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正文內(nèi)容

級無損檢測人員復試專題三特種設備無損檢測儀器設備校準或核查的探討謝常歡(編輯修改稿)

2025-06-01 22:33 本頁面
 

【文章內(nèi)容簡介】 ng》 (無損檢測的認可) 3) HOKLAS Supplementary Criteria No. 15《 Accreditation of NonDestructive Tests for Welding of Steel and Metal》 (鋼和金屬焊 接的無損檢測認可) 4) A2LA 《 Non Destructive Program Requirements》 (無損檢測計 劃要求) 第 37頁 筆者 在 2022年 解讀 了 香港實驗室認可 的 《 鋼和金屬焊接的無損檢測的認可 準則增補第 15》 ( HOKLAS Supplementary Criteria 《 Accreditation of Non Destructive Tests for Welding of Steel and Metal》 ), 受該準則的啟發(fā),就保證 檢測 結(jié)果準確 和滿足 量值溯源 上,筆者對特種設備無損檢測儀器設備的檢 定、校準及核查提出了探討。 在 2022年 6月 遠東無損檢 測新技術(shù)論壇 發(fā)表 “ 特種設備無損檢測儀器設備 檢 定與校準 的思考 ” 第 37頁 (一)香港實驗室認可準則增補第 15的解讀 HOKLAS Supplementary Criteria No. 15《 Accreditation of Non Destructive Tests for Welding of Steel and Metal》 : 建筑材料檢測類,焊接小類,分有 無損檢測 和 損害檢測 兩種。 1 介紹 HOKLAS_Supplementary_Criteria_No[1]._15 本準則增補 是對 HKAS002(香港認可處認可規(guī)則) 和 HOKLAS 003(實 驗所認可技術(shù)準則 ISO/IEC 17025:2022) 的補充和解釋。 無損檢測 的方法包括如下幾種: 超聲波檢 測( UT) 磁粉檢測 ( MT) 滲透檢測 ( PT) 射線檢測 ( RT) 外觀檢查 ( VE) 第 37頁 設備類型 建議最長 校準 /校驗間隔 校準 /校驗 的工藝或指南以 及所需要的設備 探頭和電傳感裝置 (組合調(diào)試) 每次使用前 校準試塊參考標準或校準試 塊 校準試塊參考標準(例如: V1/A IOW、 V2/A梯試塊和 A7試塊)( 材料性能 ) 最初 符合 EN27963或 BS2704 或 相當?shù)臉藴?,知?制造商的 合格書 JB/T 校準試塊參考標準(例如: V1/A IOW、 V2/A階梯試塊 和 A7試塊)( 表面狀態(tài) ) 每次使用前 外觀檢查腐蝕及機械損傷情 況 校準試塊 參考標準 ( 半徑及其它尺寸檢查 ) 8年 按 HOKLAS003 之 ( d 條款規(guī)定的 有資格的校準機 構(gòu) 附錄 A:詳 細的 (明確的) 校準要求 UT檢測 校準要求 ) 第 37頁 設備類型 建議最長 校準 /校驗間隔 校準 /校驗 的工藝或指南以 及所需要的設備 校準試塊 (檢測 現(xiàn)場使用 ,例如: V2/A4 試塊) 最初 按 HOKLAS003 之 ( d 條款定義的 有資格的校準機 構(gòu) 1年 參照適合的校準試塊參考標 準檢查尺寸 比對校準試塊 ( 材料性能 ,例如: DAC試塊) 最初 制造商的材料證書 比對校準試塊 ( 表面狀態(tài) ,例如: DAC試塊) 每次使用前 外觀檢查腐蝕及機械損傷情 況 比對校準試塊 ( 尺寸 ,例如: DAC試塊) 1年 用經(jīng)校準一次的測量工具檢 查尺寸 ) 設備類型 建議最長 校準 /校驗間隔 校準 /校驗 的工藝或指南以 及所需要的設備 超聲波檢測系統(tǒng) (測試部件、探頭和連接電纜) a、檢查外觀損壞情況 每次使用前 檢查所有部件及相關裝置的 外觀 b、水平線性 JB/T 3個月 每次使用前 按 BS2704, EN27963校準 試塊或相當 的試塊 c、垂直線性 每次使用前 按 BS2704, EN27963校準 試塊或相當 的試塊 超聲波探傷儀 EN 2年 1年 按 HOKLAS003 之 ( d 條款定義的 