質(zhì)量分析常用工具培訓(xùn)教材(編輯修改稿)
2025-02-09 02:39 本頁(yè)面
【文章內(nèi)容簡(jiǎn)介】 、降低成本和增加生產(chǎn)能力。 ?？刂茍D可用以區(qū)分質(zhì)量的偶然波動(dòng)與異 常波動(dòng)，從而使操作者減少不必要的過(guò)程調(diào)整。 ?？刂茍D可以提供重要的過(guò)程參數(shù)數(shù)據(jù) 以及它們的時(shí)間穩(wěn)定性，這些對(duì)于產(chǎn)品設(shè)計(jì)和過(guò)程設(shè)計(jì)都是十分 重要的。 控制圖 控制圖原理 任何一個(gè)生產(chǎn)過(guò)程，不論它是如何精確設(shè)計(jì)和精心維護(hù)，總存在 著一定量的固有的或自然的變化。它是由許多偶然因素形成的偶 然波動(dòng)的累積效果。由于這種波動(dòng)比較小，所以我們認(rèn)為這時(shí)生 產(chǎn)過(guò)程處于受控狀態(tài)或稱為穩(wěn)態(tài)。 此外，在生產(chǎn)過(guò)程中有時(shí)也發(fā)生由異常因素造成的異常波動(dòng)。 如：由于設(shè)備調(diào)整不當(dāng)、人為差錯(cuò)或原材料的缺陷而導(dǎo)致的質(zhì)量 波動(dòng)。與偶然波動(dòng)相比這種異常變化要大得多，而且往往表現(xiàn)一 定的趨勢(shì)和規(guī)律，此時(shí)，我們認(rèn)為生產(chǎn)過(guò)程處于失控狀態(tài)。 受控狀態(tài)是生產(chǎn)過(guò)程追求的目標(biāo)，此時(shí)，對(duì)產(chǎn)品的質(zhì)量是有把握 的。控制圖即是用來(lái)監(jiān)測(cè)生產(chǎn)過(guò)程狀態(tài)的一種有效工具。 控制圖 令Ｗ為度量某個(gè)質(zhì)量特性的統(tǒng)計(jì)樣本。假定Ｗ的均值為 ,而Ｗ的標(biāo)準(zhǔn) 差為。于是，中心線、上控制限和下控制限分別為 式中，Ｋ為中心線與控制界限之間的用標(biāo)準(zhǔn)差為單位所表示的間隔 寬度。圖說(shuō)明了控制圖的控制原理。對(duì)于每一個(gè)控制點(diǎn)來(lái)講，只要 點(diǎn)子是在控制界限之間，我們就認(rèn)為過(guò)程處于控制狀態(tài)，不需要任 何措施；但如果點(diǎn)子落在控制界限之外，就認(rèn)為過(guò)程失控，必須找 出異常因素。采取措施加以消除。 正常情況下點(diǎn)子分布是正態(tài)的，落在控制界限之內(nèi)的概率遠(yuǎn)大于落 在控制界限之外的概率。反之，若點(diǎn)子落在控制界限之外，可能是 屬于正常情況下的小概率事件發(fā)生，也可能是過(guò)程異常發(fā)生，相對(duì) 來(lái)講，后者發(fā)生的概率要大得多。因此，我們寧可以為后者情況發(fā) 生，這正是控制圖的統(tǒng)計(jì)學(xué)原理。 UCL=X+A2R CL=D4R LCL=D3R 控制圖 點(diǎn)子落在控制界限之內(nèi)是否一定處于穩(wěn)態(tài)？點(diǎn)子落在控制界線之外 是否一定出現(xiàn)異常？這兩個(gè)問(wèn)題的因答都是否定的。 更為科學(xué)的判斷應(yīng)根據(jù)概率統(tǒng)計(jì)方法對(duì)過(guò)程進(jìn)行定量分析，精確計(jì) 算出狀態(tài)的概率值之后再進(jìn)行過(guò)程狀態(tài)判斷。 以 K取 3為例 (上、下界限距中心線距離為 3倍的標(biāo)準(zhǔn)差 )可計(jì)算出各 種模式控制圖的概率值，如表 1所示。 