【文章內(nèi)容簡介】 的規(guī)格應(yīng)與規(guī)格書要求一致目測★特殊S2元件外觀不能有臟污；目測★特殊S2尺寸元器件的封裝尺寸符合封裝要求，若不能辨別則用游標(biāo)卡尺或試裝檢驗其尺寸。目測/ 卡尺★特殊S2參數(shù)/性能檢測線圈電阻是否在規(guī)格書要求范圍內(nèi)。LCR★特殊S2通電/斷電觸點間電阻，接觸為趨近0Ω，斷開為無窮大。萬用表★特殊S2絕緣電阻測試（線圈引腳與各觸點間電阻應(yīng)無窮大）萬用表★特殊S2檢驗步驟及內(nèi)容對單：根據(jù)貨倉開出的 IQC 進(jìn)料檢驗單，核實相應(yīng)型號和數(shù)量，再查找相應(yīng)產(chǎn)品規(guī)格標(biāo)準(zhǔn)書。抽樣：根據(jù)檢驗項目，取待檢物料，準(zhǔn)備檢驗工具/儀器，參照規(guī)格書進(jìn)行隨機抽樣檢驗。判定/標(biāo)識：將不良品標(biāo)識清楚并及時隔離，以物料檢驗報告單的形式交由上級處理。將 PASS 好的物料做好標(biāo)識放入指定區(qū)域，并做好相關(guān)記錄。注意事項物料送檢時要及時檢驗，檢驗時須戴防靜電腕帶。引腳表面有氧化發(fā)黑時需做耐溫/可焊性試驗進(jìn)行進(jìn)一步確認(rèn)。檢測時，測量數(shù)據(jù)必須在規(guī)格標(biāo)準(zhǔn)的誤差范圍內(nèi)。圖示部品名稱可控硅適用范圍所有的可控硅抽樣方案GB/T ，一般檢查水平Ⅱ進(jìn)行(除特殊指定外)。 AQL=(CR),AQL=(Ma),AQL=(Mi)檢驗項目檢驗內(nèi)容及要求檢驗要求及工具不合格品缺陷分類備注/ 抽樣水平CRMaMi包裝/標(biāo)識檢查包裝及料盤外觀，應(yīng)無破損、變形、淋濕、散亂等現(xiàn)象；目測★盤裝物料，編帶應(yīng)符合規(guī)格書要求，無變形、破損、脫膠等現(xiàn)象；其余包裝以不傷物料本體為原則。目測★包裝箱上應(yīng)有物料碼、廠家名稱、型號、生產(chǎn)日期等標(biāo)識；目測★包裝內(nèi)實物應(yīng)與標(biāo)識內(nèi)容一致；目測★有無環(huán)保標(biāo)識（GREEN PRODUCT、RoSH、無鉛等）。目測★外觀檢查元件外觀是否有變形、裂紋、缺損等不良現(xiàn)象；目測★特殊S2檢查元件端電極（引腳）鍍層是否完整，電極（引腳）表面應(yīng)平滑、氧化、臟污等不良現(xiàn)象； 目測/ 顯微鏡★特殊S2元件上標(biāo)識的規(guī)格應(yīng)與規(guī)格書要求一致目測★特殊S2元件外觀不能有臟污；目測★特殊S2尺寸元器件的封裝尺寸符合封裝要求，若不能辨別則用游標(biāo)卡尺或試裝檢驗其尺寸。目測/ 卡尺★特殊S2參數(shù)/性能檢測用試裝的方式進(jìn)行測試產(chǎn)品各性能是否符合要求。樣品★特殊S2檢驗步驟及內(nèi)容對單：根據(jù)貨倉開出的 IQC 進(jìn)料檢驗單，核實相應(yīng)型號和數(shù)量，再查找相應(yīng)產(chǎn)品規(guī)格標(biāo)準(zhǔn)書。抽樣：根據(jù)檢驗項目，取待檢物料，準(zhǔn)備檢驗工具/儀器，參照規(guī)格書進(jìn)行隨機抽樣檢驗。判定/標(biāo)識：將不良品標(biāo)識清楚并及時隔離，以物料檢驗報告單的形式交由上級處理。將 PASS 好的物料做好標(biāo)識放入指定區(qū)域，并做好相關(guān)記錄。