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正文內(nèi)容

揚州科能電力電子設(shè)備有限公司(編輯修改稿)

2024-07-25 03:45 本頁面
 

【文章內(nèi)容簡介】 靈敏度檢驗 校準(zhǔn)器應(yīng)并聯(lián)于試樣遠離測試儀器的一端,注入校準(zhǔn)電量 qcal和記錄偏轉(zhuǎn)值數(shù)a2,可計算出標(biāo)定系數(shù)K(pC/mm)和靈敏度qmin(pC)。即 試驗程序 只需在試樣的一端進行測量,用測得的偏轉(zhuǎn)值 A(mm)計算出放電量q(pC) 即 試驗電壓應(yīng)在產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)中規(guī)定。 不接終端阻抗的長電纜試驗 要求 電纜長度超過 lk時,仍有可能不用終端阻抗來進行試驗,條件是計入迭加和衰減現(xiàn)象,因此使用雙脈沖曲線圖時可不用終端阻抗。 第一種曲線見圖 7。 第二種曲線見圖 8和9,但此處樣品長度l應(yīng)小于2l1或大于2l3。 如果樣品長度范圍為 2l1≤l≤2l2。 靈敏度檢驗 按圖 1,2,3或5,校正器應(yīng)先后并聯(lián)連接到試樣的每一端,第一步接到遠端,第二步接到近端,以上二種情況,校準(zhǔn)器的校準(zhǔn)電量和放大器的放大倍數(shù),均不應(yīng)變動,分別記錄下面數(shù)值。 a1:校準(zhǔn)器接在近端所測得的偏轉(zhuǎn)值,mm; a2: 校準(zhǔn)器接在遠端所測得的偏轉(zhuǎn)值,mm; 由 a1和校準(zhǔn)電量qcal計算出標(biāo)定系數(shù)K(pC/mm): 由 a1和a2計算出衰減修正系數(shù)F: 當(dāng) a2>a1時 F=1 當(dāng) a2<a1時 F=a1/a2 ` 試驗程序 局部放電測試裝置應(yīng)先后接在電纜每端進行測量,用測得較高的數(shù)值 Amax來計算放電量q(pC): 試驗電壓應(yīng)在產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)中規(guī)定。 接終端阻抗的長電纜試驗 要求 為限制長度大于 lk的電纜中脈沖的迭加誤差。如圖4所示,可采用終端阻抗,這種方法可用于所有檢測裝置和所有電纜長度上進行測量,條件是阻抗Z應(yīng)符合附錄B規(guī)定的要求,此時校準(zhǔn)只需要確定衰減的影響,阻抗對被試電纜的適應(yīng)性見附錄B的說明。 靈敏度檢驗 按照圖 4,校準(zhǔn)器應(yīng)先后并聯(lián)連接到試樣的每一端,第一步接到遠端,第二步接到近端,以上二種情況,校準(zhǔn)器的校準(zhǔn)電量和放大器的放大倍數(shù),均不應(yīng)變動,分別記錄下面數(shù)值: a1:校準(zhǔn)器接在近端所測得的偏轉(zhuǎn)值,mm; a2:校準(zhǔn)器接在遠端所測得的偏轉(zhuǎn)值,mm; 由 a2和校準(zhǔn)器電量計算
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