【文章內(nèi)容簡介】 探頭檢。（2）試塊一般采用CSK1A以及與標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定相對(duì)應(yīng)的對(duì)比試塊。（3）現(xiàn)場(chǎng)檢測(cè)時(shí)，也可以采用其它形式的等效試塊。（4）超聲波檢測(cè)用標(biāo)準(zhǔn)試塊應(yīng)送計(jì)量部門每年進(jìn)行一次檢定。（1）通常采用機(jī)油，漿糊，甘油和水等透聲性好，且不損傷檢測(cè)工件表面的耦合劑。（2）在現(xiàn)場(chǎng)檢測(cè)和缺陷定量時(shí)，應(yīng)對(duì)工件表面粗糙度引起的能量損耗進(jìn)行補(bǔ)償。（一般為4～6dB）（3）在現(xiàn)場(chǎng)檢測(cè)和缺陷定量時(shí)，應(yīng)對(duì)材料衰減引起的檢測(cè)靈敏度降低和缺陷定量誤差進(jìn)行實(shí)測(cè)補(bǔ)償。（1）檢測(cè)面1）探頭掃查的區(qū)域范圍內(nèi)應(yīng)無焊接飛濺物、氧化皮、油垢及其它雜質(zhì)。被檢測(cè)表面應(yīng)平整光滑，便于探頭移動(dòng)掃查。；P=2TK或P=2Ttg 223。，式中P—跨距mm，T—母材厚度mm，K—探頭K值，223。—探頭折射角。2）探測(cè)區(qū)域的寬度應(yīng)為焊縫本身寬度，再加上焊縫兩側(cè)各10mm～20mm的熱影響區(qū)。3）用斜探頭檢測(cè)時(shí)，通常使用一次反射法的半波程和全波程在焊縫的單面雙側(cè)進(jìn)行探側(cè)。當(dāng)材料厚度大于50 mm，可采用雙面雙側(cè)進(jìn)行。（2）儀器調(diào)整1）在CSK1A或IIW標(biāo)準(zhǔn)試塊的R100處，測(cè)量探頭入射點(diǎn)（探頭前沿距離）。 探頭在R100處前后移動(dòng)，找出示波屏上最高反射波這一點(diǎn)位置后，固定探頭，R100的零點(diǎn)處，即為探頭入射點(diǎn)。入射點(diǎn)到探頭前沿的距離，即為探頭前沿距離。2）。3）探測(cè)范圍調(diào)節(jié)最大探測(cè)范圍應(yīng)調(diào)至顯示屏?xí)r基線滿刻度的2／3附近，并根據(jù)委托通知單上告知的被檢材料厚度，選擇合適K值的探頭，在CSK1A、IIw或?qū)Ρ仍噳K上進(jìn)行時(shí)基線掃描比例調(diào)節(jié)。（3）繪制距離一波幅曲線利用CSKIIA試塊測(cè)試距離波幅曲線，評(píng)定線、定量線和判廢線滿足JB/T47302005的相關(guān)要求。（4）檢測(cè)靈敏度不低于評(píng)定線，掃查靈敏度在基準(zhǔn)靈敏度的基礎(chǔ)上提高6dB。（5）檢測(cè)時(shí)機(jī)檢測(cè)面經(jīng)打磨外觀檢查合格后方可進(jìn)行。（6）校驗(yàn)每天檢測(cè)工作前，應(yīng)在對(duì)比試塊上進(jìn)行掃描時(shí)基線性比例和距離一波幅曲線校驗(yàn)，校驗(yàn)點(diǎn)不少于2點(diǎn)。當(dāng)發(fā)現(xiàn)與原測(cè)定曲線誤差177。2dB時(shí)，應(yīng)重新繪制。（1）根據(jù)駐生產(chǎn)車間檢查員提出的超聲波檢測(cè)申請(qǐng)單，檢測(cè)人員應(yīng)了解被探工件材質(zhì)、結(jié)構(gòu)，曲率、厚度、焊接方法，坡口形式、焊縫余高及背后襯墊溝槽等情況，做好檢測(cè)前技術(shù)準(zhǔn)備。