【文章內(nèi)容簡(jiǎn)介】 不合格數(shù) (缺陷數(shù) )圖 C 圖 單位產(chǎn)品不合格數(shù)圖 (單位缺陷數(shù)圖 ) U圖 控制圖的選用程序 否 否 是 是 是 否 否 是 是 否 否 是 否 是 不是 是 否 是 注：本圖假設(shè)測(cè)量系統(tǒng)已經(jīng)過(guò)評(píng)價(jià) 確定要制定控制圖的特性 是計(jì)量型數(shù)據(jù)嗎？ 性質(zhì)是否是均勻或不能按子組取樣，例如：化學(xué)槽液、批量油漆等 使用 XRs 圖 關(guān)心的是不 合格率，即 [壞 ]零件的百分比嗎？ 樣本容量是否恒定？ 子組均值是否能方便計(jì)算？ 子組容量是否大于或等于9？ 使用 nP 圖或 P 圖 使用 P 圖 使用 XR 圖 使用 XR 圖 使用 XR 圖 關(guān)心的是不合格品數(shù) ,即單位零件不合格數(shù)嗎 ? 樣本容量是否恒定 ? 使用 C 或 U圖 使用U圖 是否能方便計(jì)算子組的 S 值 13 并且是適用的 三、計(jì)量型數(shù)據(jù)控制圖 1． 均值和極差圖 （ X R 圖） 在使用 X R 圖前，必須做的準(zhǔn)備： ? 建立適合于實(shí)施的環(huán)境：沒(méi)有一個(gè)可靠環(huán)境，任何統(tǒng)計(jì)方法都會(huì)失效。管理者必須提供資源（人力 和物力）支持改進(jìn)措施。 ? 定義過(guò)程：應(yīng)根據(jù)有反饋的過(guò)程控制系統(tǒng)來(lái)理解過(guò)程。 ? 確定作圖的（待管理）特性： ? 顧客的需求（顧客呼聲，過(guò)程何處需改進(jìn)）； ? 當(dāng)前的潛在問(wèn)題區(qū)域（考慮存在的浪費(fèi)或低效能的證據(jù)，如：廢品、返工、過(guò)多加班、與目標(biāo)值不符、以及風(fēng)險(xiǎn)區(qū)域）； ? 特性間關(guān)系，如：該特性難測(cè)量（如：體積），可選一個(gè)相關(guān)的易測(cè)量的特性（如：重量），一個(gè)項(xiàng)目的幾個(gè)單獨(dú)特性，如有相同變化趨勢(shì)，可能用一個(gè)特性來(lái)畫(huà)圖就足夠了。 ? 定義測(cè)量系統(tǒng)：測(cè)量設(shè)備本身的準(zhǔn)確性和精密性，必須是可預(yù)測(cè)的。 ? 使不必要的變差最小化：在開(kāi)始研究應(yīng)消除不必 要的變差外部原因，避免過(guò)度調(diào)整或過(guò)度控制，過(guò)程記錄表上記錄所有相關(guān)事件，如：刀具更換，新的原材料批次， 如何使用均值和極差圖（ X R 圖） ： ? 收集數(shù)據(jù) ? 計(jì)算控制限 ? 過(guò)程控制解釋 ? 過(guò)程能力解釋 A 收集數(shù)據(jù) 選擇子組大小、頻率和數(shù)據(jù) a. 子組大?。捍_定“合理子組”，子組變差代表短時(shí)間內(nèi)零件間的變差。 在過(guò)程初期研究時(shí)，子組一般選 45 件，且僅代表單一刀具、沖頭、模槽（型腔）等生產(chǎn)出的零件（即一個(gè)單一的過(guò)程流）。 對(duì)于所有的子組樣本容量應(yīng)保持不變。 b. 子組頻率：在初始過(guò)程研究時(shí)，通常是連續(xù)進(jìn)行分組 或子組間間隔時(shí)間很短。 當(dāng)證明過(guò)程穩(wěn)定受控后，可增加子組間的時(shí)間間隔（如每班兩次或每小時(shí)一次等）。 c. 子組數(shù)的大小：一般情況下，零件總數(shù)不少于 100 件，子組不少于 25 組。 建立控制圖及記錄原始數(shù)據(jù) 使用 XS 圖 14 X R 圖通常由 X 圖和 R 圖組成，上方為 X 圖，下方為 R 圖，最下方有一個(gè)數(shù)據(jù)欄。 X 和 R 值為縱坐標(biāo)，按時(shí)間順序的子組為橫坐標(biāo)。 計(jì)算每個(gè)子組的均值（ X）和極差（ R） X= X1+X2+? +Xn 式中 X X2?為子組內(nèi)每個(gè)測(cè)量值 n n 為子組的樣本容量 R=XMAXXMIN 選擇控制圖刻度 對(duì)于 X 圖，縱坐標(biāo)上的刻度值的最大值與最小值之差至少為子組均（ X）的最大值與最小值差的 2 倍。 對(duì)于 R 圖，縱坐標(biāo)刻度應(yīng)從最低值 0 開(kāi)始到最大值之間的差值，為初始階段所遇到的最大極差（ R）的 2 倍。 