定量測(cè)定規(guī)范的質(zhì)量控制(編輯修改稿)
2025-05-14 03:09 本頁面
【文章內(nèi)容簡(jiǎn)介】 計(jì)算的統(tǒng)計(jì)量每月總數(shù)月份 n ∑xi ∑xi2 x s────────────────────────────1 20 1985 197507 2 20 1995 199319 (40) (3980) (396825) () ()3 20 2000 200434 (60) (5980) (597259) () ()4 20 2022 204592 (80) (9002) (801851) () ()5 20 1991 198457 (100) (9993) (1000308) () ()────────────────────────────
? CL 暫定靶值(x)=? CL 暫定標(biāo)準(zhǔn)差(SD)=，CV=%? CL 常用靶值(x)=? CL 常用標(biāo)準(zhǔn)差(SD)=，CV=%
以TEa作為質(zhì)量目標(biāo)，美國(guó)CLIA88 CL的TEa為5％若要達(dá)到4σ精密度要求：CL的CV%＝TEa1/4(5％1/4)= ％SD=靶值CV%=＝但實(shí)測(cè)SD = ＞實(shí)測(cè)CV = ＞若要達(dá)到3σ精密度要求:CV≤%
出現(xiàn)的問題如CV很大，失控檢出率會(huì)很低。TE = 5% CV = %
可能出現(xiàn)的問題如CV很小，假失控率太高，浪費(fèi)人T E力物力。3 S D2 S D1 S DX1 S D2 S D3 S DT ETE = 10% CV = 1%
(1)誤差檢出概率Ped指檢出超過允許分析誤差那部分誤差的概率，理。(2)假失控概率Pfr當(dāng)分析批除了本身固有的隨機(jī)誤差外沒有其他誤差時(shí)，判斷分析批失控的概率，理想的Pfr應(yīng)為0。
通常誤差檢出概率達(dá)90%以上，假失控概率在5%以下可滿足一般臨床實(shí)驗(yàn)室的質(zhì)量要求。Ped和Pfr呈正相關(guān)，高Ped和低Pfr取決于對(duì)各種控制規(guī)則的精心選擇和取舍。
:將不同濃度水平繪制在圖上?LeveyJennings控制圖:?Z分?jǐn)?shù)圖:標(biāo)準(zhǔn)差指數(shù)圖?Youden圖:
?質(zhì)控圖：是對(duì)過程質(zhì)量加以測(cè)定、記錄，從而進(jìn)行評(píng)估和監(jiān)察過程是否處于控制狀態(tài)的一種統(tǒng)計(jì)方法設(shè)計(jì)的圖。?用途診斷：評(píng)估一個(gè)過程的穩(wěn)定性控制：決定某一過程何時(shí)需要調(diào)整，何時(shí)需要保持原有狀態(tài)確認(rèn)：確認(rèn)某一過程的改進(jìn)效果判斷：判斷過程正常還是異常
?產(chǎn)品質(zhì)量變異遵循一定的統(tǒng)計(jì)規(guī)律，具有變異性，變異具有統(tǒng)計(jì)規(guī)律性。?變異并非漫無邊際，而是在一定的范圍內(nèi)按照一定的統(tǒng)計(jì)規(guī)律變異，如計(jì)量數(shù)值服從正態(tài)分布，計(jì)件數(shù)值服從二項(xiàng)分布。
計(jì)量數(shù)值服從正態(tài)分布%%%%%μ3σμ2σμ1σμ μ+1σμ+2σμ+3σ產(chǎn)品質(zhì)量特性值落在μ177。%正態(tài)分布曲線下的面積
控制圖的演變?chǔ)? 3σμ 3σμμμ+ 3σμ 3σ( a )( b )
μ+ 3σUCLCL???μ?LCLμ 3σ時(shí)間8 9 10 11控制圖
LeveyJennings質(zhì)量控制圖135791113151719212325272931333537時(shí) 間：2005年9月濃度水平：正常（Precinorm） 儀器：日立7600血清來源：PNU（194739） 靶值：項(xiàng)目：TP單位：g/L方法：雙縮脲法SD：
Z分?jǐn)?shù)圖正常病理次數(shù)
(規(guī)則)的應(yīng)用將設(shè)計(jì)的質(zhì)控規(guī)則用于質(zhì)控?cái)?shù)據(jù)，判斷每一分析批是在控還是失控。?用于檢出隨機(jī)誤差的規(guī)則12S:警告13S:存在隨機(jī)誤差R4S:存在隨機(jī)誤差
? 用于檢出系統(tǒng)誤差的規(guī)則22S:警告31S: 存在系統(tǒng)誤差41S: 存在系統(tǒng)誤差7X、 8X 、9X 、10X:存在系統(tǒng)誤差? 多規(guī)則控制法13S/22S控制方法：13S/22S/R4S控制方法：Westgard多規(guī)則控制法：13S/22S/R4S/41S/10X
無固定模式，一般原則：由易到難、由近到遠(yuǎn)經(jīng)驗(yàn)：重點(diǎn)分析上批測(cè)定與這批的不同
?分析失控項(xiàng)目:所有或單個(gè)項(xiàng)目1)所有項(xiàng)目:首先排除試
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