x射線背散射成像技術(shù)在安檢中的應(yīng)用(編輯修改稿)
2025-07-02 20:39 本頁面
【文章內(nèi)容簡介】 于將普通有機(jī)物和炸藥 區(qū)分顯現(xiàn)。圖1為對同一貨運(yùn)箱的掃描圖， 兩袋模擬爆炸物被藏于箱內(nèi)，背散射 圖像（右圖）能突出貨箱內(nèi)危險(xiǎn)有機(jī) 物，非常清晰地呈現(xiàn)出模擬爆炸物的 所在。圖2為統(tǒng)一箱包的單能透射和背 散射掃描圖，背散射技術(shù)可生成清晰 的X射線掃描圖，將爆炸物、塑料武二、背散射探測原理當(dāng)X射線遇到物體時(shí)可能出現(xiàn)三種情況：X射線穿過物體、X射線被 物體吸收、X射線遇物體發(fā)生散射。 背散射探測原理就是利用康普頓散射 理論，X射線遇到不同物質(zhì)會發(fā)生不 同的散射，X射線遇到低原子序數(shù)物 質(zhì)時(shí)，散射較強(qiáng)；遇到高原子序數(shù)物 質(zhì)時(shí)，散射相對較弱。而且，散射概 率與被檢物的電子密度成正比，電子 密度又與質(zhì)量密度有關(guān)，散射信號隨 質(zhì)量密度增大而增強(qiáng)，但高原子序數(shù) 物質(zhì)的散射被光電效應(yīng)抑制。所以， 如果被檢物質(zhì)的原子序數(shù)越低，密度 越大，X射線照射發(fā)生散射就越強(qiáng)， 反之亦然。X射線照射檢測物體后， 根據(jù)能量守恒定律，散射光子撞擊電 子能量減少，穿透物質(zhì)的能力較差， 因此，接收散射光子的探測器一般都 放在被檢物附近，以減少散射光子在 空氣中的衰減和二次散射。X射線背散射成像利用X射線飛 點(diǎn)發(fā)生器產(chǎn)生的X射線束，沿出射扇 面繞射線源心連續(xù)旋轉(zhuǎn)掃描被檢物， 完成飛點(diǎn)掃描探測，與射線源同側(cè)的 背散射探測器，接收散射光子并由光 電管轉(zhuǎn)變?yōu)殡娦盘柗糯筝敵?，?jì)算處圖2 左圖為單能透射X射線成像 右圖為背散射技術(shù)成像圖3 左圖為雙能透射X射線成像 右圖為背散射技術(shù)成像射成像的良好補(bǔ)充與完善。目前，公安部第一研究所已采用其專利技術(shù)將 雙能成像與背散射成像數(shù)據(jù)融合，可 以在同一屏幕上同時(shí)顯示融合圖像、 透射圖像及背散射圖像，并且三圖像 可任意切換，極大地提高了檢測質(zhì)量 和檢測效率。四、背散射成像技術(shù)被應(yīng)用于機(jī)動檢查
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