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射線檢測工藝規(guī)程(編輯修改稿)

2025-07-24 09:33 本頁面
 

【文章內容簡介】 %覆蓋要求,則應增加曝光次數(shù)。由于結構原因不能按照規(guī)定的間隔角度多次透照時,經(jīng)合同各方商定,可不再強制限制規(guī)定的間隔角度, 但應采取有效措施盡量擴大缺陷可檢出范圍, 同時應保證底片評定范圍內黑度和靈敏度滿足要求,并在檢測報告中對有關情況進行說明11 射線能量 X 射線照相應盡量選用較低的管電壓。在采用較高管電壓時,應保證適當?shù)钠毓饬?。圖 1規(guī)定了不同材料、不同透照厚度允許采用的最高X射線管電壓。 對截面厚度變化大的承壓設備,在保證靈敏度要求的前提下,允許采用超過圖 1 規(guī)定的X射線管電壓。但對鋼、銅及銅合金材料,管電壓增量不應超過 50kV;注:1銅及銅合金;2鋼;3鈦及鈦合金;4鋁及鋁合金圖 1 不同透照厚度允許的 X 射線最高透照管電壓12 射線源至工件表面的最小距離 所選用的射線源至工件表面的距離 f 應滿足下式的要求:AB 級射線檢測技術: f ≥ 10db 2/3圖 3 是 AB 級射線檢測技術確定 f 的諾模圖。焦點尺寸d的計算見附錄A圖 3 AB 級射線檢測技術確定焦點至工件表面距離的諾模圖. 采用源在內中心透照方式周向曝光時, 的要求,f值可以減小,但減小值不應超過規(guī)定值的 50%。 采用源在內單壁透照方式時, 的要求,f 值可以減小,但減小值不應超過規(guī)定值的 20%。 安放式和插入式管座角焊縫采用源在內單壁中心透照方式 (圖 D9 和圖 D13) 時,只要得到的底片質量符合 和 的要求 f 值可以減小,但減小值不應超過規(guī)定值的 50%。 安放式和插入式管座角焊縫采用源在內單壁偏心透照方式 (圖 D10 和圖 D14) 時,只要得到的底片質量符合 和 的要求 f 值可以減小,但減小值不應超過規(guī)定值的 20%。13 膠片與被檢工件之間的距離曝光期間,膠片應緊貼于工件,除非有特殊規(guī)定或透照布置能使被檢區(qū)域得到更好的透照影像。管座角焊縫源在內透照時,膠片應盡可能的靠近被檢工件焊縫。14 曝光量 X射線照相,當焦距為 700mm 時,曝光量的推薦值為:A 級和 AB 級射線檢測技術不小于15mAmin;B 級射線檢測技術不小于 20mAmin。當焦距改變時可按平方反比定律對曝光量的推薦值進行換算。15 曝光曲線 對每臺在用射線設備均應做出經(jīng)常檢測材料的曝光曲線,依據(jù)曝光曲線確定曝光參數(shù)。 制作曝光曲線所采用的膠片、增感屏、焦距、射線能量等條件以及底片應達到的靈敏度、黑度等參數(shù)均應符合本部分的規(guī)定。 對使用中的曝光曲線,每年至少應核查一次。射線設備更換重要部件或經(jīng)較大修理后應及時對曝光曲線進行核查或重新制作。16 無用射線和散射線屏蔽 應采用金屬增感屏、鉛板、濾光板、準直器等適當措施,屏蔽散射線和無用射線,限制照射場范圍。 對初次制定的檢測工藝,以及在使用中檢測條件、環(huán)境發(fā)生改變時,應進行背散射防護檢查。檢查背散射防護的方法是:在暗盒背面貼附“B”鉛字標記,一般 B 鉛字的高度為 13mm、,按檢測工藝的規(guī)定進行透照和暗室處理。 若在底片上出現(xiàn)黑度低于周圍背景黑度的 “B” 字影像,則說明背散射防護不夠,應增大背散射防護鉛板的厚度。若底片上不出現(xiàn) “B”字影像或出現(xiàn)黑度高于周圍背景黑度的“B”字影像,則說明背散射防護符合要求。在背散射輕微或后增感屏足以屏蔽背散射線的情況下,可不使用背散射防護鉛板。17 像質計的使用 像質計放置原則絲型像質計像質計一般應放置在焊接接頭的一端 (在被檢區(qū)長度的 1/4 左右位置) ,金屬絲應橫跨焊縫,,像質計應放置在透照區(qū)最邊緣的焊縫處,還應滿足以下規(guī)定:a) 單壁透照規(guī)定像質計放置在源側。雙壁單影透照規(guī)定像質計放置在膠片側。雙壁雙影透照像質計可放置在源側,也可放置在膠片側。b) 單壁透照中,如果像質計無法放置在源側,允許放置在膠片側(球罐全景曝光除外) 。c) 單壁透照中像質計放置在膠片側時,應進行對比試驗。