【導(dǎo)讀】一直到90年代初,BGA才真正進(jìn)入實用化的階段。為了適應(yīng)這一要求,QFP的引腳間距目前已從發(fā)展到。由于引腳間距不斷縮小,I/O數(shù)不斷增加,封裝體積也不。另方面由于受器件引腳框架加工精度等制造技術(shù)的限制,已是QFP引腳間距的極限,這都限制了組裝密度的提高。器件中由于引線而引起的共面度和翹曲的問題。和間距的BGA取代的精細(xì)間距器件。BGA器件的結(jié)構(gòu)可按焊點(diǎn)形狀分為兩類:球形焊點(diǎn)和校狀焊點(diǎn)。CBGA、TBGA和PBGA是按封裝方。作便捷,在組裝時具有高可靠性。形成的產(chǎn)品缺陷率至少要超過其10倍。多生產(chǎn)廠家仍然不愿意投資開發(fā)大批量生產(chǎn)BGA器件的能力。主要是采用電子測試的方式來篩選BGA器件的焊接缺陷。術(shù),因為在BGA器件下面選定測試點(diǎn)是困難的。了用于排除缺陷和返修時的費(fèi)用支出。需指出的是,BGA基板上的焊球不論是通過高溫焊球。要對BGA焊接后質(zhì)量情況的一些指標(biāo)進(jìn)行檢測控制。以測試電性能,卻不能較好檢測焊接的質(zhì)量。射線透視圖可顯示焊接厚度、形狀及質(zhì)量的密度分布。