（2）檢測(cè)掃查速度不應(yīng)大于150 mm／s，相鄰兩次掃查應(yīng)有10％的重疊。（3）斜探頭掃查形式應(yīng)前后，左右作鋸齒形掃查，同時(shí)應(yīng)做10186?！?5186。的左右轉(zhuǎn)動(dòng)。（4）為準(zhǔn)確定位定量缺陷形狀，觀察缺陷動(dòng)態(tài)波形，區(qū)別缺陷訊號(hào)，需采用前后、左右、轉(zhuǎn)角、環(huán)繞等四種探頭基本掃查方式。（1）對(duì)所有缺陷反射波幅超過定量線以上的區(qū)域和指示長度均要測(cè)長和定量定位。（2）缺陷指示長度的測(cè)定：當(dāng)缺陷反射波幅只有一個(gè)高峰點(diǎn)時(shí)，采用半波高度法測(cè)長。當(dāng)判斷其是危害性缺陷時(shí)，先找出缺陷最高波幅峰值點(diǎn)后左右移動(dòng)探頭，直至缺陷波消失的絕對(duì)靈敏度法測(cè)長。當(dāng)發(fā)現(xiàn)缺陷反射波峰值點(diǎn)起伏變化多個(gè)峰值點(diǎn)時(shí)，應(yīng)采用端點(diǎn)半波高度法測(cè)長，或者用絕對(duì)靈敏度法測(cè)其指示長度。（3）當(dāng)疑為危險(xiǎn)性缺陷時(shí)，應(yīng)分別用兩種K值和頻率的探頭從不同探側(cè)面檢測(cè)，并結(jié)合焊接工藝綜合判定，或者輔以其它檢測(cè)方法綜合判定。所有焊縫按JB/T47302005標(biāo)準(zhǔn)B級(jí)要求，不允許存在的缺陷按該標(biāo)準(zhǔn)中II級(jí)之規(guī)定執(zhí)行。（1）在檢測(cè)過程中，若發(fā)現(xiàn)危險(xiǎn)性缺陷時(shí)，應(yīng)延長擴(kuò)大探測(cè)掃查范圍，直至缺陷波消失為止。（2）檢測(cè)人員判定為危險(xiǎn)性缺陷時(shí)，無論其缺陷反射波幅高低和尺寸大小，均作判廢處理。（3）判定為超標(biāo)的缺陷、均應(yīng)返修。修復(fù)后區(qū)域及熱影響區(qū)域，必須按原檢測(cè)條件進(jìn)行重復(fù)檢測(cè)和評(píng)級(jí)。（4）在探測(cè)過程中，應(yīng)做好現(xiàn)場(chǎng)原始記錄，必要時(shí)需繪制草圖，并詳細(xì)標(biāo)記缺陷部位。（1）檢測(cè)記錄卡內(nèi)容應(yīng)包括，施工單位、工件名稱、工件編號(hào)、焊縫種類、坡口形式、材質(zhì)、厚度、表面狀況、執(zhí)行規(guī)程、驗(yàn)收標(biāo)準(zhǔn)、儀器型號(hào)、檢測(cè)頻率、探頭K值、耦合劑、對(duì)比試塊、檢測(cè)靈敏度、超標(biāo)缺陷和評(píng)定記錄、檢測(cè)人員和日期等。（2）檢測(cè)報(bào)告內(nèi)容應(yīng)包括工件名稱、部件名稱、工件編號(hào)、焊縫編號(hào)、檢測(cè)方法、坡口形式、檢測(cè)部位、檢測(cè)儀器、探測(cè)靈敏度、探測(cè)范圍、檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)、缺陷狀況、檢測(cè)結(jié)論、檢測(cè)人員及審核人員簽字、檢測(cè)日期及檢測(cè)人員資格等。