【文章內(nèi)容簡介】 ng》 （無損檢測的認(rèn)可） 3） HOKLAS Supplementary Criteria No. 15《 Accreditation of NonDestructive Tests for Welding of Steel and Metal》 （鋼和金屬焊 接的無損檢測認(rèn)可） 4） A2LA 《 Non Destructive Program Requirements》 （無損檢測計(jì) 劃要求） 第 37頁 筆者 在 2022年 解讀 了 香港實(shí)驗(yàn)室認(rèn)可 的 《 鋼和金屬焊接的無損檢測的認(rèn)可 準(zhǔn)則增補(bǔ)第 15》 （ HOKLAS Supplementary Criteria 《 Accreditation of Non Destructive Tests for Welding of Steel and Metal》 ）， 受該準(zhǔn)則的啟發(fā)，就保證 檢測 結(jié)果準(zhǔn)確 和滿足 量值溯源 上，筆者對特種設(shè)備無損檢測儀器設(shè)備的檢 定、校準(zhǔn)及核查提出了探討。 在 2022年 6月 遠(yuǎn)東無損檢 測新技術(shù)論壇 發(fā)表 “ 特種設(shè)備無損檢測儀器設(shè)備 檢 定與校準(zhǔn) 的思考 ” 第 37頁 （一）香港實(shí)驗(yàn)室認(rèn)可準(zhǔn)則增補(bǔ)第 15的解讀 HOKLAS Supplementary Criteria No. 15《 Accreditation of Non Destructive Tests for Welding of Steel and Metal》 ： 建筑材料檢測類，焊接小類，分有 無損檢測 和 損害檢測 兩種。 1 介紹 HOKLAS_Supplementary_Criteria_No[1]._15 本準(zhǔn)則增補(bǔ) 是對 HKAS002（香港認(rèn)可處認(rèn)可規(guī)則） 和 HOKLAS 003（實(shí) 驗(yàn)所認(rèn)可技術(shù)準(zhǔn)則 ISO/IEC 17025:2022） 的補(bǔ)充和解釋。 無損檢測 的方法包括如下幾種： 超聲波檢 測（ UT） 磁粉檢測 （ MT） 滲透檢測 （ PT） 射線檢測 （ RT） 外觀檢查 （ VE） 第 37頁 設(shè)備類型 建議最長 校準(zhǔn) /校驗(yàn)間隔 校準(zhǔn) /校驗(yàn) 的工藝或指南以 及所需要的設(shè)備 探頭和電傳感裝置 （組合調(diào)試） 每次使用前 校準(zhǔn)試塊參考標(biāo)準(zhǔn)或校準(zhǔn)試 塊 校準(zhǔn)試塊參考標(biāo)準(zhǔn)（例如： V1/A IOW、 V2/A梯試塊和 A7試塊）（ 材料性能 ） 最初 符合 EN27963或 BS2704 或 相當(dāng)?shù)臉?biāo)準(zhǔn)，知名 制造商的 合格書 JB/T 校準(zhǔn)試塊參考標(biāo)準(zhǔn)（例如： V1/A IOW、 V2/A階梯試塊 和 A7試塊）（ 表面狀態(tài) ） 每次使用前 外觀檢查腐蝕及機(jī)械損傷情 況 校準(zhǔn)試塊 參考標(biāo)準(zhǔn) （ 半徑及其它尺寸檢查 ） 8年 按 HOKLAS003 之 （ d 條款規(guī)定的 有資格的校準(zhǔn)機(jī) 構(gòu) 附錄 A：詳 細(xì)的 （明確的） 校準(zhǔn)要求 UT檢測 校準(zhǔn)要求 ） 第 37頁 設(shè)備類型 建議最長 校準(zhǔn) /校驗(yàn)間隔 校準(zhǔn) /校驗(yàn) 的工藝或指南以 及所需要的設(shè)備 校準(zhǔn)試塊 （檢測 現(xiàn)場使用 ，例如： V2/A4 