【文章內(nèi)容簡介】 塵濃度的基礎上，更進一步衡量粉塵的危害性– 對工作地點的勞動衛(wèi)生條件進行評價，– 對正確選擇防塵裝備和措施，并檢驗其實際效果69四、粉塵分散度測定? 測定目的和方法? 測定方法：– 質量粒徑分布多用沉降法；– 數(shù)量粒徑分布常用顯微鏡觀測法（普遍）? 測定粉塵粒徑分布時，要根據(jù)測定目的來選擇測定方法。70? 顯微鏡法測量粉塵的分散度? 1）樣品的制取? 為在顯微鏡下觀測，需將試樣粉塵均勻地分布于蓋玻璃片上。樣品制作需細致，并注意樣品的代表性。樣品制作有 濾膜涂片法 和 濾膜透明法 兩種。71? （ 1）濾膜涂片法? 利用濾膜可溶于有機溶劑而礦塵不被溶解的原理，將采樣后的濾膜放于磁坩堝或其它小器皿中，加 1～ 2mL乙酸乙酯或乙酸丁酯 溶劑，使濾膜溶解并攪拌均勻，然后取一滴加在蓋玻璃片上的一端，再用另一玻璃片推片制成樣品，一分鐘后形成透明薄膜，即可觀測。? 如果塵粒過于密集影響觀測，再加入 醋酸丁酯溶劑稀釋，重新制作樣品。此法操作簡便，適于濾膜測塵，且樣品可長期保存，是目前廠礦常用的方法。72? （ 2）濾膜透明法? 將采樣后的濾膜，受塵面向下平鋪于蓋玻片上，然后在樣品中心部位用移液管滴一小滴 二甲苯 ，二甲苯向周圍擴散并使濾膜成透明薄膜，數(shù)分鐘后即可觀測。? 注意：? 不要使濾膜受塵面向上，以防滴二甲苯時粉塵飛散；? 濾膜上積塵過多時，不便觀測，因此此方法適用于低濃度粉塵環(huán)境的分散度測定。732）目鏡測微尺的標定顯微鏡放大倍數(shù)的選擇以粉塵粒徑分布范圍寬窄來定。若范圍較窄，則一般選用物鏡的放大倍數(shù)為 40倍，目鏡放大倍數(shù)為 15～ 25倍，總放大倍數(shù)為 600～1000倍。74? 目鏡測微尺（ 圖 913）是一線狀分度尺，它放在目鏡鏡筒中，用以量度塵粒尺寸。但其每一分格所表示尺寸與所選放大倍數(shù)有關，因此使用前要用標準尺（物鏡測微尺）標定。75? 物鏡測微尺（ 圖 9－ 14）是一標準尺度，每一小刻度為 10μ 。? 標定時，將物鏡測微尺放在顯微鏡載物臺上（相當于粉塵試樣），選好目鏡并裝好目鏡測微尺，先用低倍物鏡，將物鏡測微尺調到視野正中，再換成選用的物鏡，調好焦距。操作時，先將物鏡調至低處，注意不使碰到測微尺；然后目視目鏡觀察，慢慢向上調整，直至物像清晰。76? 緩慢調整載物臺，使物鏡側微尺的刻度與目鏡測微尺刻度的一端對齊（或某一刻度互相對齊），再找出另一互相對齊的刻度線。根據(jù)兩者數(shù)值及物鏡的分度是絕對長度 10μ，可計算出目鏡測微尺一個刻度所度量的尺寸。77? 如圖 915所示，兩測微尺的 0點相對，另一側，目鏡測微尺的 32與物鏡測微尺的 14相對，即目鏡測微尺的 32個刻度的長度相當于物鏡測微尺 14個刻度的長度，則目鏡測微尺每一刻度的度量長度為：? 1014 ／ 32＝ ? 若要更換物鏡或目鏡時，要重新標定。783）測定? 將準備好的樣品放在載物臺上，用選定的目鏡和物鏡，調整好焦距，然后用目鏡測微尺度量塵粒大小，如圖 916所示。79? 特別提示：? 觀測時樣品的 移動方向應保持一致 ；? 測量塵粒的 定向徑 （指塵粒的最大投影尺寸，它由測微度尺的垂線與塵粒投影輪廓線相切的兩條平行線間的距離來表示）；? 按粒徑分布的 分級計數(shù) ；? 測定時對塵粒不應有選擇，每一樣品計測200粒以上 ，可用血球計數(shù)器分檔計數(shù)。80? 根據(jù)測定要求劃分出粒徑分布的粒級范圍? 一般劃分為：＜ 2μ ， 2～ 5μ ， 5～ 10μ ， 10～20μ ，＞ 20μ ，每一粒級范圍取其平均值為該粒級的代表粒徑。? ＜ 2μ 粒級，因為一般顯微鏡最小觀測到 ，其代表粒徑按 計算，＞ 2μ 粒級，如數(shù)量很少，即不再劃分，并取 20μ 作為代表粒徑或按實際平均粒徑計。4）整理測定結果81? 根據(jù)觀測結果，計算其數(shù)量粒徑分布（ Pn）、質量粒徑分布（ Pw）及質量累積分布（ R）等，并列成表格見 表 95。82? 表中 質量累積分布（ R）， 表示大于某一粒徑的粉塵累計值占粉塵總量的百分數(shù)，即是篩上殘留率（或稱篩上累積分布）。83? 粉塵的粒徑分布表示方法很多，除列表法 外，常用的還有 粒徑分布曲線 及 粉塵粒徑分布函數(shù) 等。