＝ hυK，才能產(chǎn)生 K激發(fā)。其臨界值為 eVK＝ WK ， VK稱之臨界激發(fā)電壓。 《 材料分析測試方法 》 ?特征 X射線的波長只取決于靶材物質(zhì) ? 波長與靶材原子序數(shù)關(guān)系 —— 莫塞萊定律 ? 根據(jù)莫塞萊定律，將實驗結(jié)果所得到的未知元素的特征 X射線譜線波長，與已知的元素波長相比較，可以確定它是何元素。它是 X射線光譜分析的基本依據(jù) 《 材料分析測試方法 》 ? ??? ?? ZK1 X射線與物質(zhì)的相互作用 X射線與物質(zhì)相互作用時，會產(chǎn)生各種不同的復(fù)雜過程，但從能量轉(zhuǎn)換來看，一束 X射線通過物質(zhì)時，它的能量可分為三部分：其中一部分被散射，一部分被吸收，一部分透過物質(zhì)繼續(xù)沿原來方向傳播。 《 材料分析測試方法 》 一、 X射線的散射 X射線散射 —— 沿一定方向運動的 X射線光子流與物質(zhì)的電子相互碰撞后，向周圍發(fā)散開來的過程。 相干散射（彈性散射） 非相干散射（非彈性散射） 《 材料分析測試方法 》 兩類 ? 當 X射線通過物質(zhì)時，物質(zhì)原子的電子在電磁場的作用下將產(chǎn)生受迫振動，其振動頻率與入射 X射線的頻率相同。 ? 任何帶電粒子作受迫振動時將產(chǎn)生交變電磁場，從而向四周輻射電磁波，其頻率與帶電粒子的振動頻率相同。 ? 由于散射線與入射線的波長和頻率一致，位相固定，在相同方向上各散射波符合相干條件，故稱為相干散射。相干散射是 X射線在晶體中產(chǎn)生衍射現(xiàn)象的基礎(chǔ)。 《 材料分析測試方法 》 2. 非相干散射 ? X射線與物質(zhì)原子中受束縛弱的電子碰撞時（如外層電子），可以得到波長比入射 X射線長的 X射線，且波長隨散射方向不同而改變。這種散射現(xiàn)象非相干散射。由于散射線分布于各個方向，波長各不相等，不能產(chǎn)生干涉現(xiàn)象。 《 材料分析測試方法 》 ?非相干散射機理 ? 入射 X射線遇到約束弱的電子時，將電子撞至一方，成為反沖電子。入射線的能量對電子作功而消耗一部份后，剩余部份以 X射線向外輻射。散射 X射線的波長（ λ ′）比入射 x射線的波長（ λ ）長，其差值與散射度α 之間存在如下關(guān)系： 《 材料分析測試方法 》 ? ????? co s10 2 4 39。 ??????小結(jié) 《 材料分析測試方法 》 相干散射 因為是相干波所以可以干涉加強 . 只有相干散射才能產(chǎn)生衍射 ,所以相干散射是 X射線衍射基礎(chǔ) 非相干散射 因為非相干散射不能干涉加強產(chǎn)生衍射 ,所以非相干散射只是形成衍射的背底
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