【正文】 和測試系統(tǒng) 來實現(xiàn)高精度的數(shù)字控制。為了完成復(fù)雜的系統(tǒng)功能，大系統(tǒng)中每個子模塊的功耗應(yīng)盡可能地 。 高精度：現(xiàn)代數(shù)字系統(tǒng)的分辨率在不斷提高，比如，高級儀表的最小可測值在不斷地減小，因此， D/A 轉(zhuǎn)換器的分辨率也必須隨之提高。在高精度測量領(lǐng)域，高級儀表的分辨率在不斷提高，電流到達(dá) μA 量級，電壓到達(dá) mV 甚至更低 。 D/A 芯片測試方法發(fā)展現(xiàn)狀 當(dāng)前，數(shù)字處理系統(tǒng)正在飛速發(fā)展，在通信領(lǐng)域，過去無線通信系統(tǒng)的設(shè)計都是靜態(tài)的，只能在規(guī)定范圍內(nèi)的特定頻段上使用專用調(diào)制器、編碼器和信道協(xié)議。在制造過程中由于制造工藝和制造環(huán)境等多種原因，可能會使制造后的電寧夏大學(xué)新華學(xué)院本科學(xué)位論文 6 路出現(xiàn)各種各樣的物理缺陷問題，比如線與線之間或者層與層之間出現(xiàn)短路，線與線之間出現(xiàn)開路等，這些都會導(dǎo)致制造后的電路與預(yù)期的結(jié)果不一樣，而不能正確的工作。 在集成電路產(chǎn)品開發(fā)的整個流程中，可測試性設(shè)計對于提高產(chǎn)品可靠性和成品率是不可忽略的。 隨著深亞微米技術(shù)的應(yīng)用，芯片規(guī)模不斷增加，使得測試成為 VLSI 設(shè)計費用中最高，難度最大的一個環(huán)節(jié)。 研究意義 隨著計算機技術(shù)和微電子技術(shù)的迅速發(fā)展，大規(guī)模和超大規(guī)模集成電路的應(yīng)用越來越普及，測試費用在集成電路制造生產(chǎn)和檢修過程中所占的比例已經(jīng)越來越高，研究適 合現(xiàn)代電子設(shè)備的故障診斷系統(tǒng)就具有深遠(yuǎn)的現(xiàn)實意義。然后進行故障模擬，常用于故障模擬的算法有：串行故障模擬、并行故障模擬、推演故障模擬等。故障模型有兩種：描述影響元器件簡介鏈接的故障模型和描述可能改變元器件真值表的故障模型。要測試電路，首先需要建立故障模型。因此，測試對于確保集成電路產(chǎn)品的質(zhì)量是必不可少的。當(dāng)系統(tǒng)發(fā)生故障時，系統(tǒng)中的一部分會表現(xiàn)出與物理量的正常狀態(tài)不同的特性，這種差異性包含有豐富的故障信息，根據(jù)故障的特征描述，利用它來進行故障的檢測分離及辨識就是故障診斷的任務(wù)和目的。 故障檢測技術(shù)在現(xiàn)代工業(yè)生產(chǎn)和國防建設(shè)中起到了極為重要的作用，并且已經(jīng)成為科學(xué)界的熱點研究之一。 2021 年 2 月載有 7 名宇航員的美國哥倫比亞號航天飛機，在結(jié)束了為期 16 天的太空任務(wù)之后，返回地球時，在著陸前發(fā)生意外故障，航天飛機全部解體墜毀，不僅造成巨大的經(jīng)濟損失，而且使人類探索太空的航天遭到重大影響。因此，如果設(shè)備某一部分發(fā)生了故障，就可能引起一系列連鎖反應(yīng)，導(dǎo)致整個設(shè)備不能正常運行，輕者造成停機，停產(chǎn)，重則產(chǎn)生嚴(yán)重的甚至災(zāi)難性的人員傷亡。 41 寧夏大學(xué)新華學(xué)院本科學(xué)位論文 4 第一章 前 言 課題背景及研究意義 現(xiàn)代工業(yè)生產(chǎn)的熱點研究 在科學(xué)技術(shù)日益發(fā)展 的今天，現(xiàn)代工業(yè)企業(yè)要取得成功的關(guān)鍵因素之一就是產(chǎn)品合格的質(zhì)量；在軍事領(lǐng)域里面，要求武器裝備要有更高的可靠性，保障性和可維修性。 39 參 考 文 獻 38 展望 38 總結(jié) 26 動態(tài)數(shù)據(jù)采集的系統(tǒng)調(diào)試 26 26 動態(tài)參數(shù)測試功能 25 動態(tài)參數(shù)測試部分 21 靜態(tài)數(shù)據(jù)采集的系統(tǒng)調(diào)試 16 靜態(tài)參數(shù)數(shù)據(jù)采集部分的設(shè)計 16 靜態(tài)參數(shù)輸出控制部分的設(shè)計 16 靜態(tài)參數(shù)測試功能 14 第三章 D/A 芯片測試及數(shù)據(jù)采集調(diào)試 10 信號調(diào)理 9 數(shù)據(jù)采集卡的功能 7 數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)的介紹 3 第二章 總體方案設(shè)計 2 D/A 芯片測試方法發(fā)展現(xiàn)狀 1 與傳統(tǒng)的測試方法相比，設(shè)計更 開放與靈活， 便于修改，成功的實現(xiàn)了數(shù)字端口的控制，模擬量的采集以及結(jié)果的比對與顯示。 