質(zhì)量管理第10講過程能力(編輯修改稿)
2025-02-09 03:11 本頁面
【文章內(nèi)容簡介】 (μT)2? σst = n l Σ Σ(xij xj)2 j=1 l i=1 m1? σlt = n l Σ Σ(xij x)2 j=1 l i=1 m1 =? l = sample number? m = sample size? n = l * m過程能力指數(shù)的種類2023/3/16 星期二 27過程能力指數(shù) Cpn 作為沒有偏移時(shí)使用的過程能力指數(shù)，是第 1代過程能力指數(shù)。n 跟分布中心位置無關(guān)，只表示過程散布和規(guī)格幅度的關(guān)系 (即不考慮過程的平均 )28Cp = 公差散布 設(shè)計(jì)能力過程能力== TuTl6σμ = TTl Tu●1σ Z = Tu Tσ3σ 3σ過程變動(dòng)幅度設(shè)計(jì)容許公差過程能力指數(shù) (Cp) 設(shè)計(jì)許用范圍 (Design Tolerance)生產(chǎn)能力 (Product Capability)Cp = 兩測規(guī)格兩測規(guī)格(圖圖 ①① )Tu μ3σCp = 一側(cè)規(guī)格一側(cè)規(guī)格 μ Tl3σCp = 只管理規(guī)格上限只管理規(guī)格上限(圖圖 ②② )只管理規(guī)格下限只管理規(guī)格下限(圖圖 ③③ )Tu中心值Tl Tu中心值 Tl 中心值① ② ③設(shè)計(jì)容許范圍 設(shè)計(jì)容許范圍 設(shè)計(jì)容許范圍 =Tu Tl6σCp= 2Cpu+CplTl Tu①②③① : Cp值大于 2，表示過程能力充分好，不合格率接近 0。? : Cp = 1 意為 TuTl= 6σ, 這時(shí)脫離規(guī)格的產(chǎn)品占 所有產(chǎn)品的 %。③ : Cp值比 1小，是過程能力不充分的情況。6σ6σ6σ過程能力的范圍Cp ≥ ≥ Cp ≥ ≥ Cp ≥ ≥ Cp工 程 能 力過程狀態(tài)很好，維持現(xiàn)水平提高生產(chǎn)性勉強(qiáng)符合現(xiàn)在的規(guī)格 ,要努力提高 Cp (A等級(jí) )過程能力差(1) 有更適切的能力的過程 (機(jī)器 ,設(shè)備等 )下 進(jìn)行作業(yè) .(2) 為了提高現(xiàn)過程的能力投資(3) 現(xiàn)使用的規(guī)格在檢討或者調(diào)整(4) 想特別的管理及加工方法，為了提高過程 能力而努力設(shè)計(jì)容許范圍 如何通過 Cp值判定過程能力 ≤ Cp≤Cp ≤X≤Cp ≤≤Cp ≤Cp≤過程能力充分過程能力滿足勉強(qiáng)滿足過程能力過程能力差過程能力很差考慮管理的簡單化或者 COST節(jié)省法理想狀態(tài)維持 ,管理考慮TIGHT的管理過程管理時(shí)注意不合格品發(fā)生中 ,有必要全部檢查及過程改善不能滿足質(zhì)量 ,過程大幅度改善 ,有必要緊急對策LSL USL2023/3/16 星期二 32過程能力指數(shù) Cpkn 有偏移時(shí)使用的過程能力指數(shù)，為第 2代過程能力指數(shù)。n 質(zhì)量特性值的分布不在兩測規(guī)格中心，而是偏在一邊時(shí)，考慮偏移的程度的過程能力指數(shù) (即 , 考慮過程的平均 )。Tu μ3σCpk = Tu μ3σCpu = μ Tl3σCpl = 只管理規(guī)格上限只管理規(guī)格下限(1 K) Cp = Min (Cpu , Cpl) = Min ( μ Tl3σ, )｜ M μ｜T / 2K = Tu+Tl2M = TuTlT = ,※ K ≥ 1的狀態(tài)，偏移太大一般不會(huì)發(fā)生有偏移的過程能力指數(shù) Cpk只有一邊有規(guī)格時(shí)，與過程能力指數(shù) Cp相同。如果 K = 0(偏移度為 0)，沒有偏移度因此 Cpk = Cp兩側(cè)規(guī)格兩側(cè)規(guī)格偏移度偏移度一側(cè)規(guī)格一側(cè)規(guī)格過程能力指數(shù) CpkTuMTl TuM Tl
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