【導(dǎo)讀】測試過程應(yīng)用于智能芯片的制造過程，其主要目的都是為智能芯片質(zhì)量與可靠。性提供一種度量。出了相應(yīng)的設(shè)計方案。系統(tǒng)選擇美國NI公司的數(shù)據(jù)采集卡PCI-6221對?？诘目刂?，模擬量的采集以及結(jié)果的比對與顯示。課題背景及研究意義················································1

　　

【正文】 ，彈出對話框選擇 YCL1 文件讀取，并且在數(shù)據(jù)段大小中選擇指定數(shù)據(jù)段大小采樣點為 101 個，如圖 333 所示。 圖 333 YCL1 文件讀取 創(chuàng)建一個 Express表格，將讀取測量文件與 Express表格相連接，如下圖 334所示。 寧夏大學(xué)新華學(xué)院本科學(xué)位論文 33 圖 334 創(chuàng)建一個 Express 表格 設(shè)置 For循環(huán)將循環(huán)次數(shù)定為 1，如下圖 335所示。 圖 335 設(shè)置 For 循環(huán) 選擇讀取文件 YCL1，選擇選定獲取指定大小的數(shù)據(jù)段，采樣點設(shè)定為一個，如下圖 336所示。 圖 336 讀 取文件 YCL1 在結(jié)構(gòu)中選擇條件函數(shù)，當(dāng)“真”的時候把讀取的測量文件寫入測量文件命名為 YCL3，如下圖 337 所示。 寧夏大學(xué)新華學(xué)院本科學(xué)位論文 34 圖 337 寫入測量文件 選擇 For 循環(huán) 800 次，前 400 此輸出與假條件函數(shù)連接，如下圖 338 圖所示。 圖 338 For 循環(huán) 讀取測量文件 YCL3，設(shè)定數(shù)據(jù)段的大小，通過比對開始點來記錄下一個完整周期的 100個點存入寫入文件 YCL4中，如下圖 339所示。 寧夏大學(xué)新華學(xué)院本科學(xué)位論文 35 圖 339 讀取測量文件 YCL3 使用相關(guān)法將 YCL1與 YCL4的文件里的數(shù)據(jù)使用相關(guān)法并且顯示波形圖 ，如下圖 340所示。 圖 340 相關(guān)法出圖 寧夏大學(xué)新華學(xué)院本科學(xué)位論文 36 動態(tài)數(shù)據(jù)采集的系統(tǒng)調(diào)試 以動態(tài)正弦電壓波形的數(shù)據(jù)采集和控制為例，電壓幅值是 0～ +10V，點擊運行，進(jìn)行調(diào)試 . 首先幅值為 1V，運行程序點擊開始，如下圖 348 所示 圖 348 設(shè)定幅值為 1V 時的圖像 幅值為 5V 時， 運行程序點擊開始，如下圖 349 所示。 圖 349 設(shè)定幅值為 5V 時的圖像 寧夏大學(xué)新華學(xué)院本科學(xué)位論文 37 第四章 經(jīng)濟(jì)技術(shù)分析 作為現(xiàn)代儀器儀表發(fā)展的方向，虛擬儀器已迅速發(fā)展成為一種新的產(chǎn)業(yè)。美 國是虛擬儀器的誕生地，也是全球最大的虛擬儀器制造國。到 1994 年底，虛擬儀器制造廠已達(dá) 95 家，共生產(chǎn) 1 000 多種虛擬儀器產(chǎn)品，銷售額達(dá) 億美元，占整個儀器銷售額 73 億美元的 4%[14]。到 1996 年，虛擬儀器已在儀器儀表市場中占有10%的份額 [17]。生產(chǎn)虛擬儀器的主要廠家 NI、 HP 等公司，目前都生產(chǎn)數(shù)百個型號的虛擬儀器產(chǎn)品。 LabVIEW 是目前應(yīng)用最廣的虛擬儀器開發(fā)環(huán)境之一，它充分利用計算機(jī)硬件資源、儀器和測控系統(tǒng)硬件資源，被廣泛應(yīng)用于儀器控制、數(shù)據(jù)采集、數(shù)據(jù)分析、數(shù)據(jù)顯示等領(lǐng)域。 LabVIEW 是一種圖形化的編程語言 ,使用這種語言編程時 ,復(fù)雜的語言編程簡化為可視化的數(shù)據(jù)流編程 ,以圖標(biāo)表示功能模塊 ,以圖標(biāo)間連線表示數(shù)值傳輸 ,其編程方式與用元件和導(dǎo)線組成的電子電路十分相似 ,形象而直觀。 LabVIEW 中提供大量現(xiàn)成的圖形模板 ,可供生成美觀實用的儀器面板； LabVIEW 還提供豐富實用的數(shù)值分析、數(shù)字信號處理等功能；同時 ， LabVIEW 高度集成了各種 GPIB、 VXI、 RS23RS485 標(biāo)準(zhǔn)設(shè)備及數(shù)據(jù)采集卡、網(wǎng)絡(luò)設(shè)備的驅(qū)動功能 ,通過 NI 提供的眾多流行儀器的源碼級驅(qū)動程序 ,可輕而易舉地與外部設(shè)備進(jìn)行通 訊和控制。在 LabVIEW 平臺上 ,進(jìn)行數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)設(shè)計可節(jié)省大量的程序開發(fā)時間 [18,19]。 通過這一個學(xué)期的學(xué)習(xí)和研究我基本完成了對 D/A 芯片的數(shù)模轉(zhuǎn)換、數(shù)據(jù)采集和輸出系統(tǒng)、加載系統(tǒng)等的設(shè)計和編程。