注意事項物料送檢時要及時檢驗，檢驗時須戴防靜電腕帶。引腳表面有氧化發(fā)黑時需做耐溫/可焊性試驗進(jìn)行進(jìn)一步確認(rèn)。檢測時，測量數(shù)據(jù)必須在規(guī)格標(biāo)準(zhǔn)的誤差范圍內(nèi)。圖示部品名稱光電耦合器適用范圍所有光電耦合器抽樣方案GB/T ，一般檢查水平Ⅱ進(jìn)行(除特殊指定外)。 AQL=(CR),AQL=(Ma),AQL=(Mi)檢驗項目檢驗內(nèi)容及要求檢驗要求及工具不合格品缺陷分類備注/ 抽樣水平CRMaMi包裝/標(biāo)識檢查包裝及料盤外觀，應(yīng)無破損、變形、淋濕、散亂等現(xiàn)象；目測★盤裝物料，編帶應(yīng)符合規(guī)格書要求，無變形、破損、脫膠等現(xiàn)象；其余包裝以不傷物料本體為原則。目測★包裝箱上應(yīng)有物料碼、廠家名稱、型號、生產(chǎn)日期等標(biāo)識；目測★包裝內(nèi)實物應(yīng)與標(biāo)識內(nèi)容一致；目測★有無環(huán)保標(biāo)識（GREEN PRODUCT、RoSH、無鉛等）。目測★外觀檢查元件外觀是否有變形、裂紋、缺損等不良現(xiàn)象；目測★特殊S2檢查元件端電極（引腳）鍍層是否完整，電極（引腳）表面應(yīng)平滑、氧化、臟污等不良現(xiàn)象； 目測/ 顯微鏡★特殊S2元件上標(biāo)識的規(guī)格應(yīng)與規(guī)格書要求一致目測★特殊S2元件外觀不能有臟污；目測★特殊S2尺寸元器件的封裝尺寸符合封裝要求，若不能辨別則用游標(biāo)卡尺或試裝檢驗其尺寸。目測/ 卡尺★特殊S2參數(shù)/性能檢測用試裝的方式進(jìn)行測試產(chǎn)品各性能是否符合要求。樣品★特殊S2檢驗步驟及內(nèi)容對單：根據(jù)貨倉開出的 IQC 進(jìn)料檢驗單，核實相應(yīng)型號和數(shù)量，再查找相應(yīng)產(chǎn)品規(guī)格標(biāo)準(zhǔn)書。抽樣：根據(jù)檢驗項目，取待檢物料，準(zhǔn)備檢驗工具/儀器，參照規(guī)格書進(jìn)行隨機抽樣檢驗。判定/標(biāo)識：將不良品標(biāo)識清楚并及時隔離，以物料檢驗報告單的形式交由上級處理。將 PASS 好的物料做好標(biāo)識放入指定區(qū)域，并做好相關(guān)記錄。注意事項物料送檢時要及時檢驗，檢驗時須戴防靜電腕帶。引腳表面有氧化發(fā)黑時需做耐溫/可焊性試驗進(jìn)行進(jìn)一步確認(rèn)。檢測時，測量數(shù)據(jù)必須在規(guī)格標(biāo)準(zhǔn)的誤差范圍內(nèi)。圖示部品名稱數(shù)碼管適用范圍所有數(shù)碼管抽樣方案GB/T ，一般檢查水平Ⅱ進(jìn)行(除特殊指定外)。 AQL=(CR),AQL=(Ma),AQL=(Mi)檢驗項目檢驗內(nèi)容及要求檢驗要求及工具不合格品缺陷分類備注/ 抽樣水平CRMaMi包裝/標(biāo)識檢查包裝及料盤外觀，應(yīng)無破損、變形、淋濕、散亂等現(xiàn)象；目測★盤裝物料，編帶應(yīng)符合規(guī)格書要求，無變形、破損、脫膠等現(xiàn)象；其余包裝以不傷物料本體為原則。目測★包裝箱上應(yīng)有物料碼、廠家名稱、型號、生產(chǎn)日期等標(biāo)識；目測★包裝內(nèi)實物應(yīng)與標(biāo)識內(nèi)容一致；目測★有無環(huán)保標(biāo)識（GREEN PRODUCT、RoSH、無鉛等）。