【文章內(nèi)容簡介】 3?nuu 3?若每組樣本的樣本數(shù) n 不固定時 ，則採用 n 代替 n每組的樣本大小 n 必須固定若每組樣本的樣本數(shù) n 不固定時 ，則採用 n 代替 n附 註若所計算出的管制下界小於 0 時 ，管制下界等於 0Rx ? 管制圖 Sx ? 管制圖 MR?x 管制圖計量值管制圖x 管制圖 R 管制圖 x 管制圖 S 管制圖 x 管制圖 MR 管制圖中 心 線 (CL) x R x S x MR管制上界 ( UCL) RAx2? RD4SAx3? SB42MR3dx ? MR4D管制下界 ( LCL) RAx 2? RD3SAx3? SB32MR3dx ? MR3D附 註 A A B B D D d2的大小與每組的樣本數(shù) n 有關(guān)40 控制 圖 之比 較 計量值控制圖 計數(shù)值控制圖 優(yōu)點 ,容易調(diào)查原因 、使品質(zhì)穩(wěn)定 1．所需數(shù)據(jù)可用簡單方法獲得 2．對整體品質(zhì)水準(zhǔn)了解方便 缺點 1．抽樣頻率高、費時 2．?dāng)?shù)據(jù)需測量和計算，使用者需經(jīng)專門訓(xùn)練。 1．無法尋求不良原因 2．及時性不足，易延誤時機(jī) 41 建立控制 圖 建立控制 圖 的四步 驟 A收集數(shù)據(jù) B計算控制限 C過程控制解釋 D過程能力解釋 42 步驟 A Ａ階段收集數(shù)據(jù) A1選擇子組大小、頻率和數(shù)據(jù) 子組大小 子組頻率 子組數(shù)大小 A2建立控制圖及記錄原始記錄 A3計算每個子組的均值 X和極差 R A4選擇控制圖的刻度 A5將均值和極差畫到控制圖上 RX ?43 步驟 B Ｂ計算控制限 B1計算平均極差及過程平均值 B2計算控制限 B3在控制圖上作出平均值和 極差 控制限的控制線 控制圖RX ? kRRRRkxxxxxkk?????????... ..... ..21321全距控制圖平均值控制圖RDLCLRDUCLRCLRAXLCLRAXUCLXCLRRRXXX3422????????全距控制圖平均值控制圖RX ?44 步驟 C Ｃ過程控制解釋 C1分析極差圖上的數(shù)據(jù)點 C2識別并標(biāo)注特殊原因 (極差圖 ) C3重新計算控制界限 (極差圖 ) C4分析均值圖上的數(shù)據(jù)點 超出控 制限的點鏈 明顯的非隨機(jī)圖形 超出控 制限的點鏈 明顯的非隨機(jī)圖形 C5識別并標(biāo)注特殊原因 (均值圖 ) C6重新計算控制界限 (均值圖 ) C7為了繼續(xù)進(jìn)行控制延長控制限 RX ?45 步驟 D Ｄ過程能力解釋 D1計算過程的標(biāo)準(zhǔn)偏差 D2計算過程能力 D3評價過程能力 D4提高過程能力 D5對修改的過程繪制控制圖并分析 RX ?46 Chart練習(xí) 某工廠制造一批紫銅管，應(yīng)用 X barR控制圖來控制其內(nèi)徑，尺寸單位為 mm，利用數(shù)據(jù)表之?dāng)?shù)據(jù)（ n=5)。 求得其控制界限并繪圖 。 請判定過程是否穩(wěn)定？ 如果是不穩(wěn)定該如何處理？ 如果制程假設(shè)已穩(wěn)定，但想將抽樣數(shù)自 n=5調(diào)為 n=4時，那么其新控制限為何？ RX ?47 過程狀態(tài)和變差原因 預(yù)測 時間 目標(biāo)值線 尺寸 時間 ？ 兩種 變差原因及兩種過程狀態(tài) 如果 僅存在變差的普通原因 , 隨著時間的推移 ,過程的輸出 形成一個穩(wěn)定的分布并可預(yù)測 如果存在變差的特殊原因， 隨著時間的推移，過程的輸出不穩(wěn)定 48 變差原因 變 差的 普通原因 普通原因 Common Cause 特殊原因 Special Cause １．大量之微小原因所引起 ,不可避免 ２．不管發(fā)生何種之普通原因，其個別 之變異極為微小 ３．