對比試驗方法是在射源側和膠片側各放一個像質計,用與工件相同的條件透照,測定出像質計放置在源側和膠片側的靈敏度差異,以此修正像質計靈敏度的規(guī)定,以保證實際透照的底片靈敏度符合要求。d) 當像質計放置在膠片側時,應在像質計上適當位置放置鉛字“F”作為標記, F 標記的影像應與像質計的標記同時出現(xiàn)在底片上,且應在檢測報告中注明。 像質計數(shù)量原則上每張底片上都應有像質計的影像。 當一次曝光完成多張膠片照相時, 使用的像質計數(shù)量允許減少但應符合以下要求:a) 環(huán)形對接焊接接頭采用源置于中心周向曝光時,至少在圓周上等間隔地放置 3 個像質計。b) 球罐對接焊接接頭采用源置于球心的全景曝光時, 在上極和下極焊縫的每張底片上都應放置像質計,且在每帶的縱縫和環(huán)縫上沿經(jīng)度方向等間隔至少放置 3 個像質計。c) 一次曝光連續(xù)排列的多張膠片時,至少在第一張、中間一張和最后一張膠片處各放置一個像質計。 小徑管對接焊縫小徑管使用通用絲型和專用等徑絲型像質計時, 金屬絲應橫跨垂直焊縫放置。 像質計應放置于源側,當無法放置在源側時,可將像質計置于膠片側,但應在檢測記錄和報告中說明。 不等厚或不同種類材料之間對接焊縫如果焊接接頭的幾何形狀允許, 不同厚度或材料類型不同的部位應分別采用與被檢材料厚度或類型相匹配的像質計,并分別放置在焊接接頭相對應部位。 管座角焊縫推薦采用絲型像質計,根據(jù)像質計能夠投影到被檢測區(qū)的位置而放置。如果允許,像質計盡可能置于黑度最小的區(qū)域。 像質計影像識別使用絲型像質計時, 底片上能夠識別的最細線的編號即為像質計靈敏度值。 如底片黑度均勻部位 (一般是鄰近焊縫的母材金屬區(qū))能夠清晰地看到長度不小于 10mm 的連續(xù)金屬絲影像時,則認為該絲是可識別的。專用等徑絲型像質計至少應能識別兩根金屬絲。18 標記 透照部位的標記由識別標記和定位標記組成。標記一般由適當尺寸的鉛(或其他適宜的重金屬)制數(shù)字、拼音字母和符號等構成。底片標識能清晰的閱讀且不至于對底片的評定帶來影響,標記的材料和厚度應根據(jù)被檢工件的厚度來選擇,保證標記影像不模糊,也不至于產(chǎn)生眩光. 識別標記一般包括:產(chǎn)品編號、對接焊接接頭編號、部位編號和透照日期。返修后的透照還應有返修標記,擴大檢測比例的透照應有擴大檢測標記。 定位標記一般包括中心標記、搭接標記、檢測區(qū)標記等。中心標記指示透照部位區(qū)段的中心位置和分段編號的方向,一般用十字箭頭“ ”表示。搭接標記是連續(xù)檢測時的透照分段標記,可用符號“↑”或其他能顯示搭接情況的方法(如數(shù)字等)表示。檢測區(qū)標記采取的方式能夠清晰標識檢測區(qū)范圍即可。 內外焊縫余高均磨平的情況,底片上不能直接正確測定和區(qū)別檢測區(qū)位置和寬度時,應采用適當?shù)亩ㄎ粯擞洠ㄈ绮捎勉U質窄條)進行標識。 定位標記放置的部位還應符合附錄c和 d的規(guī)定。所有標記的影像不應重疊,且不應干擾有效評定范圍內的影像。當由于結構原因,定位標記需要放置于膠片側時,檢測記錄和報告應標注實際的評定范圍,標記影像不得進入檢測區(qū)源側表面在底片上的投影區(qū)內。 識別標記允許放置于源側或膠片側,所有標記的影像不應重疊,且不應干擾有效評定范圍內的影像。 搭接標記放置的位置還應符合圖10~17的要求圖10 平面工件或縱焊接接頭圖11 射線源到膠片距離F小于曲面工件的曲率半徑圖12 凸面朝向射線源的曲面部件圖16 射線源到膠片距離F大于曲面工件的曲率半徑 圖17 射線源在曲面工件的曲率中心19 膠片處理 底片處理膠片處理一般應按膠片使用說明書的規(guī)定進行。手工沖洗膠片宜在曝光后 8 小時之內完成,不得超過 24 小時。:顯影溫度:18~22℃ 顯影時間: 4 min~6 min定影溫度:18~22℃ 定影時間: 10min~12min水洗溫度:16~24℃ 水洗時間: 20min~30min。,高溫季節(jié)不得使用低電壓曝光、高溫顯影。而低溫季節(jié)不得使用高電壓曝光、低溫顯影。、定影液的關鍵是藥品稱重要準確,配制顯影液 的水溫一般在30℃~50℃,配制定影液 的水溫一般在60℃~70℃,藥品應按次序投入,每一種藥品需徹底溶解后再放入下一種藥品,配制好的顯、定影液應靜置24小時后再使用。20評片要求 評片一般應在專用的評片
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