目測★外觀檢查元件外觀是否有變形、裂紋、缺損等不良現(xiàn)象；目測★特殊S2檢查元件端電極（引腳）鍍層是否完整，電極（引腳）表面應(yīng)平滑、氧化、臟污等不良現(xiàn)象； 目測/ 顯微鏡★特殊S2元件上標(biāo)識的規(guī)格應(yīng)與規(guī)格書要求一致目測★特殊S2元件外觀不能有臟污；目測★特殊S2尺寸元器件的封裝尺寸符合封裝要求，若不能辨別則用游標(biāo)卡尺或試裝檢驗其尺寸。目測/ 卡尺★特殊S2參數(shù)/性能檢測同一批次的數(shù)碼管的亮度基本相同且每一個字每一段的亮度也基本相同，發(fā)光應(yīng)穩(wěn)定，顏色應(yīng)均勻。電容表★特殊S2檢驗步驟及內(nèi)容對單：根據(jù)貨倉開出的 IQC 進(jìn)料檢驗單，核實相應(yīng)型號和數(shù)量，再查找相應(yīng)產(chǎn)品規(guī)格標(biāo)準(zhǔn)書。抽樣：根據(jù)檢驗項目，取待檢物料，準(zhǔn)備檢驗工具/儀器，參照規(guī)格書進(jìn)行隨機抽樣檢驗。判定/標(biāo)識：將不良品標(biāo)識清楚并及時隔離，以物料檢驗報告單的形式交由上級處理。將 PASS 好的物料做好標(biāo)識放入指定區(qū)域，并做好相關(guān)記錄。注意事項物料送檢時要及時檢驗，檢驗時須戴防靜電腕帶。引腳表面有氧化發(fā)黑時需做耐溫/可焊性試驗進(jìn)行進(jìn)一步確認(rèn)。檢測時，測量數(shù)據(jù)必須在規(guī)格標(biāo)準(zhǔn)的誤差范圍內(nèi)。圖示以發(fā)光二極管測試原理進(jìn)行測試各段顯示是否正常腳位圖及內(nèi)部結(jié)構(gòu)圖對應(yīng)于目前公司所用的光幕數(shù)碼管（雙位共陰數(shù)碼管）部品名稱發(fā)射管適用范圍所有規(guī)格發(fā)射管抽樣方案GB/T ，一般檢查水平Ⅱ進(jìn)行(除特殊指定外)。 AQL=(CR),AQL=(Ma),AQL=(Mi)檢驗項目檢驗內(nèi)容及要求檢驗要求及工具不合格品缺陷分類備注/ 抽樣水平CRMaMi包裝/標(biāo)識檢查包裝及料盤外觀，應(yīng)無破損、變形、淋濕、散亂等現(xiàn)象；目測★盤裝物料，編帶應(yīng)符合規(guī)格書要求，無變形、破損、脫膠等現(xiàn)象；其余包裝以不傷物料本體為原則。目測★包裝箱上應(yīng)有物料碼、廠家名稱、型號、生產(chǎn)日期等標(biāo)識；目測★包裝內(nèi)實物應(yīng)與標(biāo)識內(nèi)容一致；目測★有無環(huán)保標(biāo)識（GREEN PRODUCT、RoSH、無鉛等）。目測★外觀檢查元件外觀是否有變形、裂紋、缺損等不良現(xiàn)象；目測★特殊S2檢查元件端電極（引腳）鍍層是否完整，電極（引腳）表面應(yīng)平滑、氧化、臟污等不良現(xiàn)象； 目測/ 顯微鏡★特殊S2元件外觀不能有臟污；目測★特殊S2尺寸元器件的封裝尺寸符合封裝要求，若不能辨別則用游標(biāo)卡尺或試裝檢驗其尺寸。目測/ 卡尺★特殊S2參數(shù)/性能檢測試裝在樣品上測試其產(chǎn)品靜態(tài)電流、發(fā)射距離是否符合要求。樣品/ 調(diào)試臺★特殊S2檢驗步驟及內(nèi)容對單：根據(jù)貨倉開出的 IQC 進(jìn)料檢驗單，核實相應(yīng)型號和數(shù)量，再查找相應(yīng)產(chǎn)品規(guī)格標(biāo)準(zhǔn)書。