幾個較代表性之普通原因如下： （１）原料之微小變異 （２）機(jī)械之微小振動 （３）儀器測定時不十分精確之作法 ４．實際上要除去制程上之普通原因， 是件非常不經(jīng)濟(jì)之處置 １．一個或少數(shù)幾個較大原因所引起 ,可以避免 ２．任何一個特殊原因，都可能發(fā)生 大的變異 ３．幾個較代表性之特殊原因如下： （１）原料群體之不良 （２）不完全之機(jī)械調(diào)整 （３）新手之作業(yè)員 ４．特殊原因之變化不但可以找出其原 因，并且除去這些原因之處置，在 經(jīng)濟(jì)觀點上講常是正確的 49 受控狀態(tài) 逐漸形成一個穩(wěn)定的分布 μ和 σ基本不隨時間變化 且在要求范圍內(nèi) 在控制圖上的正常表現(xiàn)為： （ 1）所有樣本點都在控制界限之內(nèi)； （ 2）樣本點均勻分布，位于中心線兩側(cè)的樣本點約各占 1/2； （ 3）靠近中心線的樣本點約占 2/3； （ 4）靠近控制界限的樣本點極少。 50 失控狀態(tài) 受控 失控 位置 分布寬度 形狀 三種情況或其組合 51 失控狀態(tài)特征 明顯特征是有 : （ 1） 一部分樣本點超出控制界限 除此之外，如果沒有樣本點出界，但 （ 2） 樣本點排列和分布異常 ， 也說明生產(chǎn)過程狀態(tài)失控。 （ 3）有多個樣本點連續(xù)出現(xiàn)在中心線一側(cè) * 連續(xù) 7個點或 7點以上出現(xiàn)在中心線一側(cè)； * 連續(xù) 11點至少有 10點出現(xiàn)在中心線一側(cè)； * 連續(xù) 14點至少有 12點出現(xiàn)在中心線一側(cè)。 52 典型失控狀態(tài) (一 ) 53 典型失控狀態(tài) (二 ) 54 制程能力 準(zhǔn)度：好 精度：好 準(zhǔn)度：好 精度：較不好 準(zhǔn)度：不好 精度：好 準(zhǔn)度：不好 精度：不好 Ca準(zhǔn)確度 , Cp精密度 55 制程能力指數(shù) ? 能生產(chǎn)均一品質(zhì)制品的制程固有 能力 什么叫制程能力？ ? 制程被 控制 時，表示制程中生產(chǎn)的制品品質(zhì)變動是什么程度的量。 ? 一切品質(zhì)特性都具有它的目標(biāo)值 (Target Value) 品質(zhì)是與目標(biāo)值的偏差越小越優(yōu)秀。 ? 制程能力指數(shù) (Process Capability Index) ? 制程能力指數(shù)是制程能生產(chǎn)多么均勻品質(zhì)產(chǎn)品的能力， 即評價 制程能力的 指標(biāo) 。 短期制程能力指數(shù)用 CP, CPK 來表示，長期制程能力指數(shù)用 PP, PPK來表示 。 在這里 CP 或 PP 是制程平均與規(guī)格中心一致時的制程能力指數(shù)， CPK 或 PPK 是制程平均與規(guī)格中心不一致時的制程能力指數(shù)。 ? 在 SPC中 56 短期製程能力指數(shù) ? 短期製程能力指數(shù) ? 製程平均和規(guī)格中心一致時 s?6 LSLUSLC p ??) , ( puplPK CCMinC ?? 製程平均和規(guī)格 中心不 一致時 ? σ Hat表示短期標(biāo)準(zhǔn)差，在 Minitab中以 StDev(Within)表示 。 ,?3s xUSLpu ?? s?3 LSLxC pl ??其中 , 2?dR?sSigma P (Process) 57 Cp/ Cpk 等級 Ca—準(zhǔn)確度 Capacity of Accuracy Ca = L1 /L2 L1 =X ─ SL L2 = (USL — LSL)/2 等級 Ca值 A B C D ｜ Ca｜ ≦ % %＜｜ Ca｜ ≦ 25% 25%＜｜ Ca｜ ≦ 50% 50%＜｜ Ca｜ 58 長 期製程能力指數(shù) ? 長 期製程能力指數(shù) ? 製程平均和規(guī)格中心一致時 ? 