【文章內(nèi)容簡(jiǎn)介】 (1)距離－ dB曲線的繪制 K值，并根據(jù)板厚按水平或深度調(diào)節(jié)掃描速度，一般為 1： 1，這里按深度 1：1調(diào)節(jié)。 CSKⅢA 試塊上，衰減 48dB（假定），調(diào)［增益］旋鈕使深度為 10mm 的 φ 1 6橫孔最高回波達(dá)基準(zhǔn) 60％高，記下這時(shí)［衰減器］的讀數(shù)和孔深。然后分別檢測(cè)不同深度的 φ 1 6橫孔，［增益］旋鈕不動(dòng)，用［衰減器］將各孔的最高回波調(diào)至 60％，記下相應(yīng)的 dB值和孔深填入表 。并將板厚 T=30mm對(duì)應(yīng)的定量線、判廢線和評(píng)定線的 dB值填入表中（實(shí)際檢測(cè)中，只要測(cè)到 60mm深的橫孔即可）。 ，以孔深為橫坐標(biāo)，以 dB值為縱坐標(biāo)，在坐標(biāo)紙上描點(diǎn)繪出定量線、判廢線和評(píng)定線，標(biāo)出 Ⅰ 區(qū)、Ⅱ 區(qū)和 Ⅲ 區(qū)，并注明所用探頭的頻率、晶片尺寸和 K值，如圖。 表 舉例數(shù)據(jù)表 孔 深 (mm) 10 20 30 40 50 60 70 80 90 φ 1 6dB 52 50 47 44 41 38 36 34 32 φ 1 6＋ 5dB （判廢線） 57 55 52 49 46 43 41 39 37 φ 1 6－ 3dB （定量線） 49 47 44 41 38 35 33 21 29 φ 1 6－ 9dB （評(píng)定線） 43 41 38 35 32 29 27 25 23 －波幅曲線，若不相符，應(yīng)重測(cè)。 (2)距離－波幅曲線的應(yīng)用 ① .了解反射體波高與距離之間的對(duì)應(yīng)關(guān)系。 ② .調(diào)整檢測(cè)靈敏度：標(biāo)準(zhǔn)要求焊縫檢測(cè)靈敏度不低于評(píng)定線。這里 T＝ 30mm，評(píng)定線為 φ 1 6－ 9dB，二次波檢測(cè)最大深度為 60mm。由距離－波幅曲線可知掃查靈敏度為 29dB，因此將［衰減器］調(diào)到 29dB時(shí)靈敏度就調(diào)好了。若考慮耦合補(bǔ)償 3dB，那么靈敏度為 26dB。實(shí)際探傷過程中還應(yīng)定期利用某一深度的孔來校驗(yàn)探傷靈敏度。例如 d＝ 40mm的 φ 1 6橫孔回波是否為 44dB。 ③ .比較缺陷大?。豪?，檢測(cè)中發(fā)現(xiàn)兩個(gè)缺陷，缺陷1＃： df1=30mm，波高為 45dB，缺陷 2＃： df2=50mm，波高為 40dB，試比較二者的大小。 由距離－波幅曲線可知， d=30mm， φ 1 6橫孔波高為 47dB，所以缺陷 1＃當(dāng)量為 φ 1 6＋ 45－ 47＝φ 1 6－ 2dB。 d=50mm， φ 1 6橫孔波高為 41dB，所以缺陷 2當(dāng)量為 φ 1 6＋ 40－ 41＝ φ 1 6－ 1dB。不難看出缺陷 1小于缺陷 2。 ④ .確定缺陷所處區(qū)域：例如檢測(cè)中發(fā)現(xiàn)一缺陷df1=20mm，波高為 45dB，另一缺陷 df2=60mm，波高為 40dB。由距離－波幅曲線可知， d=20定量線為47dB，缺陷 1＃的波高為 45dB（＜ 47dB)，在定量線以下，即 Ⅰ 區(qū)。 d=60mm，定量線為 35dB,判廢線為 43dB，缺陷 2＃波高為 40dB（＞ 35dB），在定量線以上和判廢線以下，即 Ⅱ 區(qū)， 2面板曲線 （設(shè)板厚 T＝ 30mm） 實(shí)際檢測(cè)中，使用距離－ dB曲線比較麻煩，而面板曲線使用方便，可根據(jù)缺陷波高直接確定缺陷當(dāng)量和區(qū)域，目前國(guó)內(nèi)外應(yīng)用很廣。 (1)面板曲線的繪制 ① 測(cè)定探頭的入射點(diǎn)和 K值，根據(jù)板厚按深度或水平調(diào)節(jié)掃描速度，這里按深度 1： 1調(diào)節(jié)。 ② 2探頭對(duì)準(zhǔn) CSKⅢA 試塊上深度為 10mm的 φ 1 6橫孔找到最高回波，調(diào)至滿幅度的 100％（但不飽和），在面板上標(biāo)記波峰對(duì)應(yīng)的點(diǎn) 1，并記下此時(shí)的 dB值 N（假定 N=30dB）。 ③ .固定［增益］旋鈕和［衰減器］，分別檢測(cè)深度為 50、 60mm的 φ 1 6橫孔，找到最高回波，并在面板上標(biāo)記相應(yīng)波峰對(duì)應(yīng)的點(diǎn) 6，然后連接 6得到一條 φ 1 6的參考曲線，這就是面板曲線，如圖 。 (2)面板曲線的應(yīng)用 ① .靈敏度的調(diào)節(jié)：若工件厚度在 15～ 46mm范圍內(nèi)，評(píng)定線為 φ 1 6－ 9dB，只要在 N＝ 30dB的基礎(chǔ)上再提高 9dB，即［衰減器］讀數(shù)為 21dB，這時(shí)靈敏度就調(diào)好了。如果考慮補(bǔ)償，應(yīng)再提高需要補(bǔ)償?shù)?dB數(shù)。設(shè)補(bǔ)償 5dB，則衰減器讀數(shù)為 16dB即可。 ② .確定缺陷區(qū)域：檢測(cè)時(shí)若缺陷波高低于參考線，則說明缺陷波低于評(píng)定線，可以不予考慮。若缺陷波高于參考線，則用［衰減器］將缺陷波調(diào)至參考線，根據(jù)衰減的 dB值求出缺陷的當(dāng)量和區(qū)域。例如： ＋ 4dB，則缺陷當(dāng)量為 φ1 6－ 9＋ 4＝ φ1 6－ 5dB，在 Ⅰ 區(qū)。 ＋ 8dB，則缺陷當(dāng)量為 φ1 6－ 9＋ 8＝ φ1 6－ 1dB，在 Ⅱ 區(qū)。 ＋ 16dB，則缺陷當(dāng)量為 φ1 6－ 9＋ 16＝ φ1 6＋7dB，在 Ⅲ 區(qū)。 應(yīng)用上述面板曲線時(shí)，只要記?。?6dB和＋ 14dB即可。＋ 6dB表示缺陷達(dá)定量線，注意測(cè)長(zhǎng)。＋ 14dB表示缺陷達(dá)判廢線，應(yīng)判廢。 若將判廢線、定量線、評(píng)定線都繪在示波屏面板上，使用起來將更加方便。不過這時(shí)要求儀器的動(dòng)態(tài)范圍較大，垂直線性要更好一些。 對(duì)于現(xiàn)在廣泛使用的數(shù)字式超聲檢測(cè)儀，只需測(cè)出不同距離處的 φ 1 6最高回波，輸入評(píng)定線、定量線和判廢線與 φ 1 6波幅的差值，儀器即可同時(shí)將各線顯示于示波屏上，使用起來很方便。 在焊縫探傷中，試塊與工件上相同反射體的回波往往不同，其原因是二者聲能傳輸損失存在差異： 、曲率不同引起的表面耦合損失不同。 。 （二次波檢測(cè)）。實(shí)際檢測(cè)中，當(dāng)用試塊調(diào)靈敏度對(duì)工件進(jìn)行檢測(cè)時(shí)，為了保證在工件中發(fā)現(xiàn)規(guī)定大小的缺陷，應(yīng)測(cè)定試塊與工件聲能傳輸損失差，然后進(jìn)行適當(dāng)?shù)难a(bǔ)償。下面介紹測(cè)定聲能傳輸損失的幾種方法。 １ .薄板焊縫聲能損失差的測(cè)定 制作與被檢工件材質(zhì)相同或相近、厚度相同的平面型試板，其上下表面光潔度與 CSKⅢA 試塊相同，如圖 。用同型號(hào)的兩個(gè)斜探頭沿探傷方向置于工件上（不通過焊縫）。探頭間距為 3P（三次波探傷）。作一發(fā)一收測(cè)試，使其最大穿透波幅為示波屏上 3格高。在同樣條件下，用與上述相同的方法，將兩探頭置于平面型試板上 3P處，調(diào)節(jié) [衰減器 ]，使其最大穿透波幅也為 3格高，此時(shí)工件與試板的衰減 dB差，即為薄板焊縫的聲能損失差。不難看出，這樣測(cè)得的聲能損失包括了表面耦合損失差、底面反射損失差和材質(zhì)衰減損失差。這種方法是 JB115281標(biāo)準(zhǔn)推薦的方法 ,適用與試板與工件材質(zhì)相同或相近，厚度相同的薄板。 (1) 試板與工件材質(zhì)相同 :作平面試板， A面粗糙度與被檢工件相同， B面粗糙度與 CSKⅢA 試塊相同，試板材質(zhì)、厚度與工件相同，見圖 。 用同型號(hào)的兩個(gè)斜探頭沿探傷方向置于焊縫兩側(cè)的探傷面上，作一發(fā)一收測(cè)試，使其最大穿透波幅為示波屏上 3格高。在同樣條件下，用與上述相同的方法，將兩探頭置于平面型試板 B面上，調(diào)節(jié) [衰減器 ]，使其最大穿透波幅也為 3格高，此時(shí)工件探測(cè)面與試板的衰減 dB差，即為上表面耦合聲能損失差，見 （ a）。 重復(fù)上述步驟，按圖 （ b）測(cè)出被檢工件（不通過焊縫）與平面型試板 A面的衰減 dB差。因探傷時(shí)聲束兩次觸及下表面，取其 dB差的兩倍，即為下表面反射聲能損失差， 上、下表面聲能損失差之和，即為反射法探傷聲能損失差。同樣這里測(cè)得的聲能損失差包括了表面耦合損失差、材質(zhì)衰減損失差和底面反射損失差。這種方法也是 JB1152－ 81標(biāo)準(zhǔn)推薦的方法，適用于試板與工件材質(zhì)相同或相近