【文章內(nèi)容簡介】 比為2的兩個實(shí)心圓柱體，其曲底面同波相差（ ）A、12dB B、9dB C、6dB D、3dB ； 外徑為D，內(nèi)徑為d的實(shí)心圓柱體，以相同的靈敏度在內(nèi)壁和外圓探測，如忽略耦合差異，則底波高度比為（ ） 同直徑的平底孔在球面波聲場中距聲源距離增大1倍則回波減弱：（ ）A、6db B、12db C、3db D、9db 同直徑的長橫孔在球面波聲場中距離聲源距離增大1倍回波減弱（ ）A、6db B、12db C、3db D、9db 在球面波聲場中B平底距聲源距離增大I倍回波減弱：（ ）A、6db B、12db C、3db D、9db 對于柱面波，距聲源距離增大1倍，聲壓變化是：（ ）A、增大6db B、減小6db C、增大3db D、減小3db 對于球面波，距聲源距離增大1倍，聲壓變化是：（ ）A、增大6db B、減小6db C、增大3db D、減小3db 比Φ3mm平底孔回波小7db的同聲程平底孔直徑是：（ ）A、Φ1mm B、Φ2mm C、Φ4mm D、 比Φ3mm長橫孔反射小7db的同聲程長橫孔直徑是（ ）A、 B、Φ1mm C、Φ2mm D、 以下敘述中哪一條不是聚焦探頭的優(yōu)點(diǎn)（ ）A、靈敏度高 B、橫向分辨率高 C、縱向分辨高 D、探測粗晶材料時信噪比高 以下敘述中，哪一條不是聚焦探頭的缺點(diǎn)（ ）A、聲束細(xì)，每次掃查探測區(qū)域小，效率低B、每只探頭僅適宜探測某一深度范圍缺陷，通用性差C、由于聲波的干涉作用和聲透鏡的球差，聲束不能完全匯聚一點(diǎn)D、以上都是 A型掃描顯示中，從熒光屏上直接可獲得的信息是：（ ）A、缺陷的性質(zhì)和大小 B、缺陷的形狀和取向C、缺陷同波的大小和超聲傳播的時問 D、以上都是 A型掃描顯示，“盲區(qū)”是指：（ ）A、近場區(qū) B、聲束擴(kuò)散角以外區(qū)域C、始脈沖寬度和儀器阻塞恢復(fù)時間 D、以上均是 A型掃描顯示中，熒光屏上垂直顯示大小表示：（ ）A、超聲回波的幅度大小 B、缺陷的位置C、被探材料的厚度 D、超聲傳播時間 A型掃描顯示中，水平基線代表：（ ）A、超聲回波的幅度大小 B、探頭移動距離C、聲波傳播時間 D、缺陷尺寸大小 脈沖反射式超聲波探傷儀中，產(chǎn)生觸發(fā)脈沖的電路單元叫做（ ）A、發(fā)射電路 B、掃描電路 C、同步電路 D、顯示電路 脈沖反射超聲波探傷儀中，產(chǎn)生時基線的電路單元叫做（ ）A、掃描電路 B、觸發(fā)電路 C、同步電路 D、發(fā)射電路 發(fā)射電路輸出的電脈沖，其電壓通?？蛇_(dá)（ ）A、幾百伏到上千伏 B、幾十伏 C、幾伏 D、1伏 發(fā)射脈沖的持續(xù)時間叫：（ ）A、始脈沖寬度 B、脈沖周期 C、脈沖振幅 D、以上都不是 ：（ ）A、重復(fù)頻率 B、工作頻率 C、觸發(fā)脈沖頻率 D、以上都不對 影響儀器靈敏度的旋紐有：（ ）A、發(fā)射強(qiáng)度和增益旋紐 B、衰減器和抑制C、深度補(bǔ)償 D、以上都是 儀器水平線性的好壞直接影響：（ ）A、缺陷性質(zhì)判斷 B、缺陷大小判斷C、缺陷的精確定位 D、以上都對 