顯微鏡的stm原理與afm基本原理介紹(編輯修改稿)
2024-09-19 03:50 本頁面
【文章內(nèi)容簡介】 樣品之間的力F與微懸臂的形變之間遵循虎克定律：F=k*x，其中，k為微懸臂的力常數(shù)。所以，只要測出微懸臂形變量的大小，就可以獲得針尖與樣品之間作用力的大小。針尖與樣品之間的作用力與距離有強烈的依賴關(guān)系，所以在掃描過程中利用反饋回路保持針尖與樣品之間的作用力恒定，即保持為懸臂的形變量不變，針尖就會隨樣品表面的起伏上下移動，記錄針尖上下運動的軌跡即可得到樣品表面形貌的信息。這種工作模式被稱為“恒力”模式（ConstantForceMode），是使用最廣泛的掃描方式。 AFM的圖像也可以使用“恒高”模式（ConstantHeightMode）來獲得，也就是在X，Y掃描過程中，不使用反饋回路，保持針尖與樣品之間的距離恒定，通過測量微懸臂Z方向的形變量來成像。這種方式不使用反饋回路，可以采用更高的掃描速度，通常在觀察原子、分子像時用得比較多，而對于表面起伏比較大的樣品不適用。 原子力顯微鏡工作原理圖點擊此處查看全部新聞圖片 AFM有多種操作模式，常用的有以下4種：接觸模式（ContactMode）、非接觸（NonContactMode）、輕敲模式(TappingMode)、側(cè)向力(LateralForceMode)模式。根據(jù)樣品表面不同的結(jié)構(gòu)特征和材料
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