醫(yī)用數(shù)字化x射線診斷設(shè)備質(zhì)量控制檢測(編輯修改稿)
2025-02-07 22:08 本頁面
【文章內(nèi)容簡介】 圖像傳感器，沒有攝像管，不用電子束掃描； ? 二是 CCD輸出的視頻信號中也有圖像信息、復(fù)位電平和干擾脈沖，它是一個(gè)電壓信號，而不象攝像管輸出的高阻電流信號。 目前國內(nèi) 主 要 CCDDR探測器技術(shù)參數(shù)說明 探測器 KeenrayCCDDR探測器， 深圳藍(lán)韻研制 XDS3000探測器 萬東研制 IDC 4K/3KCCD探測器 IDC研制 類型 針狀碘化銫 +非晶硅 硫氧化釓 +非晶硅 4K：針狀碘化銫 +非晶硅 3K：硫氧化釓 +非晶硅 影像尺寸 17″ 17″ 17″ 17″ 17″ 17″ 像素矩陣 4096 4096， 1680萬像素 3072 3072， 940萬 4K： 4096 4096， 1680萬像素 3K： 3072 3072， 940萬 像素尺寸 108um 143um 108um 極限空間分辨率 4K： 3K： 密度分辨率 65536灰階 16384灰階 16384灰階 動(dòng)態(tài)范圍 采集： 16比特 輸出： 16比特 采集： 12比特 輸出： 14比特 采集： 14比特 輸出： 14比特 圖像采集時(shí)間 6s 8s 8s 三、質(zhì)量控制 設(shè)備質(zhì)量控制檢測的分類 驗(yàn)收檢測： X射線診斷設(shè)備這裝完畢或重大維修后，為鑒定其性能指標(biāo)是否符合約定值需進(jìn)行的質(zhì)量控制檢測。 狀態(tài)檢測： 在運(yùn)行中的設(shè)備，為評價(jià)其性能指標(biāo)是否符合要求而定期進(jìn)行的質(zhì)量控制檢測。 穩(wěn)定性檢測： 為確定 X射線設(shè)備或在給定條件下獲得的數(shù)值相對于一個(gè)初始狀態(tài)的變化是否符合控制標(biāo)準(zhǔn)而進(jìn)行的質(zhì)量控制檢測。 檢測及評價(jià)標(biāo)準(zhǔn) ? 《 醫(yī)用常規(guī) X射線診斷設(shè)備質(zhì)量控制檢測規(guī)范 》（ WS762023） ? 《 醫(yī)用數(shù)字 X射線攝影（ DR）系統(tǒng)質(zhì)量控制檢測規(guī)范 》（ WS5212023） ——20231001實(shí)施 《 醫(yī)用常規(guī) X射線診斷設(shè)備質(zhì)量控制檢測規(guī)范 》 ——替代 WS762023 WS762023的適用范圍 ? 本標(biāo)準(zhǔn)適用于醫(yī)用常規(guī) X射線診斷設(shè)備的質(zhì)量控制檢測，包括傳統(tǒng)屏片 X射線攝影設(shè)備、 X射線透視設(shè)備。數(shù)字 X射線攝影（ DR）通用性能指標(biāo)部分、介入放射學(xué)設(shè)備、移動(dòng)式 X射線攝影設(shè)備和便攜式 X射線設(shè)備可參照使用。 ? 不適用生產(chǎn)過程的質(zhì)量控制檢測。 常規(guī) X射線攝影設(shè)備的檢測項(xiàng)目與技術(shù)要求 常規(guī) X射線攝影設(shè)備的檢測項(xiàng)目與技術(shù)要求（續(xù)表） WS5212023 中對通用項(xiàng)目的要求 DR系統(tǒng)的通用檢測項(xiàng)目具體檢測方法 ? 管電壓 ? 輸出量重復(fù)性 ? 有用線束半值層 ? 曝光時(shí)間 X射線管電壓指示的偏離 ? 檢測方法：驗(yàn)收檢測時(shí)，在允許最大 X射線管電流的50%或多一些，加載時(shí)間約為 ，至少應(yīng)進(jìn)行 60kV、 80kV、 100kV 、 120kV或者電壓接近這些值的各檔測量（飛利浦為 79或 81kV） ? 要求： 177。 5kV或者 177。 5%，以較大者控制 輸出量重復(fù)性 ? 檢測方法：將探測器房子檢查床上照射野中心，以 80kV,適當(dāng)?shù)墓茈娏鲿r(shí)間積（ 50mAs）照射 5次，計(jì)算 80kV時(shí)每管電流時(shí)間積的輸出量，建立基線值時(shí)，以此 5次的平均值作為基線值，并以一下公式計(jì)算輸出量的重復(fù)性。輸出量重復(fù)性： 177。 10% 有用線束半值層 ? 檢測方法：分別將不同厚度（ 0mm，1mm~5mm）的鋁吸收片房子檢查床上方50cm（或 1/2SID）處，用同樣的條件進(jìn)行照射，依次測量并記錄空氣比釋動(dòng)能，并求得 80kV的半值層 ? 要求： ≥ 曝光時(shí)間指示偏離 (限驗(yàn)收檢測 ) ? 檢測方法：采用數(shù)字式曝光計(jì)時(shí)儀器測量，重點(diǎn)檢測臨床常用時(shí)間檔 ? 要求： t≥ ， 177。 10%； t＜ ， 177。 2ms或 177。 15% X射線攝影設(shè)備的幾何學(xué)特性 ? 包括： ? （ SID指示的偏離） ? ? （ DR檢測不做要求） 幾何學(xué)特性檢測工具 有用線束垂直度偏離（ SID指示的偏離） ? SID：焦點(diǎn)到影像接收器之間的距離 ? 把 SID檢測筒置于診視床上，使得光野中心、 SID檢測筒中心以及暗盒中心于一垂直線上鎖住全部地位鎖，暗盒托盤全部推進(jìn)去，光野四邊每邊距 SID檢測筒4cm。選用適當(dāng)?shù)恼丈錀l件進(jìn)行照射后沖洗膠片。（曝光條件根據(jù)照射量適當(dāng)調(diào)整） 示意圖 光野與照射野四邊的偏離 光野與照射野四邊的偏離 ? 要求：四邊 177。 1cm，中心 177。 1cm DR系統(tǒng)專用檢測項(xiàng)目 暗噪聲 探測器劑量指示（ D
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