儀器的垂直線性好壞會影響：（ ）A、缺陷的當(dāng)量比較 B、AVG曲線面板的使用C、缺陷的定位 D、以上都對 接收電路中，放大器輸入端接收的同波電壓約有（ ）A、幾百伏 B、100V左右 C、10V左右 D、～1V 同步電路每秒鐘產(chǎn)生的觸發(fā)脈沖數(shù)為（ ）A、l—2個 B、數(shù)十個到數(shù)千個C、與工作頻率相同 D、以上都不對 調(diào)節(jié)儀器面板上的“抑制”旋鈕會影響探傷儀的（ ）A、垂直線性 B、動態(tài)范圍 C、靈敏度 D、以上全部 放大器的不飽和信號高度與缺陷面積成比例的范圍叫做放放大器的（ ）A、靈敏度范圍 B、線性范圍 C、分辨力范圍 D、選擇性范圍 單晶片直探頭接觸法探傷中，與探測面十分接近的缺陷往往不能有效地檢出，這是因?yàn)椋海? ）A、近場干擾 B、材質(zhì)衰減 C、盲區(qū) D、折射 同步電路的同步脈沖控制是指：（ ）A、發(fā)射電路在單位時間內(nèi)重復(fù)發(fā)射脈沖次數(shù)B、掃描電站每秒鐘內(nèi)重復(fù)掃描次數(shù)C、探頭晶片在單位時間內(nèi)向工件重復(fù)幅射超聲波次數(shù)D、以上全部都是 表示探傷儀與探頭組合性能的指標(biāo)有：（ ）A、水平線性、垂直線性、衰減器精度B、靈敏度余量、盲區(qū)、遠(yuǎn)場分辨力C、動態(tài)范阻。—題堂皇！奠搽測瀑度D、垂直極限、水平極限、重復(fù)頻率 使儀器得到滿幅顯示時Y軸偏轉(zhuǎn)板工作電壓為80V，現(xiàn)晶片接收到的缺陷信號電壓為40mv，若要使此缺陷以50%垂直幅度顯示，儀器放大器應(yīng)有多大增益量？（ ）A、74dB B、66dB C、60dB D、80dB 脈沖反射式超聲波探傷僅同步脈沖的重復(fù)頻率決定著：（ ）A、掃描長度 B、掃描速度C、單位時間內(nèi)重復(fù)掃描次數(shù) D、鋸齒波電壓幅度 壓電晶片的基頻是：（ ）A、晶片厚度的函數(shù) B、施加的脈沖寬度的函數(shù)C、放大器放大特性的函數(shù) D、以上都不對 探頭的分辨力：（ ）A、與探頭晶片直徑成正比 B、與頻率寬度成正比C、與脈沖重復(fù)頻率成正比 D、以上都不對 當(dāng)激勵探頭的脈沖幅度增大時：（ ）A、儀器分辨力提高 B、儀器分辨力降低，但超聲強(qiáng)度增大C、聲波穿透力降低 D對試驗(yàn)無影響 探頭晶片背面加上阻尼塊會導(dǎo)致：（ ）A、Qm值降低．靈敏度提高 B、Qm值增大，分辨力提高C、Qm值增大，盲區(qū)增大 D、Qm值降低，分辨力提高 為了從換能器獲得最高靈敏度：（ ）A、應(yīng)減小阻尼塊 B、應(yīng)使用大直徑晶片C、應(yīng)使壓電晶片在它的共振基頻上激勵 D、換能器頻帶寬度應(yīng)盡可能大 超聲試驗(yàn)系統(tǒng)的靈敏度：（ ）A、取決于探頭高頻脈沖發(fā)生器和放大器B、取決于同步脈沖發(fā)生器C、取決于換能器機(jī)械阻尼D、隨分辨力提高而提高 換能器尺寸不變而頻率提高時：（ ）A、橫向分辨力降低 B、聲束擴(kuò)散角增大C、近場長度增大 D、指向性變鈍 