製程平均和規(guī)格中心不一致時 (不對稱時 ) ? S 表示 長 期標(biāo)準(zhǔn)差 ，在產(chǎn)品開發(fā)階段中針對試作製程能力的評估，則稱為先期製程能力 (APQP) SLSLUSLPp 6??) , ( puplPK PPMinP ?其中 , ,3 S xUSLP pu ?? 1)( 2??? ?nxxS iSLSLxPpl 3?Sigma A (Actual) 59 制程能力分析 對正態(tài)分布數(shù)據(jù)的制程能力分析 例題 1 為了制程能力分析， 20天各選 5個核心部品特性值的長度 (mm)的量測 DATA如下。 通過正態(tài)性檢定 (Normality Test)確認(rèn) DATA是正態(tài)分布，核心部品的規(guī)格是 按顧客要求 600mm ? 2mm . 通過以下 DATA做制程能力分析。 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20 把計量型數(shù)據(jù)的正態(tài)分布數(shù)據(jù)的制程能力通過 Minitab分析。 ? Capability Analysis (Normal) 60 Minitab分析制程能力 Sp 3 潛在的 執(zhí)行曲線 實際的 正態(tài)曲線 ? 規(guī)格上限 ? Target ? 規(guī)格下限 ? 平均 ? 樣本數(shù) ? 短期標(biāo)準(zhǔn)差 ? 長期標(biāo)準(zhǔn)差 Process數(shù)據(jù) ? 潛在的制程 能力指數(shù) Cp ? 考慮傾斜的 潛在制程能力 指數(shù) Cpk 潛在的制程能力 實際制程能力 潛在的預(yù)想執(zhí)行能力 只考慮制程的群內(nèi)變動顯示正態(tài)分布時，數(shù)據(jù)表現(xiàn)為 偏離規(guī)格的預(yù)想 PPM 61 過程控制 Ys的現(xiàn)在能力是多少 , 對 Ys有影響的 Process輸入要素 Xs里有什么？ Process N1 N3 N2 雜音變量 (Noise) (不可控制的輸入變量 U) C2 C1 C3 可控制的 LSL USL 設(shè)定初期制程能力分析 品質(zhì)特性 : 輸出變量 Y1, Y2 等 X1 X2 X3 輸入變量 常數(shù) (Constants) SQC ? SPC 62 SPC之精神 制程參數(shù)的確是 SPC的焦點，但是我們應(yīng)深入探究 ── ?為什么挑出這些制程參數(shù)？ ?這些制程參數(shù)的控制條件是如何決定的？ ?這些制程參數(shù)與成品品質(zhì)間有因果關(guān)系可循嗎？ PROCESS 原料 測 量 結(jié) 果 針對產(chǎn) 品所做的仍只是在做 SQC 針對過 程的重要控制 參數(shù) 所做的才是 SPC 參數(shù) 設(shè)計 參數(shù) 驗證 62 63 SPC導(dǎo) 入整體 規(guī) 劃 Dell Quality Improve 10 steps 1 Characterize Process 描述制程特性 The entire manufacturing process has been mapped and all tests and inspection operations identified. Map is version controlled and is accurate. 全部的制造過程已被圖文化，明確所有的測試及檢查工作。此過程圖版本受控并準(zhǔn)確。 2 Conduct Productivity Analysis 實施生產(chǎn)能力分析 Supplier has developed the Productivity Analysis matrix and is collecting and reporting Throughput Yields, RolledThroughput Yields and