巖心分析ppt課件(編輯修改稿)
2025-05-26 01:13 本頁面
【文章內(nèi)容簡介】 附加在晶層間的八面體晶片中的高價(jià)陽離子 Al3+置換低價(jià)陽離子 Mg2+所贏得的正電荷來平衡。216。蝕變綠泥石因水鎂石八面體晶片酸蝕失去了Mg2+、 Fe2+、 Al3+，將同伊利石失去 K+一樣，而出現(xiàn)晶層膨脹。蝕變綠泥石也稱降解綠泥石。特點(diǎn)：216。綠泥石晶層間聯(lián)系力除了范德華引力和水鎂鎂石八面體上 OH形成的 氫鍵 外，就是陽離子交換后形成的靜電力。216。所以綠泥石晶層一般 不具有膨脹性 。晶層間距（ d001)為 101nm。第三節(jié) 巖心分析技術(shù)及應(yīng)用一、 X射線衍射（ XRD）分析技術(shù)1. XRD分析原理 X射線衍射分析主要是對(duì)各種不同類型的晶體 (包括準(zhǔn)晶體 )物質(zhì)進(jìn)行分析。該分析技術(shù)能 定性鑒定或定量 測定出各 物相種類 及其 含量 ，通常測出的物相是固態(tài)相組成，而不是元素。 樣品要求： 細(xì)粉晶狀態(tài)，可以是兩種以上不同粉晶的混合樣品。所以又稱為粉晶 X射線物相分析。XRD是保護(hù)儲(chǔ)集層中巖相學(xué)分析應(yīng)用的主要分析方法之一 。 當(dāng) X射線通過晶體時(shí)，每一種結(jié)晶物質(zhì)都有自己獨(dú)特的衍射花樣，它們的衍射特征可以用各個(gè)反射面網(wǎng)的面網(wǎng)間距 (d值 )和反射的相對(duì)強(qiáng)度 (I/ I0)來表征。其中面網(wǎng)間距 d值與晶胞的形狀和大小有關(guān)，相對(duì)強(qiáng)度 (I / Io)則與晶體質(zhì)點(diǎn)的種類及其在晶胞中的位置有關(guān)。 任何一種結(jié)晶物質(zhì)的衍射數(shù)據(jù) d值和相對(duì)強(qiáng)度 (I / lo)值都是其晶體結(jié)構(gòu)的必然反映，它在衍射圖譜上表現(xiàn)出不同的衍射角和不同的衍射峰高 (強(qiáng)度 )。因而可以根據(jù)它們來鑒別各類結(jié)晶物質(zhì)包括巖石中各種礦物組成。 XRD的分析原理 XRD分析借助于 X射線衍射儀來實(shí)現(xiàn)，它主要由 光源、測角儀 、X射線檢測和記錄儀 構(gòu)成 。216。能快速準(zhǔn)確測定全巖礦物組分和粘土礦物組分。216。定性分析特點(diǎn)：216。定量分析（相對(duì)含量）粘土礦物分離方法 ：先將巖石抽提干凈，然后碎樣，用蒸餾水浸泡，最好濕式研磨，并用超聲波振蕩加速粘土從顆粒上脫落，提取粒徑小于 2um（泥、頁巖）或小于 5um（砂巖）的部分，沉降分離、烘干；XRD分析使用的定向片 ：包括自然干燥的定向片、經(jīng)乙二醇飽和的定向片（再加熱至 550℃ ），或鹽酸處理之后的自然干燥定向片。 地層微粒指粒徑小于 37181。m (或 44181。m)即能通過400目 (或 325目 )篩的細(xì)粒物質(zhì)，它是砂巖中重要的損害因素，砂巖中與礦物有關(guān)的地層損害都與其有密切的聯(lián)系。 地層微粒的分析為礦物微粒穩(wěn)定劑的篩選、解堵措施的優(yōu)化提供依據(jù)。除粘土礦物外，常見的其它地層微粒有長石、石英、云母、菱鐵礦、方解石、白云石、石膏等。 對(duì)粒徑大于 5181。m的非粘土礦物部分進(jìn)行 XRD分析，可以知道諸如云母、碳酸鹽礦物、黃鐵礦、長石的相對(duì)含量，對(duì)酸敏 (HF, HCI)性研究和酸化設(shè)計(jì)有幫助。長石含量高的砂巖，當(dāng)酸液濃度和處理規(guī)模過大時(shí)，會(huì)削弱巖石結(jié)構(gòu)的完整性，并且存在著酸化后的二次沉淀問題，可能導(dǎo)致土酸酸化失敗。 間層比指膨脹性單元層在間層礦物中所占比例，通常以蒙皂石層的百分含量表示。由衍射峰的特征，依據(jù)行業(yè)標(biāo)準(zhǔn) SY/T598394“伊利石 /蒙皂石間層礦物 X射線射鑒定方法 ”求出間層礦物間層比及間層類型 (綠泥石 /蒙皂石間層礦物間層比的標(biāo)準(zhǔn)化計(jì)算方法待定 ) 對(duì)間層礦物的間層類型、間層比和有高序度的研究有助于揭示油氣層中粘土礦物水化、膨脹、分散的特性。 二、掃描電鏡 (SEM)1. 分析原理 用途： 能提供孔隙內(nèi)充填物的礦物類型、大小、產(chǎn)狀的直觀資料，同時(shí)也是研究孔隙結(jié)構(gòu)的重要手段。測試儀器： 由電子 系統(tǒng)、掃描系統(tǒng)、信息檢測系統(tǒng)、真空系統(tǒng)和電源系統(tǒng)五大部分構(gòu)成 。原理： 利用類似電視攝像與顯像的方式，用細(xì)聚焦電子束 在樣品表面上由點(diǎn)到行（逐行）掃描，激發(fā)出能夠反映樣品表面特征的電信號(hào)，經(jīng)探測器放大處理后顯示出樣品的電子圖象。有些掃描電鏡配有 X射線能譜分析儀，因此能進(jìn)行微區(qū)元素分析。
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