6s的意義與計算(編輯修改稿)
2025-01-18 23:35 本頁面
【文章內容簡介】 % 的數(shù)據(jù)落在177。 1s 以內 ?% 的數(shù)據(jù)落在177。 2s 以內 ?% 的數(shù)據(jù)落在177。 3s 以內 ?% 的數(shù)據(jù)落在177。 6s 以內 3s 2s 1s 1s 2s 3s LSL下限 USL上限 平均值 m或目標值 T s個數(shù)的計算 (連續(xù)數(shù)據(jù)） Z = s Min{（ USLT） , （ TLSL） } Z=3Cpk 過程的漂移 短期 4 短期 3 短期 2 短期 1 長期 s的個數(shù) Zlt(長期） =Zst（ 短期） 計算 s個數(shù)的概念與公式 Unit: 單元， 被研究對象的基本單位。如一件產品、一次服務、一個過程等。 Defect: 缺陷，任何未達到要求的特性 DPU (Defects per unit) = Defects / Unit = 缺陷數(shù) /單元數(shù) PPM (Defects per Million Units) = Defects / Unit x 106 =缺陷數(shù) /（單元數(shù) X 106 ) TOP (Total Opportunities) = Units * Opportunities (總機會） =單元數(shù) X 每單元發(fā)生缺陷的 機會 DPO (Defects per Opportunity)=Defects/TOP (每個機會中產生的缺陷數(shù)） =缺陷數(shù) /總機會 DPMU(Defects per million units)=DPUx 106 （ 每百萬單元中的缺陷數(shù)） DPMO (Defects per Million Opportunities) = Defects / TOP x 106 = 缺陷數(shù) / TOP x 106 First Pass Yield(一次合格率 )=全過程中未產生任何缺陷的單元數(shù) /總單元數(shù) Rolled Yield (單元的缺陷數(shù)為零的幾率） （ The likelihood that any given unit of product will contain 0 defects) YRT= e DPU YRT = P(ND) * P(ND) * P(ND) *......P(ND)n P（ ND) 表示零缺陷的幾率 Ynorm (Normalized Yield 正態(tài)合格率） =1DPO= n YRT (連續(xù)過程的平均合格率） n=過程的個數(shù) Zlt=NormSinv(Ynorm) （ 在電子表格 Excel 的函數(shù) fx 中的‘統(tǒng)計類’中， 或查表） Zst=Zlt+ 計算 s個數(shù)的概念與公式 （非連續(xù)數(shù)據(jù)） 計算 s個數(shù)實例 M(每單元產生缺陷的機會） =50 Units（ 單元數(shù)） =1000 Defects（ 缺陷數(shù)） =500 TOP=MxUnits
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