實際測定中，可根據(jù)需要加以選擇。84? 五、粉塵化學成份分析? 測定目的? 許多資料表明，矽肺發(fā)病率的高低，發(fā)病工齡的長短，以及矽肺病變的嚴重程度，除與粉塵濃度和分散度有關外，還與粉塵中 游離 SiO2的含量 有著密切的關系。因此，在了解粉塵的職業(yè)危害性時，必須進行此項分析。85? 測定方法? 粉塵中游離 SiO2含量的測定方法：– 物理的 X光衍射法– 紅外光譜分析法– 化學的焦磷酸法 （我國較普遍）86? 焦磷酸法：? 利用在 245～ 250℃ 的溫度下，硅酸鹽溶于焦磷酸，而石英（游離 SiO2含量通常在97%以上）幾乎完全不溶的特性，用焦磷酸處理硅酸鹽與游離 SiO2的混合粉塵，然后用 計重法 進行測定。87? 測定時，將采集到的粉塵經(jīng)烘干和研磨（粒徑至 5μ 以下 ）處理之后，準確稱樣 100～ 200mg，放入 50mL的硬質錐形瓶中，加入已制好的焦磷酸 15mL，并用圓頭玻璃棒攪拌至完全濕潤，插入 300℃ 的溫度計，置于可調電熱的電爐上迅速加熱至 245～250℃ ，在此溫度下， 持續(xù) 15min。88? 然后在室溫下冷卻至 100～ 150℃ ，再在冷水中冷卻至 40～ 50℃ 后，將其慢慢倒入盛有約 100mL、 50～ 80℃ 蒸餾水的硬質玻璃燒杯中，使其完全混合。再用50℃ 左右的蒸餾水洗凈錐形瓶，清洗液加入到樣液中，將樣液稀釋至 150～200mL，攪拌均勻，煮沸，趁熱過濾。89? 過濾完畢后，濾紙上的沉淀物用 3～ 5次，再用蒸餾水洗至無酸性反應為止。將濾紙連沉淀物置于已恒重的磁坩堝中，先低溫炭化（切忌明火），然后放入高溫電爐，以 950～ 1000℃ 灼燒30min，冷卻稱量至恒重。游離 SiO2的含量按下式計算： SiO2（ F） =（ W2－ W1）／ G100% ? 式中， W1—— 空坩堝的恒重值， g；? W2—— 坩堝與沉淀物的總重， g； ? G—— 樣品質量， g。90?X射線衍射法測游離 SiO2含量? X射線衍射法是一種研究晶體結構的分析方法，而不是直接研究試樣內(nèi)含有元素的種類及含量的方法。當 X射線照射晶態(tài)結構時，將受到晶體點陣排列的不同原子或分子所衍射，根據(jù)干涉現(xiàn)象求相對應的衍射線強度，則可對物質進行鑒定。 ? 測游離二氧化硅含量時用粉末法制樣。 ? 將 200目的均勻粉末置于玻璃毛細管中，裝入粉末照相機內(nèi)測定。91? 粉末照相機成圓筒形。由 X射線管發(fā)射的 X射線束，透過濾光片后成為近乎單色的輻射束，通過細管準直，照射到樣品晶體上。其中一部分 X輻射被晶體中的原子散射。粉末中所有與入射線的夾角為 θ （該角決定于晶體的種類）的晶面散射的光束，在空間可連接成一個以入射線方向為軸，夾角為 4θ 的圓錐面。其他一定角度的散射可由其他方位的晶體產(chǎn)生。未被散射的輻射，通過出射細管射出照相機。散射線投射在襯有底片的相機內(nèi)壁上，從而得出一對對的對稱弧線組成的圖樣。92? 衍射圖樣的定性鑒定主要憑經(jīng)驗，可以根據(jù)純晶體化合物的標準衍射圖譜對照鑒別。對于定量測定，在試樣組成簡單的情況下，只需要在同一條件下將未知試樣與含量已知的樣品中特定的衍射線的強度作比較即可定量；對組成復雜的樣品，則需要根據(jù)積分強度的概念，用解方程式的方法計算。93? “ 目 ” 是指每平方英吋篩網(wǎng)上的孔眼數(shù)目? 50目就是指每平方英吋上的孔眼是 50個，500目就是 500個，目數(shù)越高，孔眼越多? 除了表示篩網(wǎng)的孔眼外，它同時用于表示能夠通過篩網(wǎng)的粒子的粒徑，目數(shù)越高，粒徑越小。目數(shù)越大，孔徑越小。? 一般來說， 目數(shù) 孔徑（微米數(shù)）＝ 15000。比如， 400目的篩網(wǎng)的孔徑為 38微米左右； 500目的篩網(wǎng)的孔徑是 30微米左右。 補充知識 —— “ 目 ”94? 六、煤塵沉積強度的測定? 煤塵的沉積強度 （或稱煤塵條件濃度）? 是指每晝夜（或產(chǎn)煤每千噸）在每平方米巷道上所沉積的煤塵量。? ：? 可以確定礦井的粉塵灑落量和沉積量；? 確定一般用水沖洗巷道時的沖洗周期；? 確定