將均值和極差畫(huà)到控制圖上。 注意：初始研究時(shí)，生產(chǎn)現(xiàn)場(chǎng)控制圖尚未計(jì)算控制限（因無(wú)足夠的數(shù)據(jù)），此時(shí)在初期操作的控制圖上應(yīng)清楚地標(biāo)明“初始研究”字樣。 B. 計(jì)算控制限 計(jì)算過(guò)程均值（ X）和平均極差（ R） X= X1+ X2+? +Xn 式中： K 為子組的數(shù)量 k X1 和 R1 為第一個(gè)子組的均值和極差，以此類(lèi)推。 R= R1+R2+? +Rk k 計(jì)算控制限 極差的上控制限 UCLR=D4 R 極差的下控制限 LCLR=D3 R 均值的上控制限 UCLX = X+A2 R 均值的下控制限 LCL X = XA2 R 式中： D D A2 為常數(shù)，隨樣本容量的大小而變化，可查表得到。 當(dāng) n＜ 7 時(shí)，極差無(wú)下控制限。 在控制圖上畫(huà)出均值和極差的上、下控制限的控制線（虛線）。 C、過(guò)程控制解釋 分析極差圖上的數(shù)據(jù)點(diǎn) 一個(gè)或多個(gè)點(diǎn)超出 UCLR 線時(shí) : — 控制限計(jì)算錯(cuò)誤或描點(diǎn)描錯(cuò)； — 零件間變化性或分布寬度已增大 (即變壞 )，立即識(shí)別特殊原因； — 測(cè)量系統(tǒng)變化 (如 :不同的檢驗(yàn)員或量具 )； 15 — 測(cè)量系統(tǒng)沒(méi)有適當(dāng)?shù)姆洲q力。 有一點(diǎn)位于 LCLR 線以下時(shí) (當(dāng) n≥ 7 時(shí) )： — 控制限計(jì)算錯(cuò)誤或描點(diǎn)錯(cuò)誤； — 分布寬度變小（即變好）； — 測(cè)量系統(tǒng)已改變（包括數(shù)據(jù)編輯或偽造）。 連續(xù) 7 點(diǎn)位于平均值的上側(cè)或連續(xù) 7 點(diǎn)上升，說(shuō)明離散度在增大（即變壞） — 輸出值的分布寬度增加，其原因可能是無(wú)規(guī)律的（如：設(shè)備工作不正?；蚬潭ㄋ蓜?dòng)）或是由于過(guò)程中的某個(gè)要素變化（如：使用新的不是很一致的原材料），需要糾正。 — 測(cè)量系統(tǒng)改變（如：新的檢驗(yàn)員或量具） 出現(xiàn)低于平均極差的鏈或下降鏈時(shí)： — 輸出值分布寬度在減少（即變好）要保持下去； — 測(cè)量系統(tǒng)改變，不能反映過(guò)程真實(shí)性能的變化。 明顯的非隨機(jī)圖形 驗(yàn)證子組內(nèi)數(shù)據(jù)點(diǎn)總體分布的準(zhǔn)則： 一般，大約 2/3 的點(diǎn)應(yīng)落在控制限的中間 1/3 的區(qū)域內(nèi)， 大約 1/3 的點(diǎn)落在其外的 2/3 區(qū)域內(nèi) 識(shí)別并標(biāo)注特殊原因 (極差圖 ) 對(duì)于極差數(shù)據(jù)內(nèi)每個(gè)特殊原因應(yīng)在控制圖上進(jìn)行標(biāo)注、分析，采取措施解決。 重新計(jì)算控制限（極差圖） 在進(jìn)行初次過(guò)程研究或重新評(píng)定過(guò)程能力時(shí)，失控的原因已被識(shí)別和消除或制度化，此時(shí)可重新計(jì)算控制限。 由于出現(xiàn)特殊原因而從 R 圖中去掉的子組 ,也應(yīng)從 X 圖中去掉。重新計(jì)算的 R 和X 值可用于重新計(jì)算極差和均值的控制限。 分析均值圖上的數(shù)據(jù)點(diǎn) 超出控制限 UCLX或 LCLX時(shí)： 出現(xiàn)一點(diǎn)或多點(diǎn)超出 UCLX或 LCLX時(shí)，證明這點(diǎn)出現(xiàn)特殊原因，要分析： — 控制限計(jì)算錯(cuò)誤或描點(diǎn)錯(cuò)誤； — 過(guò)程已改變（可能是一件獨(dú)立事件）或是一種趨勢(shì)的一部分； — 測(cè)量系統(tǒng)發(fā)生改變（如：不同量具或檢驗(yàn)員）。 連續(xù) 7 點(diǎn)在平均值一側(cè)，連續(xù) 7 點(diǎn)上升或下降，證明過(guò)程已開(kāi)始變化或有變化的趨勢(shì)，要識(shí)別原因： — 過(guò)程平均值已改變，也許還在變化； — 測(cè)量系統(tǒng)已改變（不穩(wěn)定、偏奇、靈敏度等）。 16 明顯非隨機(jī)圖