抽樣：根據(jù)檢驗項目，取待檢物料，準(zhǔn)備檢驗工具/儀器，參照規(guī)格書進(jìn)行隨機抽樣檢驗。判定/標(biāo)識：將不良品標(biāo)識清楚并及時隔離，以物料檢驗報告單的形式交由上級處理。將 PASS 好的物料做好標(biāo)識放入指定區(qū)域，并做好相關(guān)記錄。注意事項物料送檢時要及時檢驗，檢驗時須戴防靜電腕帶。引腳表面有氧化發(fā)黑時需做耐溫/可焊性試驗進(jìn)行進(jìn)一步確認(rèn)。檢測時，測量數(shù)據(jù)必須在規(guī)格標(biāo)準(zhǔn)的誤差范圍內(nèi)。圖示部品名稱接收管適用范圍所有規(guī)格接收管抽樣方案GB/T ，一般檢查水平Ⅱ進(jìn)行(除特殊指定外)。 AQL=(CR),AQL=(Ma),AQL=(Mi)檢驗項目檢驗內(nèi)容及要求檢驗要求及工具不合格品缺陷分類備注/ 抽樣水平CRMaMi包裝/標(biāo)識檢查包裝及料盤外觀，應(yīng)無破損、變形、淋濕、散亂等現(xiàn)象；目測★盤裝物料，編帶應(yīng)符合規(guī)格書要求，無變形、破損、脫膠等現(xiàn)象；其余包裝以不傷物料本體為原則。目測★包裝箱上應(yīng)有物料碼、廠家名稱、型號、生產(chǎn)日期等標(biāo)識；目測★包裝內(nèi)實物應(yīng)與標(biāo)識內(nèi)容一致；目測★有無環(huán)保標(biāo)識（GREEN PRODUCT、RoSH、無鉛等）。目測★外觀檢查元件外觀是否有變形、裂紋、缺損等不良現(xiàn)象；目測★特殊S2檢查元件端電極（引腳）鍍層是否完整，電極（引腳）表面應(yīng)平滑、氧化、臟污等不良現(xiàn)象； 目測/ 顯微鏡★特殊S2元件外觀不能有臟污；目測★特殊S2尺寸元器件的封裝尺寸符合封裝要求，若不能辨別則用游標(biāo)卡尺或試裝檢驗其尺寸。目測/ 卡尺★特殊S2參數(shù)/性能檢測試裝在樣品上測試其產(chǎn)品靜態(tài)電流、接收距離、抗光性、接收角度等是否符合要求。樣品/ 調(diào)試臺★特殊S2檢驗步驟及內(nèi)容對單：根據(jù)貨倉開出的 IQC 進(jìn)料檢驗單，核實相應(yīng)型號和數(shù)量，再查找相應(yīng)產(chǎn)品規(guī)格標(biāo)準(zhǔn)書。抽樣：根據(jù)檢驗項目，取待檢物料，準(zhǔn)備檢驗工具/儀器，參照規(guī)格書進(jìn)行隨機抽樣檢驗。判定/標(biāo)識：將不良品標(biāo)識清楚并及時隔離，以物料檢驗報告單的形式交由上級處理。將 PASS 好的物料做好標(biāo)識放入指定區(qū)域，并做好相關(guān)記錄。注意事項物料送檢時要及時檢驗，檢驗時須戴防靜電腕帶。引腳表面有氧化發(fā)黑時需做耐溫/可焊性試驗進(jìn)行進(jìn)一步確認(rèn)。檢測時，測量數(shù)據(jù)必須在規(guī)格標(biāo)準(zhǔn)的誤差范圍內(nèi)。圖示部品名稱IC（集成電路）適用范圍所有此類物料抽樣方案GB/T ，一般檢查水平Ⅱ進(jìn)行(除特殊指定外)。 AQL=(CR),AQL=(Ma),AQL=(Mi)檢驗項目檢驗內(nèi)容及要求檢驗要求及工具不合格品缺陷分類備注/ 抽樣水平CRMaMi包裝/標(biāo)識檢查包裝及料盤外觀，應(yīng)無破損、變形、淋濕、散亂等現(xiàn)象；目測★盤裝編帶物料應(yīng)符合要求，無變形、破損、脫膠等現(xiàn)象；其余包裝以不傷物料本體為原則。