spc統(tǒng)計過程控制及cpk分析(ppt53頁)(編輯修改稿)
2025-03-10 01:30 本頁面
【文章內(nèi)容簡介】 1:(2/3A)3點 中有 2點 在 A區(qū) 或 A區(qū) 以外判 定 準(zhǔn)則 2: (4/5B)5點 中有 4點 在 B區(qū) 或 B區(qū) 以外ABCCBAUCLLCLABCCBAUCLLCL判 定 準(zhǔn)則 3:(6連 串 )連續(xù) 6點持續(xù) 地上升或下降判 定 準(zhǔn)則 4: (8缺 C)有 8點 在中心 線 的 兩側(cè) ,但 C區(qū) 并 無點 子發(fā)生的概率 %ABCCBAUCLLCLABCCBAUCLLCL判 定 準(zhǔn)則 5: (7單側(cè) )連續(xù) 7點 在 C區(qū) 或 C區(qū) 以外判 定 準(zhǔn)則 6: (14升降 )連續(xù) 14點 交互 著 一升一降A(chǔ)BCCBAUCLLCLABCCBAUCLLCL判 定 準(zhǔn)則 7: (15C)連續(xù) 15點 在中心 線 上下 兩側(cè) 的 C區(qū)判 定 準(zhǔn)則 8: (1界外 )有 1點 在 A區(qū) 以外?制程名稱 ?繞線 ?項目 ?M4/M5?提花組件 ?質(zhì)量特性 ?電阻 ?日期 ?2023年 11月 10日?設(shè)備編號 ?141224003 ?物料名稱 ?電磁閥線圈 ?制作 ? ?審核 ? ?控制規(guī)格尺寸?尺寸規(guī)格 ?610 ?規(guī)格下限 ? ?規(guī)格上限 ? ?控制限 ?UCLx?62?AVERx?76 ?LCLx?90?下公差限 ??規(guī)格中線 ??上公差限 ? ?UCLr?0?AVERr?0 ?LCLr ?控制準(zhǔn)確度控制精確度電磁閥線圈電阻管制圖SPC實施流程識別關(guān)鍵過程確定過程關(guān)鍵特性制定過程控制計劃和規(guī)格標(biāo)準(zhǔn)過程數(shù)據(jù)的收集、整理過程受控狀態(tài)初始分析過程能力分析控制圖監(jiān)控監(jiān)控、診斷、改進(jìn)?一些過程對產(chǎn)品品質(zhì)好壞起至關(guān)重要的作用，這樣的過程稱為 關(guān)鍵過程?找出對產(chǎn)品質(zhì)量影響最大的 過程 變量 、 特性?采用 分析用控制圖 分析過程是否受控和穩(wěn)定，如果發(fā)現(xiàn)不受控 ， 有 導(dǎo)致 變差的 特殊原因 ，應(yīng)采取措施。?只有過程是受控、穩(wěn)定的，才有必要分析過程能力 CPK，當(dāng)發(fā)現(xiàn) 過程能力不足時，應(yīng)采取措施。?根據(jù)過程的異常發(fā)生的頻率，生產(chǎn)速度，采取合適的抽樣間隔?對于受控和穩(wěn)定的過程，也要不斷改進(jìn)，減小變差的普通原因?制定檢查的方法、標(biāo)準(zhǔn)，異常的處理流程、方法?依控制圖判異的 8個原則控制圖的兩個階段分析階段?收集 數(shù)據(jù) ?繪圖 及 計 算?控制限 ?是否 異 常 ?延伸控制限N?找出 異 常 點 原因?并 提出相 應(yīng) 措施?制 程有 變 化?人 機(jī) 料法 環(huán)測 量Y管制階段?偶因和 異 因 并 存 ?找出 異 因?只剩偶因運 用控制 圖?過 程 穩(wěn) 定?計 算 CPK消除異常原因準(zhǔn)確 度準(zhǔn)確度準(zhǔn)確度規(guī)格中心值 (M)實際平均值偏移TL TU準(zhǔn)確度反應(yīng)過程偏離規(guī)格中心的程度，偏離規(guī)格中心越大，越可能發(fā)生超差精確度 雙邊規(guī)格精確 度規(guī)格上限規(guī)格下限精確度 單邊規(guī)格舉例：吸力值規(guī)格 ≥ 110N舉例：噪音 ≤40dB響應(yīng)時間 ≤300ms精確度精確度反應(yīng)過程波動變異的程度，變異越大，越可能發(fā)生超差? 雙邊對稱規(guī)格：? 雙邊不對稱規(guī)格 :? 單邊規(guī)格 :以 Cp來表示制程能力綜合指數(shù)（ 短期過程能力） CPK單邊規(guī)格上限單邊規(guī)格下限CPK=注意：組合標(biāo)準(zhǔn)偏差 δ =子集中由各偏差的平均值 計算出來的數(shù)值集中趨勢偏離上限的程度，或者說中心值與上限之間能容納多少 δ，相當(dāng)于幾個 δ，與 3δ比較得到 δ的倍數(shù)制程性能指數(shù)（長期過程能力） PPK注意：全標(biāo)準(zhǔn)偏差 =以全部數(shù)據(jù) 為基準(zhǔn)計算出來的數(shù)值?Cpk和 Ppk的最大區(qū)別是是否考慮了組間變異 ,如果只考慮組內(nèi)變異則為 Cpk；如果考慮組間變異則為 Ppk；正常情況下 Ppk應(yīng)該小于 CpkCPK考慮組內(nèi)變異，而 PPK考慮組間變異?CPK用到的數(shù)字是每一組數(shù)據(jù)的最大值和最小值， PPK是涉及到所有數(shù)字，舉個例子（在這里要說樓主的取樣有問題，不是一個件測 5次，一般來說是一天或一班測 5件，連續(xù)測同一件的是在考核量具 RR時用到）假設(shè)是每天抽 5件，抽了 25天，125=25*5，其實 CPK就用到 40%的數(shù)據(jù)其他的數(shù)據(jù)都沒有用到，而 PPK是所有的都關(guān)注到。?從公式中可以看到 CPK由于用到的僅僅是每天的最大值和最小值，其關(guān)注點在于一天內(nèi)的波動?CPK與 PPK區(qū)別計量型制程能力分析情形一、 一般的正態(tài)分布使用CapabilityAnalysis(Normal)情形二、 如果是 正態(tài)分布 且其組內(nèi)和組間差異較大時可用CapabilityAnalysis(Between/Within )情形三、 當(dāng) 非正態(tài)分布時 則可以使用CapabilityAnalysis(Weibull )等級 CPK(推定不良率 ) 規(guī)格于分布狀況 判斷基準(zhǔn)4級 Cp(%以上 ) 過程 能力很不足3級 ≦ Cp(%~%) 過程 能力不足2級 ≦ Cp(60ppm~%) 量產(chǎn)中的最低 過程 水平1級 ≦ Cp(~60ppm) 有充分的 過程 能力特級 ≦ Cp( ) 可以考慮簡化管理?SL?SU?4 ??6 ??8 ?
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