揚州科能電力電子設(shè)備有限公司(編輯修改稿)
2024-07-25 03:45 本頁面
【文章內(nèi)容簡介】 靈敏度檢驗 校準(zhǔn)器應(yīng)并聯(lián)于試樣遠離測試儀器的一端，注入校準(zhǔn)電量 qcal和記錄偏轉(zhuǎn)值數(shù)a2，可計算出標(biāo)定系數(shù)K(pC/mm)和靈敏度qmin(pC)。即 試驗程序 只需在試樣的一端進行測量，用測得的偏轉(zhuǎn)值 A(mm)計算出放電量q(pC) 即 試驗電壓應(yīng)在產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)中規(guī)定。 不接終端阻抗的長電纜試驗 要求 電纜長度超過 lk時，仍有可能不用終端阻抗來進行試驗，條件是計入迭加和衰減現(xiàn)象，因此使用雙脈沖曲線圖時可不用終端阻抗。 第一種曲線見圖 7。 第二種曲線見圖 8和9，但此處樣品長度l應(yīng)小于2l1或大于2l3。 如果樣品長度范圍為 2l1≤l≤2l2。 靈敏度檢驗 按圖 1，2，3或5，校正器應(yīng)先后并聯(lián)連接到試樣的每一端，第一步接到遠端，第二步接到近端，以上二種情況，校準(zhǔn)器的校準(zhǔn)電量和放大器的放大倍數(shù)，均不應(yīng)變動，分別記錄下面數(shù)值。 a1：校準(zhǔn)器接在近端所測得的偏轉(zhuǎn)值，mm； a2: 校準(zhǔn)器接在遠端所測得的偏轉(zhuǎn)值，mm； 由 a1和校準(zhǔn)電量qcal計算出標(biāo)定系數(shù)K(pC/mm)： 由 a1和a2計算出衰減修正系數(shù)F： 當(dāng) a2＞a1時 F=1 當(dāng) a2＜a1時 F=a1/a2 ` 試驗程序 局部放電測試裝置應(yīng)先后接在電纜每端進行測量，用測得較高的數(shù)值 Amax來計算放電量q(pC)： 試驗電壓應(yīng)在產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)中規(guī)定。 接終端阻抗的長電纜試驗 要求 為限制長度大于 lk的電纜中脈沖的迭加誤差。如圖4所示，可采用終端阻抗，這種方法可用于所有檢測裝置和所有電纜長度上進行測量，條件是阻抗Z應(yīng)符合附錄B規(guī)定的要求，此時校準(zhǔn)只需要確定衰減的影響，阻抗對被試電纜的適應(yīng)性見附錄B的說明。 靈敏度檢驗 按照圖 4，校準(zhǔn)器應(yīng)先后并聯(lián)連接到試樣的每一端，第一步接到遠端，第二步接到近端，以上二種情況，校準(zhǔn)器的校準(zhǔn)電量和放大器的放大倍數(shù)，均不應(yīng)變動，分別記錄下面數(shù)值： a1：校準(zhǔn)器接在近端所測得的偏轉(zhuǎn)值，mm； a2：校準(zhǔn)器接在遠端所測得的偏轉(zhuǎn)值，mm； 由 a2和校準(zhǔn)器電量計算
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