本文介紹了 智能 芯片測試的重要地位，分析了芯片測試系統(tǒng)的發(fā)展和現(xiàn)狀，提出了相應(yīng)的設(shè)計方案。寧夏大學(xué)新華學(xué)院本科學(xué)位論文 1 智能芯片測試系統(tǒng)的開發(fā)與設(shè)計 摘要 隨著計算機技術(shù)和微電子技術(shù)的迅速發(fā)展 ， 智能 芯片 測試系統(tǒng)的應(yīng)用越來越廣泛 。 測試過程應(yīng)用于 智能 芯片的制造過程，其主要目的都是 為 智能 芯片質(zhì)量與可靠性提供一種度量。系統(tǒng)選擇美國 NI公司的數(shù)據(jù)采集卡 （ NIDAQ） PCI6221對待測參數(shù)進行采集，應(yīng)用 LabVIEW編程語言對該測試系統(tǒng)的控制部分以及結(jié)果比對部分進行了設(shè)計，最終實現(xiàn)了一個閉環(huán)的測試系統(tǒng)的設(shè)計并給出測試結(jié)果，主要用D/A芯片來實 現(xiàn)設(shè)計。 關(guān)鍵字： 虛擬儀器 ， LabVIEW，數(shù)據(jù)采集 寧夏大學(xué)新華學(xué)院本科學(xué)位論文 2 Abstract With the rapid development of the puter technology and microelectronics technology,Smart chiptesting systems are used more widely. The testing process are used in smart chip process, Main purpose is to provide a measure for smart chip quality and reliability. The article introduces the important role of the smart microchip testing and analyzes the chip test system development and situation. It also puts forward the corresponding design scheme. The system uses data acquisition card to collect the measuring parameters and chooseAmerica NI pany’s data collection card (DAQ)M series NImodels :PCI6221 for acquisition signal equipment, applies the LabVIEW programming software for the test system software parts, the control parts and the LabVIEW realizes the design of closed loop testing system and gives out the results, Mainly use D/A chip to implement the design. Compared with the traditional test methods, it is more open and flexible, easy to modify. It makes the design of digital control ports, analog capture and pare and display the results succeed. Key words: virtual instrument ， LabVIEW Electromagic interference ， Data acquisition. 寧夏大學(xué)新華學(xué)院本科學(xué)位論文 3 目 錄 第一章 前沿 1 課題背景及研究意義 1 2 研究意義 3 課題研究內(nèi)容和研究方法 5 選用的 D/A 芯片測試技術(shù)的設(shè)計 9 13 數(shù)據(jù)采集過程 16 靜態(tài)參數(shù)測試部分 36 第 四 章 總結(jié)與展望 40 致 謝 另一方面，由于現(xiàn)代工業(yè)及科技的迅速發(fā)展，自動化程度也越來越高，設(shè)備的結(jié)構(gòu)變得越來越復(fù)雜，不僅僅同一設(shè)備的不同部分之間相互關(guān)聯(lián)，緊密耦合，而且不同設(shè)備之間也存在著緊密聯(lián)系，在運行過程中形成了一個不可分割的整體。最典型的由于設(shè)備運行出現(xiàn)的故障而引 起的災(zāi)難有： 1986 年 4 月，前蘇聯(lián)切爾諾貝利核電站放射性泄漏事故，損失達(dá)到 30 億美元，核污染波及周邊