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正文內(nèi)容

20xx年醫(yī)學(xué)專(zhuān)題—海鷹顱內(nèi)壓監(jiān)護(hù)系統(tǒng)2009(編輯修改稿)

2024-11-15 06:19 本頁(yè)面
 

【文章內(nèi)容簡(jiǎn)介】 術(shù),由于顱內(nèi)壓受多種因素(yīn s249。)影響是波動(dòng)的,因此在單位時(shí)間內(nèi)所測(cè)得的壓力只有相對(duì)的意義 采用持續(xù)的壓力測(cè)量和記錄的方法,連續(xù)測(cè)量并記錄壓力,可隨時(shí)了解顱內(nèi)壓變動(dòng)情況,這種方法稱(chēng)為顱內(nèi)壓監(jiān)護(hù)術(shù) 臨床上表達(dá)顱內(nèi)壓都采用平均值,第二十七頁(yè),共六十三頁(yè)。,顱內(nèi)壓監(jiān)測(cè)(jiān c232。),其方法(fāngfǎ)分為創(chuàng)傷性和無(wú)創(chuàng)性?xún)煞N,第二十八頁(yè),共六十三頁(yè)。,有創(chuàng)ICP監(jiān)測(cè)(jiān c232。)方法,腰椎穿刺 腦室內(nèi)監(jiān)測(cè) 腦實(shí)質(zhì)(sh237。zh236。)內(nèi)監(jiān)測(cè) 蛛網(wǎng)膜下腔監(jiān)測(cè) 硬膜下或硬膜外監(jiān)測(cè) 神經(jīng)內(nèi)鏡監(jiān)測(cè) 有創(chuàng)腦電阻抗監(jiān)測(cè)(CEI),第二十九頁(yè),共六十三頁(yè)。,有創(chuàng)顱內(nèi)壓監(jiān)護(hù)(jiānh249。)的常見(jiàn)手段,腦室內(nèi)導(dǎo)管 精度高,可行CSF引流 并發(fā)感染幾率高,穿刺與置管難度大 腦實(shí)質(zhì)內(nèi)植入傳感器 感染率低 不能行CSF引流 硬膜外植入傳感器 安置方便(fāngbi224。n)、感染率低 精度稍差,第三十頁(yè),共六十三頁(yè)。,有創(chuàng)ICP監(jiān)測(cè)—腰椎(yāozhuī)穿刺,簡(jiǎn)便易行,操作方便 但是可能發(fā)生神經(jīng)損傷、出血、感染等并發(fā)癥 當(dāng)病情嚴(yán)重或懷疑ICP極高有形成腦疝的危險(xiǎn)時(shí),被視為禁忌 當(dāng)顱內(nèi)炎癥(y225。nzh232。ng)使蛛網(wǎng)膜黏連或椎管狹窄導(dǎo)致腦脊液循環(huán)梗阻時(shí),腰椎穿刺所測(cè)得的壓力不一定能夠真實(shí)地反映ICP的變化,第三十一頁(yè),共六十三頁(yè)。,有創(chuàng)ICP監(jiān)測(cè)(jiān c232。)—腦室內(nèi),目前臨床上最常用的方法,是ICP監(jiān)測(cè)的金標(biāo)準(zhǔn) 將含有探頭的導(dǎo)管放置在側(cè)腦室,另一端連接壓力傳感器測(cè)量 該方法簡(jiǎn)便、直接客觀、測(cè)壓準(zhǔn)確,便于檢測(cè)零點(diǎn)漂移。同時(shí)可以引流腦脊液 缺點(diǎn)是當(dāng)ICP增高、腦腫脹(zhǒngzh224。ng)導(dǎo)致腦室受壓變窄、移位甚至消失時(shí),腦室穿刺及置管較困難 且置管超過(guò)5d時(shí),感染概率大大增加,第三十二頁(yè),共六十三頁(yè)。,有創(chuàng)ICP監(jiān)測(cè)(jiān c232。)—腦實(shí)質(zhì)內(nèi),是一種較好的替代腦室內(nèi)置管的方法(fāngfǎ) 感染率較低 但是只能反映局部ICP,因?yàn)轱B內(nèi)ICP并不是均一分布,例如幕上監(jiān)測(cè)可能不能準(zhǔn)確反映幕下ICP,第三十三頁(yè),共六十三頁(yè)。,有創(chuàng)ICP監(jiān)測(cè)(jiān c232。)—蛛網(wǎng)膜下腔,顱骨鉆孔后透過(guò)硬腦膜將中空的顱骨螺栓置于蛛網(wǎng)膜下腔,腦脊液壓力可以通過(guò)螺栓傳遞到壓力換能器進(jìn)行測(cè)壓 此方法操作簡(jiǎn)便,對(duì)腦組織無(wú)明顯影響 但是感染(gǎnrǎn)概率較大,螺栓容易松動(dòng)、堵塞而影響測(cè)量結(jié)果,第三十四頁(yè),共六十三頁(yè)。,有創(chuàng)ICP監(jiān)測(cè)(jiān c232。)—硬膜下/硬膜外,硬膜下:在開(kāi)顱手術(shù)時(shí)置入,但是監(jiān)測(cè)結(jié)果不太可靠,當(dāng)ICP增高時(shí),監(jiān)測(cè)的ICP值往往低于實(shí)際值 硬膜外:將探頭放在硬膜外,該方法(fāngfǎ)不用穿透硬膜,但監(jiān)測(cè)結(jié)果可能不可靠 與腦室內(nèi)監(jiān)測(cè)比較,硬膜下或硬膜外監(jiān)測(cè)具有感染率、癲癇和出血發(fā)生率低,放置時(shí)間長(zhǎng)等優(yōu)點(diǎn),第三十五頁(yè),共六十三頁(yè)。,有創(chuàng)ICP監(jiān)測(cè)(jiān c232。)—神經(jīng)內(nèi)鏡,在內(nèi)鏡工作通道中放置微型傳感器,術(shù)中能夠連續(xù)準(zhǔn)確的監(jiān)測(cè)ICP變化,術(shù)后也可以連續(xù)監(jiān)測(cè) 當(dāng)ICP變化明顯時(shí)其應(yīng)用有所限制,監(jiān)測(cè)效果主要受沖洗、吸引和腦脊液流失等因素(yīn s249。)影響,第三十六頁(yè),共六十三頁(yè)。,有創(chuàng)ICP監(jiān)測(cè)(jiān c232。)—有創(chuàng)腦電阻抗(CEI),CEI是近20年發(fā)展起來(lái)的一種新技術(shù) 其原理是利用腦組織不同成分受電信號(hào)刺激后所產(chǎn)生(chǎnshēng)的CEI不同 監(jiān)測(cè)方法分為創(chuàng)傷性和無(wú)創(chuàng)性 CEI能較客觀的反映腦水腫變化,但只能定性反映水分總量及遷移變化,不能定量測(cè)量ICP值,第三十七頁(yè),共六十三頁(yè)。,有創(chuàng)ICP監(jiān)測(cè)(jiān c232。)—總結(jié),腦室內(nèi)監(jiān)測(cè)ICP方法(fāng
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