電子有限公司spc統(tǒng)計(jì)過程控制管理規(guī)劃(編輯修改稿)
2025-01-27 16:50 本頁面
【文章內(nèi)容簡介】 M深圳市共進(jìn)電子有限公司示例 5A深圳市共進(jìn)電子有限公司示例 5B? 在默認(rèn)值 h=4andk=，使用 Minitab重新執(zhí)行示例 5A? 1)k=??=?? ?更嚴(yán)格的靈敏度漂移? 2)h=4andk=?ARL?200? ?較高機(jī)會的 Ⅰ 型錯(cuò)誤深圳市共進(jìn)電子有限公司示例 5B? MiniTab’s Stat ? Control Charts ? CUSUM深圳市共進(jìn)電子有限公司示例 5B深圳市共進(jìn)電子有限公司雙邊 CUSUM圖? 可以通過 VMask的均值檢測到失控的情況， VMask的漂移敏感性依賴于 2設(shè)計(jì)參數(shù)： ? h：定義了 VMask的半寬 H? k：定義了 VMask’sarms的斜度 Tan ?H ?where m is the subgroup size深圳市共進(jìn)電子有限公司示例 5C? 在默認(rèn)值 h=4andk=，利用示例 5中的數(shù)據(jù)使用 Minitab設(shè)計(jì)一個(gè)雙邊 CUSUM圖：? 步驟 ：? 切換到 Session窗口? 選擇 Editor?EnableCommandLanguage深圳市共進(jìn)電子有限公司示例 5C? MiniTab’s Stat ? Control Charts ? CUSUM深圳市共進(jìn)電子有限公司示例 5C深圳市共進(jìn)電子有限公司比較 CUSUM圖? 對于同樣的 h和 k值， Decision Interval Method和 VMask方法將產(chǎn)生同樣的檢測能力。 ? 道格拉斯蒙哥馬利提出， Decision Interval Method和單邊 CUSUM提供 以下優(yōu)點(diǎn)： － VMask對單邊過程檢測不適合。 － VMask難以確定以后多遠(yuǎn)應(yīng) 延伸深圳市共進(jìn)電子有限公司數(shù)據(jù)加權(quán)Emphasis only on the current data point.Equal emphasis on all data points.Decreasing emphasis on historical data points.Decreasing emphasis on historical data points.深圳市共進(jìn)電子有限公司EWMA 圖? 基于幾何移動(dòng)平均線由西南羅伯茨在Technometrics1（ 1959年）首次將 EWMA圖引入控制圖實(shí)驗(yàn)。 ? EWMA 中的 Zi被定義為：? Zi=(1?)Zi1+?Xi? 其中 0???1是一個(gè)常量， EWMA圖是繪制 Zi和 I的圖深圳市共進(jìn)電子有限公司示例 6 i Xi Zi 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20 21 22 23 24 使用示例 5中的數(shù)據(jù)， ?＝ 。深圳市共進(jìn)電
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