超聲波檢測第三章ppt課件(編輯修改稿)
2025-05-30 18:28 本頁面
【文章內(nèi)容簡介】 材料的聲速、衰減性能等。 試塊的種類和結(jié)構(gòu) 1) IIW試塊 T R 2R IIW試塊是國際焊接學(xué)會(huì)標(biāo)準(zhǔn)試塊，該試塊是荷蘭代表首先提出來的，故又稱荷蘭試塊，因形狀似船形又稱船形試塊。 2) IIW2試塊 (牛角試塊 ) T 25 100 T 25 50 75 100 中心不開槽 中心開槽 IIW2試塊也是國際焊接學(xué)會(huì)標(biāo)準(zhǔn)試塊，由于外形像牛角，故俗稱牛角試塊。與IIW試塊相比 IIW2試塊體積小重量輕，形狀簡單，易加工，便攜帶，但功能較IIW試塊要少。 3) 半圓試塊 R 3R T 半圓試塊是一種便于攜帶的調(diào)校型試塊，材質(zhì)與 IIW試塊相同，分中心開切口槽與不開槽兩種。 4) CSKIA試塊 R50 R100 T CSKIA試塊是國內(nèi)自主設(shè)計(jì)的標(biāo)準(zhǔn)試塊，功能與 IIW試塊相同。增加了R50的反射面。 5) CS CS2試塊 6) CSKIIIA 試塊 (參考試塊 ) 超聲波探傷儀 一、 超聲波探傷儀的概述 １、 超聲波探傷儀的作用 超聲波探傷儀是超聲波探作的主體設(shè)備，它的作用是產(chǎn)生電振蕩并加于換能器（探頭）上，激勵(lì)探頭發(fā)射超聲波，同時(shí)將探頭送回的電信號(hào)進(jìn)行放大，通過一定的方式顯示出來，從而得到被探工件內(nèi)部有無缺陷及缺陷位置大小等信息。 二、 超聲波探傷儀的分類 １、按波形特征分類 i 脈沖波超聲波探傷儀 通過探頭向工件周期性的發(fā)射不連續(xù)且頻率不變的超聲波，要據(jù)超聲波的傳播時(shí)間及幅度判斷工件中的缺陷位置和大小，是目前使用最廣泛的探傷儀。 Ｔ－重復(fù)周期 f0=1/t0 －標(biāo)稱頻率 Ａ－振幅強(qiáng)度 １、按波形特征分類 ii 連續(xù)波超聲波探傷儀 這類儀器是連續(xù)的發(fā)射和接收頻率和振幅都不變的超聲信號(hào)，根據(jù)透過工件的超聲波變化判斷工件中有無缺陷及缺陷大小，這類儀器靈敏度低，且不能確定缺陷位置，因而已大多被脈沖波探傷儀所代替。 二、 超聲波探傷儀的分類 １、按波形特征分類 iii 調(diào)頻波超聲波探傷儀 這類儀器通過探頭向工件中發(fā)射 連續(xù)的頻率周期性變化的超聲波，根據(jù)發(fā)射波與反射波的差頻變化情況判斷工件中有無缺陷。但只適合檢查與探測面平行的缺陷，所以也大多被脈沖波探傷儀所代替。 二、 超聲波探傷儀的分類 按缺陷顯示方式分類 i A型顯示超聲探傷儀 是目前脈沖反射式超聲波探傷儀最基本的一種顯示方式，在熒光屏上以縱座標(biāo)代表反射波的幅度，以橫座標(biāo)代表聲波的傳播時(shí)間，從缺陷波的幅度和位置來確定缺陷的大小和存在的位置。 二、 超聲波探傷儀的分類 按缺陷顯示方式分類 ii B型顯示超聲探傷儀 以屏幕面代表被檢測對(duì)旬由探頭移動(dòng)線和聲束決定的截面，縱座標(biāo)代表聲波的傳播時(shí)間，橫座標(biāo)代表探頭的水平位置，它可以顯示出缺陷在縱截面上的二維特征。 二、 超聲波探傷儀的分類 按缺陷顯示方式分類 iii C型顯示超聲探傷儀 是一種圖像顯示方式，以屏幕代表被檢測對(duì)象的投影面，這種顯示方式能給出缺陷的水平投影位置，但不能給出深度。 二、 超聲波探傷儀的分類 二、 超聲波探傷儀的分類 按聲波通道分類 ① 單通道探傷儀：這種
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