田口方法品質(zhì)工程(編輯修改稿)
2025-01-26 18:48 本頁面
【文章內(nèi)容簡(jiǎn)介】 LITE ON G R O U P2*2 拉丁方格實(shí)例拉丁方格實(shí)例 : 一一 CDROM 廠之客戶反應(yīng)其產(chǎn)品在不同的溫度下進(jìn)行功能測(cè)試廠之客戶反應(yīng)其產(chǎn)品在不同的溫度下進(jìn)行功能測(cè)試 , CDROM的傳輸速率會(huì)不一樣的傳輸速率會(huì)不一樣 . , 經(jīng)該廠工程人員初步分析可能與經(jīng)該廠工程人員初步分析可能與環(huán)境溫度及測(cè)試電壓有關(guān)環(huán)境溫度及測(cè)試電壓有關(guān) .LiteON IT Corp.LITE ON G R O U P案例案例 : 某某 CDROM生產(chǎn)線生產(chǎn)線 F/T測(cè)試站發(fā)現(xiàn)最近傳輸速率達(dá)不到規(guī)格的不良品測(cè)試站發(fā)現(xiàn)最近傳輸速率達(dá)不到規(guī)格的不良品明顯增多明顯增多 ,懷疑可能因素有懷疑可能因素有 DISC受溫度影響受溫度影響 ., PUH ,測(cè)試電壓測(cè)試電壓 , 用田口法分用田口法分析如下析如下 . 1. 定義品質(zhì)特性 Y傳輸速率愈大愈好 . 2. 訂出影響 Y因子與水準(zhǔn) . A. 環(huán)境溫度 3水準(zhǔn) : A1=25℃ A2=40℃ A3=60℃ B. 測(cè)試電壓 3水準(zhǔn) : B1=5V B2= B3= C. 不同 PUH 3水準(zhǔn) : C1=Sanyo C2=Hitachi C3=SonyLiteON IT Corp.LITE ON G R O U PC
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