有資格的校準機 構(gòu) ,符合 BS4331或其它相 當?shù)?EN、 ISO標準要求 ) 設備類型 建議最長 校準 /校驗間隔 校準 /校驗 的工藝或指南以 及所需要的設備 超聲波 探頭 (特征 參數(shù)) a、 探頭前沿 每次使用前 按 BS2704, EN27963校準 試塊或相當 的試塊 JB/T 使用前 b、 探頭角 度 每次使用前 c、 主聲束偏離 (偏斜 ) 每次使用前 d、傳輸補償 每次使用前 按 BS2704, BS EN5832校 準試塊或相當 的試塊 e、 靈敏度 和信噪比 JB/T f、聲束剖面尺寸 每個月 每個月 按 BS2704, EN27963校準 試塊或相當 的試塊 按 BS2704校準試塊或相當 的試塊 g、總系統(tǒng)增益 每個月 按 BS2704, EN27963校準 試塊或相當 的試塊 設備類型 建議最長 校準 /校驗間隔 校準 /校驗 的工藝或指南以 及所需要的設備 磁懸液中固體物含量 每批 符合標準(例如: BS、 ASTM、或 EN)的制造商 的合 格證書 每批樣品 檢查磁懸液中固體物含量符 合相關標準 熒光磁懸液及磁粉 JB/T (在檢測表面) 2 (中國 1000μ w/cm ) 每次檢測前 使用符合相關標準的 黑光幅 照計 檢查黑光幅照度 熒光磁懸液及磁粉 (周圍環(huán)境白光亮度) (中國 20lx) 每次檢測前 使用 白光照度計 檢查周圍環(huán) 境白光亮度 非熒光磁懸液及磁粉 (在檢測表面) (中國 1000lx) 每次檢測前 JB/T 使用 白光照度計 檢查照明強 度 MT檢測 校準要求 第 38頁 設備類型 建議最長 校準 /校驗間隔 校準 /校驗 的工藝或指南以 及所需要的設備 黑光幅照計 (作為參考標準表使用) 1年 JB/T 有資格的 校準機構(gòu) 黑光幅照計 (在工作中使用) 1個月 與作參考標準的黑光幅照計 對比檢查 白光照度計 (作為參考標準表使用) 1年 JB/T 有資格的 校準機構(gòu) 白光照度計 (在工作中使用) 1個月 與作參考標準的白光照度計 對比檢查 磁場指示器 磁懸液指示靈敏度 設備類型 永久磁鐵和電磁軛 提升力重力試塊 (用于檢查磁力強度) 45N、 177N、 118N 磁場方向 建議最長 校準 /校驗間隔 每 次檢測前 2年 每次檢測前 知名制造商的合格證 使用符合相關標準的靈敏度 試片 JB/T 校準 /校驗的工藝或指南以 及所需要的設備 通過測量提升力或拉脫力檢 查是否符合相關標準 半年 采用合適的秤重天平校準 使用磁場指示器檢查磁場方 向符合相關的標準 最初 3個月 JB/T 檢測前 設備類型 建議最長 校準 /校驗間隔 校準 /校驗 的工藝或指南以 及所需要的設備 滲透檢測劑 每次檢測前 符合相關標準的制造商合格 證書 熒光 滲透檢測 (在檢測表面檢查黑光輻照度) 每次檢測前 JB/T 檢測前 使用 黑光幅照計 檢查黑光幅 照度 非熒光 滲透檢測 (在檢測表面檢查白光照度) 每次檢測前 使用 白光照度計 檢查照明強 度 PT檢測 校準要求 JB/T 檢測前 JB/T 檢測前 第 39頁 設備類型 建議最長 校準 /校驗間隔 校準 /校驗 的工藝或指南以 及所需要的設備 黑光幅照計 (作為參考標準表使用) 1年 JB/T 有資格的 校準機構(gòu) 1年 黑光幅照計 (在工作中使用) 1個月 與作參考標準的黑光幅照計 對比檢查 白光照度計 (作為參考標準表使用) 1年 JB/T 有資格的 校準機構(gòu) 1年 白光照度計 (在工作中使用) 1個月 與作參考標準的白光照度計 對比檢查 設備類型 建議最長 校準 /校驗間隔 校準 /校驗 的工藝或指南以 及所需要的設備 X射線設備 1年 檢查焦點尺寸符合相關的標 準 針空板 (當標準有要求時) (用于檢查焦點尺寸) 10年 按 HOKLAS003 之 ( d 條款定義的 有資格的 校準 機 構(gòu) 幾何不清晰度(當標準有要求時) 每次檢測前 BS2600: 1983圖 2和 款或相關標準 放射同位素 最初 有衰減圖及尺寸記錄的檔 案,制造商的合格證 r射線曝光量計算器 最初 制造商的合格證,或使用適 當?shù)臋z查方法 RT檢測 校準要求 ) 第 39頁 設備類型 建議最長 校準 /校驗間隔 校準 /校驗 的工藝或指南以 及所需要的設備 射線底片 (每批) 最初 檢查
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