在數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)中，最重要的元件就是數(shù)據(jù)采集卡，它的價格也比較昂貴，用的是美國 NI 公司生產(chǎn)的 PCI6221，性能很好。對于 D/A 芯片并沒有特定的型號要求。 整個設(shè)計中重要的組成部分就是對于靜態(tài)與動態(tài)電壓參數(shù)測試系統(tǒng)的設(shè)計。在數(shù)據(jù)采集方面數(shù)據(jù)卡的選用是很關(guān)鍵的，我們選用了美國 NI 公司的 PCI6221，它是M 系列， 250KS/s 16 路， 16bit 低價位數(shù)據(jù)采集卡，帶 2 路 16bit 模擬輸出和 24 路DIO，價格大概 3000 元左右。 在編程方面我們選用了 進(jìn)行數(shù)據(jù)采集和信號輸出界面的編制，在數(shù)據(jù)采集和信號輸出方面能夠滿足系統(tǒng)的要求。在整個的實驗系統(tǒng)中我們還要用到一臺 PC 計算機(jī)和面板采集卡、電線，插線板等 寧夏大學(xué)新華學(xué)院本科學(xué)位論文 38 第五章 總結(jié)與展望 總結(jié) 本實驗系統(tǒng)是對 D/A 芯片進(jìn)行測試，實驗的要求是結(jié)合 LabVIEW 虛擬儀器圖形編程語言和數(shù)模轉(zhuǎn)化知識進(jìn)行 D/A 芯片測試系統(tǒng)設(shè)計的可行性分析，國內(nèi)外現(xiàn)狀情況的調(diào)查。了解虛 擬儀器的概念，掌握 D/A 芯片測試系統(tǒng)的基本概念和方法。應(yīng)用LabVIEW 虛擬儀器圖形編程語言設(shè)計一個完整的 D/A 芯片測試系統(tǒng)，并進(jìn)行模擬仿真實驗。在實驗的過程中使我進(jìn)一步掌握了 LabVIEW 的編程環(huán)境和方法，也加深了對數(shù)據(jù)采集和信號輸出的理解。 這次設(shè)計主要是采用模擬信號作為初始信號 ,通過數(shù)據(jù)采集卡的數(shù)字端口來輸出相應(yīng)的數(shù)字信號 , 輸出之后通過數(shù)據(jù)采 集卡的模擬量采 集功能對待測 D/A的輸出的模擬量進(jìn)行測量并和理論結(jié)果進(jìn)行比較來判斷 D/A工作狀態(tài)是否正常。 設(shè)計學(xué)習(xí)到了專業(yè)課的知識，比如關(guān)于 LabVIEW 軟件和 數(shù)模轉(zhuǎn)換的應(yīng)用，同時也學(xué)到了很多新的、從未接觸過的知識，比如有關(guān)數(shù)據(jù)采集方面等一些非常有用的知識。 展望 下一階段的工作是在熟練使 LabVIEW 和數(shù)據(jù)采集卡基礎(chǔ)上，利用 LabVIEW 中的程序控制聯(lián)機(jī)調(diào)試，以及外接其他 D/A 芯片測試工作，利用 LabVIEW 程序控制實時全面監(jiān)測 D/A 芯片的效果。 寧夏大學(xué)新華學(xué)院本科學(xué)位論文 39 參 考 文 獻(xiàn) [1] 劉文彥 . 現(xiàn)代測試系統(tǒng) [M]. 長沙 : 國防科技大學(xué)出版社 , 1995： 42～ 87. [2] 董紹平 . 數(shù)字信號處理基礎(chǔ) [M]. 哈爾濱 : 哈爾濱工業(yè)大學(xué)出版社 ,1996： 18～ 56. [3] 薛亮 . 一種 D/A靜態(tài)參數(shù)和動態(tài)參數(shù)的測試方法 [J]. 儀器儀表學(xué)報 , 2021： 25 ～ 65. [4] 謝永樂 ,陳光 . 系統(tǒng)芯片的可測性設(shè)計與測試 [J]. 電子測量與儀器學(xué)報 ,(3):13～ 25 [5] 楊晗 ,馮耀瑩 ,許弟建 . 高速 D/A轉(zhuǎn)換器動態(tài)參數(shù)測試方法研究 [J]. 儀器儀表報 , (3): 11~13 [6] 朱冬梅 ,傅東兵 ,石建 . 一種用于高精度 D/A轉(zhuǎn)換器的數(shù)字校準(zhǔn)技術(shù) [J]. 北京科技大學(xué)出版 社 ,(2): 16～ 37. [7] 陳國強 ,吳國華 ,劉敬 . 中規(guī)模集成電路功能測試儀的設(shè)計 [J].儀器測量學(xué)報 ,(5): 21～26. [8] 時萬春 . 集成電路測試技術(shù)的新進(jìn)展 [J]. 電子測量與儀器學(xué)報 ,2021, 12 (4): 21～ 46. [9] 張凱 , 郭棟 . LabVIEW虛擬儀器工程設(shè)計與開發(fā) [M]. 北京 : 國防工業(yè)出版設(shè) .. 4~11. [10] 鄧炎 ,王磊 . 測試技術(shù)與儀器應(yīng)用 [M]. 北京 : 機(jī)械工業(yè)出版社 .~15. [11] 孫曉燕 ,王斌武 . LabVIEW 及其在測試技術(shù)中的應(yīng)用 [M].北京 : 機(jī)械工業(yè)出版 ~19. [12] 雷振山 .《 LabVIEW7Express 實用技術(shù)教程》 [M]. 北京 : 中國鐵道出版設(shè) .~16. [13] 楊樂平 , 李 海濤 , 肖相 生 . LabVIEW 程 序設(shè) 計與 應(yīng)用 [M]. 北京 : 電子 工業(yè) 出版 社 ,~127. 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