（3）檢測(cè)記錄和報(bào)告內(nèi)容應(yīng)全面明確，字跡清楚、整潔，并及時(shí)發(fā)放檢測(cè)報(bào)告。（4）檢測(cè)報(bào)告、原始記錄整理后存檔，保存期不少于7年。工藝卡：容器焊縫超聲檢測(cè)工藝卡工件名稱容器工件編號(hào)K88425材質(zhì)16MnR焊接類型內(nèi)手工焊、外自動(dòng)焊探測(cè)面狀態(tài)拋磨光滑耦合劑機(jī)油儀器型號(hào)CTS22A檢測(cè)時(shí)機(jī)焊后24小時(shí)檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)JB/T47302005檢驗(yàn)等級(jí)B級(jí)驗(yàn)收等級(jí)Ⅱ級(jí)檢測(cè)人員資格Ⅱ級(jí)檢測(cè)示意圖：序號(hào)、探頭種類K1K2K1直探頭檢測(cè)頻率晶片尺寸141614161416Φ20參考反射體CSKⅠA 、CSKⅢACSKⅠA 、CSKⅢACSKⅠA 、CSKⅢACSⅠ反射體深度（mm）表面補(bǔ)償（dB）2222檢測(cè)面外圓外圓外圓內(nèi)圓檢測(cè)比例100%100%100%100%探測(cè)條件測(cè)長線定量線判廢線縱向橫向縱向橫向縱向橫向《超聲檢測(cè)》期中試題一（第一、二、三單元）一、選擇題，它的頻率高于（b） 2. 介質(zhì)中質(zhì)點(diǎn)振動(dòng)方向和傳播方向垂直時(shí)，此波稱為（b） 20A60176。的探頭探測(cè)鋼時(shí)，鋼材中超聲波的波長是（b） （a）。 （a）。 ，并且（a） ，可能發(fā)生（d） ，同一波型的超聲波反射角（a） ，縱波在第一介質(zhì)的入射角應(yīng)（c） ，通過試件后再由另一接收探頭接收，這種檢驗(yàn)方法稱為（c） ，能使電能與機(jī)械能相互轉(zhuǎn)換的特性稱為（b） ，在遠(yuǎn)場(chǎng)區(qū)，同一深度的平底孔，直徑增大一倍，其回波高度提高（c） （d） （b） （b） ，若介質(zhì)兩側(cè)的物質(zhì)聲阻抗相等，則薄層厚度為（a）時(shí)，將有最大的聲壓透過率 ，如果面對(duì)入射方向的界面為一個(gè)凹面，并且聲速CA＜CB,則該曲面將對(duì)透過波（a） ，有時(shí)發(fā)散（a）、脈沖發(fā)生器和放大器 抑制旋鈕打開對(duì)下述哪個(gè)性能有影響?(a) ，以熒光屏縱軸顯示超聲波信號(hào)強(qiáng)度，以橫軸顯示超聲波傳播時(shí)間或反射體深度的脈沖顯示法叫做（b） 二、判斷題()，可以使超聲波在介質(zhì)中傳播五個(gè)波長的距離()()(),溫度變化對(duì)材料的聲阻抗也會(huì)有影響()176。時(shí)的縱波入射角為第二臨界角()(),同一波型的聲束反射角大于入射角(),超聲波頻率越高,超聲場(chǎng)的近場(chǎng)長度越長(),因此用不同壓電晶體作成頻率相同的晶片時(shí)其厚度不同(),而接收超聲波則是利用的正壓電效應(yīng)(),頻率越低,指向角越小()，當(dāng)外力的頻率等與振動(dòng)系統(tǒng)的固有頻率時(shí)，物體的振幅達(dá)到最大值，這種現(xiàn)象稱為諧振()（如裂紋）厚度一定時(shí)，超聲波頻率增加，反射波高將隨之降低()，對(duì)于薄層反射體，能得到最大反射信號(hào)的厚度為（λ/2的偶數