控制圖 ：計(jì)量值控制圖、計(jì)件值控制圖 和計(jì)點(diǎn)值控制圖。這些控制圖各有各的用途，應(yīng)根據(jù)所控制質(zhì)量指 標(biāo)的情況和數(shù)據(jù)性質(zhì)分別加以選擇。 數(shù)據(jù)類型 計(jì)量值 均值 極差控制圖 XR 控制圖 均值 標(biāo)準(zhǔn)差控制圖 XS 控制圖 中位數(shù) 極差控制圖 XR 控制圖 單值 移動(dòng)極差控制圖 XRS 控制圖 計(jì)件值 不合格品率控制圖 P 控制圖 不合格品數(shù)控制圖 Pn 控制圖 計(jì)點(diǎn)值 缺陷數(shù)控制圖 C 控制圖 單位缺陷數(shù)控制圖 u 控制圖 控制圖 ： 1.)XR控制圖。是最常用、最基本的控制圖，它用于控制對(duì)象為長(zhǎng) 度、重量、強(qiáng)度、純度、時(shí)間和生產(chǎn)量等計(jì)量值的場(chǎng)合。 2.)XS控制圖。此圖與 XR圖相似，只是用標(biāo)準(zhǔn)差圖 (S圖 )代替極 差圖 (R圖 )而已。極差計(jì)算簡(jiǎn)便，故 R圖得到廣泛應(yīng)用，但當(dāng)樣 本大小 n10或 12時(shí)，應(yīng)用極差估計(jì)總體標(biāo)準(zhǔn)差的效率減低，最 好應(yīng)用 S圖代替 R圖。 3).XR控制圖 .此圖與 XR圖也很相似 ,只是用中位數(shù)圖 (圖）代替 均值圖（圖）。由于中位數(shù)的計(jì)算比均值簡(jiǎn)單，所以多用于現(xiàn) 場(chǎng)需要把測(cè)定數(shù)據(jù)直接記入控制圖進(jìn)行管理的場(chǎng)合。 4).XRS 控制圖。多用于下列場(chǎng)合： (1)采用自動(dòng)化檢查和測(cè)量對(duì) 每一個(gè)產(chǎn)品都進(jìn)行檢驗(yàn)的場(chǎng)合； (2)取樣費(fèi)時(shí)、昂貴的場(chǎng)合； (3) 如化工等過(guò)程，樣品均勻，多抽樣也無(wú)太大意義的場(chǎng)合。由于它 不像前三種控制圖那樣能取得較多的信息，所以它判斷過(guò)程變化 的靈敏度也要差一些。 5).P控制圖。用于控制對(duì)象為不合格品率或合格品率等計(jì)數(shù)值質(zhì)量 指標(biāo)的場(chǎng)合。這里需要注意的是，在根據(jù)多種檢查項(xiàng)目總起來(lái) 確定不合格品率的場(chǎng)合，當(dāng)控制圖顯示異常后難于找出異常的 原因。因此，使用 P圖時(shí)應(yīng)選擇重要的檢查項(xiàng)目作為判斷不合格 品的依據(jù)。 控制圖 6) Pn控制圖。用于控制對(duì)象為不合格品數(shù)的場(chǎng)合。設(shè) n為樣 本大小， P為不合格品率，則 Pn為不合格品個(gè)數(shù)，所以取 Pn為不合格品數(shù)控制圖的簡(jiǎn)記記號(hào)。由于計(jì)算不合格品 率需要進(jìn)行除法，比較麻煩。所以在樣本大小相同的情 況下，用此圖比較方便。 7) c控制圖。用于控制一部機(jī)器、一個(gè)部件、一定的長(zhǎng)度、 一定的面積或任何一定的單位中所出現(xiàn)的缺陷數(shù)目。例 如，鑄件上的砂眼數(shù)，機(jī)器設(shè)備的故障數(shù)等等。 8).u控制圖。當(dāng)樣品的大小變化時(shí)應(yīng)換算
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