高速設(shè)計中的特性阻抗問題-資料下載頁
2025-01-14 19:48本頁面
【正文】 的說明能將電容常識和新發(fā)現(xiàn)的特性阻抗理論聯(lián)系在一起。如果增加傳輸線單位長度容量，例如加粗傳輸線，可降低傳輸線特性阻抗。特性阻抗的測量當電池和傳輸線連接時(假如當時阻抗為50歐姆)，將歐姆表連接在3英尺長的RG58光纜上，這時如何測無窮阻抗呢？任何傳輸線的阻抗都和時間有關(guān)。如果你在比光纜反射更短的時間里測量光纜的阻抗，你測量到的是“浪涌”阻抗，或特性阻抗。但是如果等待足夠長的時間直到能量反射回來并接收后，經(jīng)測量可發(fā)現(xiàn)阻抗有變化。一般來說，阻抗值上下反彈后會達到一個穩(wěn)定的極限值。對于3英尺長的光纜，必須在3納秒內(nèi)完成阻抗的測量。TDR(時間域反射儀)能做到這一點，它可以測量傳輸線的動態(tài)阻抗。如果在1秒鐘內(nèi)測量3英尺光纜的阻抗，信號會來回反射數(shù)百萬次，因此會得到不同的“浪涌”阻抗。本文作者Eric Bogatin在麻省理工學院獲得物理學學士學位，在亞利桑那州立大學獲得物理學碩士和博士學位。他曾在ATamp。T公司、貝爾實驗室和太陽微系統(tǒng)等著名公司工作過?，F(xiàn)任Bogatin公司獨立顧問，專門從事信號完整性及互連設(shè)計的培訓工作。
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