試塊） 最初 按 HOKLAS003 之 （ d 條款定義的 有資格的校準(zhǔn)機(jī) 構(gòu) 1年 參照適合的校準(zhǔn)試塊參考標(biāo) 準(zhǔn)檢查尺寸 比對校準(zhǔn)試塊 （ 材料性能 ，例如： DAC試塊） 最初 制造商的材料證書 比對校準(zhǔn)試塊 （ 表面狀態(tài) ，例如： DAC試塊） 每次使用前 外觀檢查腐蝕及機(jī)械損傷情 況 比對校準(zhǔn)試塊 （ 尺寸 ，例如： DAC試塊） 1年 用經(jīng)校準(zhǔn)一次的測量工具檢 查尺寸 ） 設(shè)備類型 建議最長 校準(zhǔn) /校驗(yàn)間隔 校準(zhǔn) /校驗(yàn) 的工藝或指南以 及所需要的設(shè)備 超聲波檢測系統(tǒng) （測試部件、探頭和連接電纜） a、檢查外觀損壞情況 每次使用前 檢查所有部件及相關(guān)裝置的 外觀 b、水平線性 JB/T 3個(gè)月 每次使用前 按 BS2704， EN27963校準(zhǔn) 試塊或相當(dāng) 的試塊 c、垂直線性 每次使用前 按 BS2704， EN27963校準(zhǔn) 試塊或相當(dāng) 的試塊 超聲波探傷儀 EN 2年 1年 按 HOKLAS003 之 （ d 條款定義的 有資格的校準(zhǔn)機(jī) 構(gòu) ，符合 BS4331或其它相 當(dāng)?shù)?EN、 ISO標(biāo)準(zhǔn)要求 ） 設(shè)備類型 建議最長 校準(zhǔn) /校驗(yàn)間隔 校準(zhǔn) /校驗(yàn) 的工藝或指南以 及所需要的設(shè)備 超聲波 探頭 （特征 參數(shù)） a、 探頭前沿 每次使用前 按 BS2704， EN27963校準(zhǔn) 試塊或相當(dāng) 的試塊 JB/T 使用前 b、 探頭角 度 每次使用前 c、 主聲束偏離 （偏斜 ） 每次使用前 d、傳輸補(bǔ)償 每次使用前 按 BS2704， BS EN5832校 準(zhǔn)試塊或相當(dāng) 的試塊 e、 靈敏度 和信噪比 JB/T f、聲束剖面尺寸 每個(gè)月 每個(gè)月 按 BS2704， EN27963校準(zhǔn) 試塊或相當(dāng) 的試塊 按 BS2704校準(zhǔn)試塊或相當(dāng) 的試塊 g、總系統(tǒng)增益 每個(gè)月 按 BS2704， EN27963校準(zhǔn) 試塊或相當(dāng) 的試塊 設(shè)備類型 建議最長 校準(zhǔn) /校驗(yàn)間隔 校準(zhǔn) /校驗(yàn) 的工藝或指南以 及所需要的設(shè)備 磁懸液中固體物含量 每批 符合標(biāo)準(zhǔn)（例如： BS、 ASTM、或 EN）的制造商 的合 格證書 每批樣品 檢查磁懸液中固體物含量符 合相關(guān)標(biāo)準(zhǔn) 熒光磁懸液及磁粉 JB/T （在檢測表面） 2 (中國 1000μ w/cm ) 每次檢測前 使用符合相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)的 黑光幅 照計(jì) 檢查黑光幅照度 熒光磁懸液及磁粉 （周圍環(huán)境白光亮度） (中國 20lx) 每次檢測前 使用 白光照度計(jì) 檢查周圍環(huán) 境白光亮度 非熒光磁懸液及磁粉 （在檢測表面） (中國 1000lx) 每次檢測前 JB/T 使用 白光照度計(jì) 檢查照明強(qiáng) 度 MT檢測 校準(zhǔn)要求 第 38頁 設(shè)備類型 建議最長 校準(zhǔn) /校驗(yàn)間隔 校準(zhǔn) /校驗(yàn) 的工藝或指南以 及所需要的設(shè)備 黑光幅照計(jì) （作為參考標(biāo)準(zhǔn)表使用） 1年 JB/T 有資格的 校準(zhǔn)機(jī)構(gòu) 黑光幅照計(jì) （在工作中使用） 