【導讀】測試過程應用于智能芯片的制造過程,其主要目的都是為智能芯片質量與可靠。性提供一種度量。出了相應的設計方案。系統(tǒng)選擇美國NI公司的數(shù)據采集卡PCI-6221對??诘目刂?,模擬量的采集以及結果的比對與顯示。課題背景及研究意義················································1