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薄膜材料的表征方法一-資料下載頁

2025-05-13 06:13本頁面
  

【正文】 y for Chemical Analysis( ESCA) Bk EhvE ??Xray photoelectron spectroscopy ? A typical spectrum of silver. Xray photoelectron spectroscopy ? The intensity of a XPS peak is given by: ? Relative atomic sensitivity factor S: ? So the atomic percentages for an unknown element can be calculated by: TDA f NI ? ? ?? ??? ?TS ??? ????iiixxx SISIn//Xray photoelectron spectroscopy ? The calculation of the peak intensity. Xray photoelectron spectroscopy ? The chemical shift. Xray photoelectron spectroscopy 小結(jié) ?用途:分析樣品化學(xué)成分及元素分布。 ?原理:光電效應(yīng)。 ?特點(diǎn): H、 He以外的所有元素。 。 。
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