(shù)倍）()、鈦酸鋇、鈮酸鋰、硫酸鋰中居里點(diǎn)最高的是硫酸鋰()、矩形槽、橫孔、V形槽中，回波聲壓只與聲程有關(guān)而與探頭折射角度無關(guān)的是矩形槽()、垂直線性、動(dòng)態(tài)范圍屬于超聲波檢測(cè)儀的性能指標(biāo)()、探測(cè)深度、重復(fù)頻率屬于超聲波檢測(cè)儀的性能指標(biāo)()，使用“抑制”旋鈕的抑制作用，可以減少雜波顯示，與此同時(shí)也會(huì)導(dǎo)致回波寬度變小()，它與聲壓的平方成正比()，由于交變振動(dòng)產(chǎn)生的附加壓強(qiáng)叫做聲壓()、C型顯示都屬于二維顯示（），如果使用的探測(cè)頻率過高，在探測(cè)粗晶材料時(shí)會(huì)出現(xiàn)林狀回波（）()三、問答題,如下圖所示在第一次底波與第二次底波之間前兩個(gè)遲到波各是什么波型?（前面為LLL波,后面為LSL波） ？答：①要有作超聲振動(dòng)的波源（如探頭中的晶片）。②要有能傳播超聲振動(dòng)的彈性介質(zhì)（如受檢工件或試塊）。？答：①超聲波在介質(zhì)中的傳播速度與介質(zhì)的彈性模量和介質(zhì)的密度有關(guān)。對(duì)一定的介質(zhì)，彈性模量和密度為常數(shù)。不同介質(zhì)，聲速不同。②超聲波波型不同時(shí)，聲速也不一樣。同一介質(zhì)，傳播不同類型聲波時(shí)，聲速也不相同。③介質(zhì)尺寸大小及介質(zhì)溫度對(duì)聲速也有一定影響。？波型轉(zhuǎn)換的發(fā)生與哪些因素有關(guān)？答：①超聲波入射到異質(zhì)界面時(shí)，除產(chǎn)生入射波同類型的反射和折射波外，還會(huì)產(chǎn)生與入射波不同類型的反射或折射波，這種現(xiàn)象稱為波型轉(zhuǎn)換。②波型轉(zhuǎn)換只發(fā)生在傾斜入射的場(chǎng)合，且與界面兩側(cè)介質(zhì)的狀態(tài)（液、固、氣態(tài)）有關(guān)。？答：在某些物體上施加壓力時(shí)，在其表面上產(chǎn)生電荷聚集的現(xiàn)象，稱為正壓電效應(yīng)。反之，當(dāng)把這種物體放在電場(chǎng)中，它自身產(chǎn)生形變，稱為逆（或負(fù)）壓電效應(yīng)。壓電效應(yīng)是可逆的。？答：改變阻尼電阻的阻值可改變發(fā)射強(qiáng)度，阻值大發(fā)射強(qiáng)度高，發(fā)射的聲能多，阻尼電阻阻值小，則發(fā)射強(qiáng)度低。但改變阻值也會(huì)改變探頭電阻尼大小，影響分辨力?！冻暀z測(cè)》期中試題二（第一、二、三單元）一、選擇題，在頻率一定的情況下，在給定的材料中，橫波探測(cè)缺陷要比縱波靈敏，這是因?yàn)椋╝） ，它的頻率高于（b） 20A60176。的探頭探測(cè)鋼時(shí)，鋼材中超聲波的波長是（b） （a）。 ，此波稱為（b） （a）。 ,在探測(cè)鋼時(shí)的波長是(b)。 （a）。 （b）。 ，則一定直徑晶片的聲束擴(kuò)散角將（a）。 （a）。 ，宜采用（d）進(jìn)行探傷。、橫波 、橫波 、縱波 、縱波（d） ，若孔徑差1倍，平底孔回波高度差（a）dB ，產(chǎn)生形變，從而晶體的表面上出現(xiàn)電荷，這種現(xiàn)象稱為（a）效應(yīng)，這一效應(yīng)是可逆的。 ，如果面對(duì)入射方向的界面為一個(gè)凸面，并且聲速CA＜