統(tǒng)計學基礎與spc推行的具體步驟(編輯修改稿)
2025-02-09 01:57 本頁面
【文章內(nèi)容簡介】 統(tǒng)計假設檢驗的圖上作業(yè)法。 ? 第二種解釋：第二種解釋： “要抱西瓜，不要抓芝麻要抱西瓜，不要抓芝麻 ”質(zhì)量波動的原因 =必然因素 +偶然因素（異常因素）– 必然因素 —— 始終存在，對質(zhì)量影響微小，難以消除，是不可避免的；– 偶然因素 —— 有時存在，對質(zhì)量影響很大，不難消除，是可以避免的。? 休哈特控制圖的實質(zhì)就是區(qū)分必然因素與偶然因素的。控制限就是區(qū)分必然波動與偶然波動的科學界限。第二章 控制圖原理（七）? (3)、預防原則– 26字真經(jīng) 點出界就判異點出界就判異，查出異因，查出異因，采取措施，保采取措施，保證消除，不再證消除，不再出現(xiàn)，納入標出現(xiàn)，納入標準。準。第二章 控制圖原理（八）? (4)、使用控制圖應考慮的問題– a、控制圖用于何處？– b、如何選擇控制對象？– c、怎樣選擇控制圖？– d、如何分析控制圖？– e、點出界或違反其他準則的處理。– f、控制圖的重新制定。– g、控制圖的保管問題。第四章 質(zhì)量診斷理論（五）? 過程能力指數(shù)的定義a、過程能力過程的加工質(zhì)量滿足技術標準的能力，是衡量加工內(nèi)在一致性的標準，決定于質(zhì)量因素人、機、料、環(huán)、法，與公差無關。穩(wěn)態(tài)時， %的產(chǎn)品落在 (181。3， 181。+3)范圍 內(nèi)，因此將過程能力 PC定義為： PC=6?b、生產(chǎn)能力加工數(shù)量方面的能力。 c、 過程能力指數(shù) Cp過程能力滿足產(chǎn)品技術標準（產(chǎn)品規(guī)格、公差）的程度 。第四章 質(zhì)量診斷理論（六）? 雙側規(guī)格情況的過程能力指數(shù)T–技術規(guī)格的公差幅度；TU、 TL–規(guī)格上、下限；?總體標準差、 s樣本標準差Cp=T/6?=（ TU–TL） /6?=（ TU–TL） /6s當 T=6?， Cp=1， 這時候既滿足技術要求又很經(jīng)濟。第四章 質(zhì)量診斷理論（七）? 過程能力指數(shù)的評價標準第四章 質(zhì)量診斷理論（八）? 有偏移情況的過程能力指數(shù)定義分布中心 ?與公差中心 M的偏移為： ?=|M?|，與 M的偏移度 K為： K=?/（ T/2） =2?/T，Cpk=（ 1K） Cp=（ 1K)*T/6??（ 1K)*T/6s 本軟件包括質(zhì)量管理常用的統(tǒng)計工具：SPC控制圖1. 均值極差控制圖2. 均值標準差控制圖3. 中位數(shù)極差控制圖4. 移動極差控制圖 二 . 直方圖三 . 排列圖四 . 散布圖五 . 波動 圖六 . 過程能力指數(shù)每一種類型的控制圖又有兩種不同的情形：標準值 為規(guī)定的要求或目標值標準值給定控制圖 為 控制 用控制圖標準值 未 給定控制圖 為 分析 用控制圖1. 常規(guī)控制圖的類型常規(guī)控制圖主要有兩種類型：計量控制圖 計數(shù)控制圖標準值未給定 標準值給定GB/T 40912023 常規(guī)控制圖2. 計量控制圖和計數(shù)控制圖的類型計量值控制圖 平均值（ ）圖與極差（ R）或標準差（ s）圖；單值（ X）圖與移動極差（ R）圖中位數(shù)（ Me）圖與極差（ R）圖以上控制圖適用于計量值，如長度、重量、時間、強度等質(zhì)量特性值的分析和控制。計數(shù)值控制圖 不合格品率（ p）圖或不合格品數(shù)（ np）圖不合格數(shù)（ c）圖或單位產(chǎn)品不合格數(shù)（ u）圖以上控制圖適用計數(shù)值，指 1， 2， 3….. ，如 :不合格品數(shù)、缺陷數(shù)及事故的件數(shù)。3. 基本概念 n 子組大小。單個子組中子組觀測值的個數(shù)k 子組數(shù)X 質(zhì)量特性的觀測值（可用 X1， X2， X3… 表示單個觀測值） 子組平均值的平均值nkX1 X2 X3 X4 X5如 2 3 4 5 6 4 4 4 4 4Me 子組中位數(shù)。對于一組升序或降序排列的 n個子組觀測值 X1， X2， … Xn，當 n為奇數(shù)時，中位數(shù)等于該組數(shù)中間的那個數(shù)；當 n為偶數(shù)時，中位數(shù)等于該組數(shù)中間兩個數(shù)的平均值子組中位數(shù)的平均值 , ,, , ：n ＝ 5 為奇數(shù)Me＝ 數(shù)據(jù)為 , , , , 時 n ＝ 4 為偶數(shù)R 子組極差。子組觀測值中的極大值與極小值之差R=XmaxXmi
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