一般探傷時不使用深度補(bǔ)償是因?yàn)樗鼤海? ）A、影響缺陷的精確定位B、影響AVG曲線或當(dāng)量定量法的使用C、導(dǎo)致小缺陷漏撿D、以上都不對 晶片共振波長是晶片厚度的（ ）A、2倍 B、1/2倍 C、l倍 D、4倍 已知PZT4的頻率常數(shù)是2000m/s，：（ ）A、 B、 C、 D、 在毛面或曲面工件上作直探頭探傷時，應(yīng)使用：（ ）A、硬保護(hù)膜直探頭 B、軟保護(hù)膜直探頭C、大尺寸直探頭 D、高頻直探頭 目前工業(yè)超聲波探傷使用較多的壓電材料是：（ ）A、石英 B鈦酸鋇 C、鋯鈦酸鉛 D硫酸鋰 聯(lián)合雙直探頭的最主要用途是：（ ）A、探測近表面缺陷 B、精確測定缺陷長度C、精確測定缺陷高度 D、用于表面缺陷探傷 超聲波探傷儀的探頭晶片用的是下面哪種材料：（ ）A、導(dǎo)電材料 B磁致伸縮材料 C、壓電材料 D磁性材料 下面哪種材料最適宜做高溫探頭：（ ）A、石英 B、硫酸鋰C、鍺鈦酸鉛 D、鈮酸鋰 下面哪種壓電材料最適宜制作高分辨率探頭：（ ）A、石英 B鋯鈦酸鉛 C、偏鈮酸鉛 D、鈦酸鋇 下列壓電晶體中哪一種作高頻探頭較為適宜（ ）A、鈦酸鋇(CL=5470m/s) B、鈮酸鋰（CL=7400m/s）C、PZT（CL=4400m/s） D、鈦酸鉛(CL=4200m/S) 表示壓電晶體發(fā)射性能的參數(shù)是（ ）A、壓電電壓常數(shù)g33 B、機(jī)電耦合系數(shù)KC、壓電應(yīng)變常數(shù)d33 D、以上全部 以下關(guān)于爬波探頭的敘述，哪一條是錯誤的（ ）A、爬波探頭的外形和結(jié)構(gòu)與橫渡斜探頭類似B、當(dāng)縱波入射角大于或等于第二臨界角時，在第二介質(zhì)中產(chǎn)生爬波C、爬波用于探測表層缺陷D、爬波探測的深度范圍與頻率f和晶片直徑D有關(guān)。 窄脈沖探頭和普通探頭相比（ ）A、Q值較小 B、靈敏度較低 C、頻帶較寬 D、以上全部 采用聲透鏡方式制作聚焦探頭時，設(shè)透鏡材料為介質(zhì)1，欲使聲束在介質(zhì)2中聚焦，選用平凹透鏡的條件是（ ）A、ZlZ2 B、C1 C2 C、C1 C2 D、Z1Zz 探頭軟保護(hù)膜和硬保護(hù)膜相比，突出優(yōu)點(diǎn)是（ ）A、透聲性能好 B、材質(zhì)衰減小 C、有利消除耦合差異 D、以上全部 以下哪一條，不屬于數(shù)字化智能超聲波探傷儀的優(yōu)點(diǎn)（ ）A、檢測精度高，定位定量準(zhǔn)確 B、頻帶寬，脈沖窄C、可記錄存貯信號 D、儀器有計算和自檢功能 以下哪一條，不屬于雙晶探頭的優(yōu)點(diǎn)（ ）A、探測范圍大 B、盲區(qū)小C、工件中近場長度小 D、雜波少，不屬于雙品探頭的性能指標(biāo)（ ）A、工作頻率 B、晶片尺寸 C、探測深度 D、近場長度 斜探頭前沿長度和K值測定的兒種方法中，哪種方法精度最高：（ ）A、半圓試塊和橫孔法 B、雙孔法C、直角邊法 D、不一定，須視具體情況而定 超聲探傷系統(tǒng)區(qū)別相鄰兩缺陷的能力稱為（ ）A、檢測靈敏度 B、時基線性 C、垂直線性 D、分辨力 用以標(biāo)定或測試超聲探傷系統(tǒng)的，含有模擬缺陷的人工反射體的金屬塊叫（ ）A、晶體準(zhǔn)直器 B、測角器 C、參考試塊 D、工件 對超聲探傷試塊材質(zhì)的基本要求是：（ ）A、其聲速與被探工件聲速基本一致B、材料中沒有超過Φ2mm平底孔當(dāng)量的缺陷C、材料衰減不太大且均勻D、以上都是 CSKIIA試塊上的Φl6橫孔，在超聲遠(yuǎn)場．