【正文】 準的基本要求，其中內(nèi)部 校準所使用的標準設(shè)備、標準校準方法 （參考） 以及建議的校準周期見下表： 第 42頁 儀器設(shè)備名稱 內(nèi)部校準所用的 標準設(shè)備 （含有證標準物質(zhì)、標準樣 品、參考測量儀器等） 內(nèi)部校準方法 （參考） 建議校 準周期 涂層測厚儀 標準用厚度片 JJG 8891995《 磁阻法測厚儀檢定規(guī)程 》 JJG 8182022《 磁性、電渦流式覆層厚度測 量儀檢定規(guī)程 》 1年 里氏硬度計 天平、立式光學計、投影儀、 顯微鏡、標準里氏硬度塊 JJG7471999《 里氏硬度計檢定規(guī)程 》 4年 直讀光譜儀 低合金鋼或碳素鋼光譜分析 標準物質(zhì)、兆歐表 JJG7682022《 發(fā)射光譜儀檢定規(guī)程 》 5年 X射線熒光光譜儀 （尼通） 標準鋼樣 制造商推薦方法或?qū)嶒炇议g比對 6個月 （二） 核查 的實施 在實驗室認可 CNASCL01《 檢測和校準實驗室能力認可準則 》 第 條規(guī)定的是 “ 對結(jié)果 有重要影響的儀器的 關(guān)鍵量 或 值 ，應(yīng)制定校準計劃 ” 。 （ JB/T ） HK:參考 1年 HK:工作 1個月 HK:檢測前 厚度檢測 超聲測厚儀每 1年，應(yīng)進行校準 （或內(nèi)部校準）， 方法 參照 JJG 4031986《 超聲波測厚儀檢定規(guī)程 》 或 JJF12662022《 超聲波測厚儀校 準規(guī)范 》 。 （ JB/T ） HK:使用前 HK:2年 磁粉檢測設(shè)備的電流表，至少每半年進 行核查或校準（或 內(nèi)部校 HK:參考 1年 HK:工作 1個月 核查 （注：校驗結(jié)果記錄一般在原始記錄上） 。 （ JB/T ） EN 126681:2022《 無損檢測 超聲檢測設(shè)備的性能與驗證 第 1部分：儀器 》 HK:初次 、對比試塊，應(yīng)有有效的合格證書。 無損檢測 的方法包括如下幾種： 超聲波檢 測（ UT） 磁粉檢測 （ MT） 滲透檢測 （ PT） 射線檢測 （ RT） 外觀檢查 （ VE） 第 37頁 設(shè)備類型 建議最長 校準 /校驗間隔 校準 /校驗 的工藝或指南以 及所需要的設(shè)備 探頭和電傳感裝置 （組合調(diào)試） 每次使用前 校準試塊參考標準或校準試 塊 校準試塊參考標準（例如： V1/A IOW、 V2/A梯試塊和 A7試塊）（ 材料性能 ） 最初 符合 EN27963或 BS2704 或 相當?shù)臉藴?，知?制造商的 合格書 JB/T 校準試塊參考標準（例如： V1/A IOW、 V2/A階梯試塊 和 A7試塊）（ 表面狀態(tài) ） 每次使用前 外觀檢查腐蝕及機械損傷情 況 校準試塊 參考標準 （ 半徑及其它尺寸檢查 ） 8年 按 HOKLAS003 之 （ d 條款規(guī)定的 有資格的校準機 構(gòu) 附錄 A：詳 細的 （明確的） 校準要求 UT檢測 校準要求 ） 第 37頁 設(shè)備類型 建議最長 校準 /校驗間隔 校準 /校驗 的工藝或指南以 及所需要的設(shè)備 校準試塊 （檢測 現(xiàn)場使用 ，例如： V2/A4 試塊） 最初 按 HOKLAS003 之 （ d 條款定義的 有資格的校準機 構(gòu) 1年 參照適合的校準試塊參考標 準檢查尺寸 比對校準試塊 （ 材料性能 ，例如： DAC試塊） 最初 制造商的材料證書 比對校準試塊 （ 表面狀態(tài) ，例如： DAC試塊） 每次使用前 外觀檢查腐蝕及機械損傷情 況 比對校準試塊 （ 尺寸 ，例如： DAC試塊） 1年 用經(jīng)校準一次的測量工具檢 查尺寸 ） 設(shè)備類型 建議最長 校準 /校驗間隔 校準 /校驗 的工藝或指南以 及所需要的設(shè)備 超聲波檢測系統(tǒng) （測試部件、探頭和連接電纜） a、檢查外觀損壞情況 每次使用前 檢查所有部件及相關(guān)裝置的 外觀 b、水平線性 JB/T 3個月 每次使用前 按 BS2704， EN27963校準 試塊或相當 的試塊 c、垂直線性 每次使用前 按 BS2704， EN27963校準 試塊或相當 的試塊 超聲波探傷儀 EN 2年 1年 按 HOKLAS003 之 （ d 條款定義的 有資格的校準機 構(gòu) ，符合 BS4331或其它相 當?shù)?EN、 ISO標準要求 ） 設(shè)備類型 建議最長 校準 /校驗間隔 校準 /校驗 的工藝或指南以 及所需要的設(shè)備 超聲波 探頭 （特征 參數(shù)） a、 探頭前沿 每次使用前 按 BS2704， EN27963校準 試塊或相當 的試塊 JB/T 使用前 b、 探頭角 度 每次使用前 c、 主聲束偏離 （偏斜 ） 每次使用前 d、傳輸補償 每次使用前 按 BS2704， BS EN5832校 準試塊或相當 的試塊 e、 靈敏度 和信噪比 JB/T f、聲束剖面尺寸 每個月 每個月 按 BS2704， EN27963校準 試塊或相當 的試塊 按 BS2704校準試塊或相當 的試塊 g、總系統(tǒng)增益 每個月 按 BS2704， EN27963校準 試塊或相當 的試塊 設(shè)備類型 建議最長 校準 /校驗間隔 校準 /校驗 的工藝或指南以 及所需要的設(shè)備 磁懸液中固體物含量 每批 符合標準（例如： BS、 ASTM、或 EN）的制造商 的合 格證書 每批樣品 檢查磁懸液中固體物含量符 合相關(guān)標準 熒光磁懸液及磁粉 JB/T （在檢測表面） 2 (中國 1000μ w/cm ) 每次檢測前 使用符合相關(guān)標準的 黑光幅 照計 檢查黑光幅照度 熒光磁懸液及磁粉 （周圍環(huán)境白光亮度） (中國 20lx) 每次檢測前 使用 白光照度計 檢查周圍環(huán) 境白光亮度 非熒光磁懸液及磁粉 （在檢測表面） (中國 1000lx) 每次檢測前 JB/T 使用 白光照度計 檢查照明強 度 MT檢測 校準要求 第 38頁 設(shè)備類型 建議最長 校準 /校驗間隔 校準 /校驗 的工藝或指南以 及所需要的設(shè)備 黑光幅照計 （作為參考標準表使用） 1年 JB/T 有資格的 校準機構(gòu) 黑光幅照計 （在工作中使用） 1個月 與作參考標準的黑光幅照計 對比檢查 白光照度計 （作為參考標準表使用） 1年 JB/T 有資格的 校準機構(gòu) 白光照度計 （在工作中使用） 1個月 與作參考標準的白光照度計 對比檢查 磁場指示器 磁懸液指示靈敏度 設(shè)備類型 永久磁鐵和電磁軛 提升力重力試塊 （用于檢查磁力強度） 45N、 177N、 118N 磁場方向 建議最長 校準 /校驗間隔 每 次檢測前 2年 每次檢測前 知名制造商的合格證 使用符合相關(guān)標準的靈敏度 試片 JB/T 校準 /校驗的工藝或指南以 及所需要的設(shè)備 通過測量提升力或拉脫力檢 查是否符合相關(guān)標準 半年 采用合適的秤重天平校準 使用磁場指示器檢查磁場方 向符合相關(guān)的標準 最初 3個月 JB/T 檢測前 設(shè)備類型 建議最長 校準 /校驗間隔 校準 /校驗 的工藝或指南以 及所需要的設(shè)備 滲透檢測劑 每次檢測前 符合相關(guān)標準的制造商合格 證書 熒光 滲透檢測 （在檢測表面檢查黑光輻照度） 每次檢測前 JB/T 檢測前 使用 黑光幅照計 檢查黑光幅 照度 非熒光 滲透檢測 （在檢測表面檢查白光照度） 每次檢測前 使用 白光照度計 檢查照明強 度 PT檢測 校準要求 JB/T 檢測前 JB/T 檢測前 第 39頁 設(shè)備類型 建議最長 校準 /校驗間隔 校準 /校驗 的工藝或指南以 及所需要的設(shè)備 黑光幅照計 （作為參考標準表使用） 1年 JB/T 有資格的 校準機構(gòu) 1年 黑光幅照計 （在工作中使用） 1個月 與作參考標準的黑光幅照計 對比檢查 白光照度計 （作為參考標準表使用） 1年 JB/T 有資格的 校準機構(gòu) 1年 白光照度計 （在工作中使用） 1個月 與作參考標準的白光照度計 對比檢查 設(shè)備類型 建議最長 校準 /校驗間隔 校準 /校驗 的工藝或指南以 及所需要的設(shè)備 X射線設(shè)備 1年 檢查焦點尺寸符合相關(guān)的標 準 針空板 （當標準有要求時） （用于檢查焦點尺寸） 10年 按 HOKLAS003 之 （ d 條款定義的 有資格的 校準 機 構(gòu) 幾何不清晰度（當標準有要求時） 每次檢測前 BS2600： 1983圖 2和 款或相關(guān)標準 放射同位素 最初 有衰減圖及尺寸記錄的檔 案，制造商的合格證 r射線曝光量計算器 最初 制造商的合格證，或使用適 當?shù)臋z查方法 RT檢測 校準要求 ） 第 39頁 設(shè)備類型 建議最長 校準 /校驗間隔 校準 /校驗 的工藝或指南以 及所需要