電化學(xué)再活化法(epr)測(cè)量晶間腐蝕敏感性(編輯修改稿)
2025-07-04 21:01 本頁面
【文章內(nèi)容簡介】 敏感性有其不足之處：需要嚴(yán)格的表面處理和金相評(píng)定晶粒度。后來，Akaski等人提出了雙環(huán)電化學(xué)動(dòng)電位再活化實(shí)驗(yàn)方法，列入標(biāo)準(zhǔn)J ISG 058021986，克服了單環(huán)實(shí)驗(yàn)法的缺點(diǎn)。EPR法提供了一種鑒別材料完全無敏化的判別標(biāo)準(zhǔn)，所以對(duì)于設(shè)備部件的質(zhì)量控制是很有意義的，但是，無論是單環(huán)還是雙環(huán)EPR法對(duì)于有一定敏化程度的材料，都不能提供一個(gè)作為可接受的敏化程度的標(biāo)準(zhǔn)，所以必須建立起EPR法和其它ASTM標(biāo)準(zhǔn)實(shí)驗(yàn)方法之間的聯(lián)系。進(jìn)行雙環(huán)EPR實(shí)驗(yàn)時(shí)，試樣(工作面積為1cm2)先在溶液中浸泡10min，待腐蝕電位穩(wěn)定后，約為400mV(SCE)，然后以100mV/min 的電位掃描速度進(jìn)行陽極方向電位掃描至300mV(SCE)，在此電位下保持2min
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