其反射波高隨聲程的變化規(guī)律與（ ）相同。A、k值孔 B、平底孔 C、球孔 D、以上B和C 采用什么超聲探傷技術(shù)不能測出缺陷深度？（ ）A、直探頭探傷法 B、脈沖反射法C、斜探頭探傷法 D、穿透法 超聲檢驗(yàn)中，當(dāng)探傷面比較粗糙時，宜選用（ ）A、較低頻探頭 B、較粘的耦合劑C、軟保護(hù)膜探頭 D、以上都對 超聲檢驗(yàn)中，選用晶片尺寸大的探頭的優(yōu)點(diǎn)是（ ）A、曲面探傷時可減少耦合損失 B、可減少材質(zhì)衰減損失C、輻射聲能大且能量集中 D、以上全部 探傷時采用較高的探測頻率，可有利于（ ）A、發(fā)現(xiàn)較小的缺陷 B、區(qū)分開相鄰的缺陷C、改善聲束指向性 D、以上全部 工件表面形狀不同時耦合效果不一樣，下面的說法中，哪點(diǎn)是正確的（ ）A、平面效果最好 B、凹曲面居中C、凸曲面效果最差 D、以上全部 缺陷反射聲能的大小，取決于（ ）A、缺陷的尺寸 B、缺陷的類型C、缺陷的形狀和取向 D、以上全部 聲波垂直入射到表面粗糙的缺陷時，缺陷表面粗糙度對缺陷反射波高的影響是： （ ）A、反射波高隨粗糙度的增大而增加B、無影響C、反射波高隨粗糙度的增大而下降D、以上A和C都可能 如果聲波在耦合介質(zhì)中波長為λ，為使透聲效果好，耦合層厚度為（ ）A、λ/4的奇數(shù)倍 B、λ/2整數(shù)倍 C、小于λ/4且很薄 D、以上B和C 表面波探傷時，儀器熒光屏上出現(xiàn)缺陷波的水平刻度值通常代表（ ） A、缺陷深度 B、缺陷至探頭前沿距離 C、缺陷聲程 D、以上都可以 探頭沿圓柱曲面外壁作周向探測時，如儀器用平試塊按深度1：1調(diào)掃描，下面哪種說法正確？（ ） A、缺陷實(shí)際徑向深度總是小于顯示值 B、顯示的水平距離總是大于實(shí)際弧長 C、顯示值與實(shí)際值之差，隨顯示值的增加而減小 D、以上都正確 采用底波高度法（F/B百分比法）對缺陷定量時，下面哪種說法正確（ ）? A、F/B相同，缺陷當(dāng)量相同 B該法不能給出缺陷的當(dāng)量尺寸 C、適于對尺寸較小的缺陷定量 D、適于對密集性缺陷的定量 在頻率一定和材料相同情況下，橫渡對小缺陷探測靈敏度高于縱波的原因是：（ ）A、橫波質(zhì)點(diǎn)振動方向?qū)θ毕莘瓷溆欣? B、橫渡探傷雜波少 C、橫波波長短 D、橫波指向性好 采用下列何種頻率的直探頭在不銹鋼大鍛件超探時，可獲得較好的穿透能力：（ ）A、 B、 C、5MHz D、l0MHz ，水層厚度為20mm，此時在鋼工件中的近場區(qū)長度還有：（ ） A、 B、 C、 D、以上都不對 使用半波高度法測定小于聲束直徑的缺陷尺寸時，所測的結(jié)果：（ ）A、小于實(shí)際尺寸 B、