1個(gè)月 與作參考標(biāo)準(zhǔn)的黑光幅照計(jì) 對比檢查 白光照度計(jì) （作為參考標(biāo)準(zhǔn)表使用） 1年 JB/T 有資格的 校準(zhǔn)機(jī)構(gòu) 白光照度計(jì) （在工作中使用） 1個(gè)月 與作參考標(biāo)準(zhǔn)的白光照度計(jì) 對比檢查 磁場指示器 磁懸液指示靈敏度 設(shè)備類型 永久磁鐵和電磁軛 提升力重力試塊 （用于檢查磁力強(qiáng)度） 45N、 177N、 118N 磁場方向 建議最長 校準(zhǔn) /校驗(yàn)間隔 每 次檢測前 2年 每次檢測前 知名制造商的合格證 使用符合相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)的靈敏度 試片 JB/T 校準(zhǔn) /校驗(yàn)的工藝或指南以 及所需要的設(shè)備 通過測量提升力或拉脫力檢 查是否符合相關(guān)標(biāo)準(zhǔn) 半年 采用合適的秤重天平校準(zhǔn) 使用磁場指示器檢查磁場方 向符合相關(guān)的標(biāo)準(zhǔn) 最初 3個(gè)月 JB/T 檢測前 設(shè)備類型 建議最長 校準(zhǔn) /校驗(yàn)間隔 校準(zhǔn) /校驗(yàn) 的工藝或指南以 及所需要的設(shè)備 滲透檢測劑 每次檢測前 符合相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)的制造商合格 證書 熒光 滲透檢測 （在檢測表面檢查黑光輻照度） 每次檢測前 JB/T 檢測前 使用 黑光幅照計(jì) 檢查黑光幅 照度 非熒光 滲透檢測 （在檢測表面檢查白光照度） 每次檢測前 使用 白光照度計(jì) 檢查照明強(qiáng) 度 PT檢測 校準(zhǔn)要求 JB/T 檢測前 JB/T 檢測前 第 39頁 設(shè)備類型 建議最長 校準(zhǔn) /校驗(yàn)間隔 校準(zhǔn) /校驗(yàn) 的工藝或指南以 及所需要的設(shè)備 黑光幅照計(jì) （作為參考標(biāo)準(zhǔn)表使用） 1年 JB/T 有資格的 校準(zhǔn)機(jī)構(gòu) 1年 黑光幅照計(jì) （在工作中使用） 1個(gè)月 與作參考標(biāo)準(zhǔn)的黑光幅照計(jì) 對比檢查 白光照度計(jì) （作為參考標(biāo)準(zhǔn)表使用） 1年 JB/T 有資格的 校準(zhǔn)機(jī)構(gòu) 1年 白光照度計(jì) （在工作中使用） 1個(gè)月 與作參考標(biāo)準(zhǔn)的白光照度計(jì) 對比檢查 設(shè)備類型 建議最長 校準(zhǔn) /校驗(yàn)間隔 校準(zhǔn) /校驗(yàn) 的工藝或指南以 及所需要的設(shè)備 X射線設(shè)備 1年 檢查焦點(diǎn)尺寸符合相關(guān)的標(biāo) 準(zhǔn) 針空板 （當(dāng)標(biāo)準(zhǔn)有要求時(shí)） （用于檢查焦點(diǎn)尺寸） 10年 按 HOKLAS003 之 （ d 條款定義的 有資格的 校準(zhǔn) 機(jī) 構(gòu) 幾何不清晰度（當(dāng)標(biāo)準(zhǔn)有要求時(shí)） 每次檢測前 BS2600： 1983圖 2和 款或相關(guān)標(biāo)準(zhǔn) 放射同位素 最初 有衰減圖及尺寸記錄的檔 案，制造商的合格證 r射線曝光量計(jì)算器 最初 制造商的合格證，或使用適 當(dāng)?shù)臋z查方法 RT檢測 校準(zhǔn)要求 ） 第 39頁 設(shè)備類型 建議最長 校準(zhǔn) /校驗(yàn)間隔 校準(zhǔn) /校驗(yàn) 的工藝或指南以 及所需要的設(shè)備 射線底片 （每批） 最初 檢查