【文章內(nèi)容簡(jiǎn)介】 （b）： ，可以通過(guò)（d）方法減小近場(chǎng)長(zhǎng)度 ，缺陷越薄，對(duì)聲波的反射越差，當(dāng)能得到最大反射時(shí)，缺陷厚度最小的尺寸等于（a） （a）： ，其優(yōu)點(diǎn)為（d） （c） 322.（d）探頭具有較長(zhǎng)的近場(chǎng)長(zhǎng)度，Φ14毫米 ，Φ14毫米 ，Φ20毫米 ，Φ30毫米323.（d）頻率的探頭可獲得最佳分辨力： 324.（d）頻率的探頭具有最薄的石英晶片： （a） ℃高溫下工作（b） ，同時(shí)抑制雜波和缺陷波 ，其垂直線性誤差應(yīng)為（b）：a.＞8% b.≤8% ，其水平線性誤差應(yīng)為（d）：a.＞6分貝 b.＞2% c.＜6分貝 d.≤2%（d）： “距離波幅”曲線時(shí)，有時(shí)所得到距探測(cè)面最近的孔的反射回波幅度較其他兩孔的低，這是由于（d）所致： 、Φ20毫米直探頭探測(cè)如右圖所示的筒體鍛件，探測(cè)時(shí)以筒體內(nèi)表面作參考反射體，起始靈敏度為Φ2毫米平底孔，波高40%，此時(shí)的校驗(yàn)分貝和探測(cè)分貝各為（a）： ，探測(cè)時(shí)，當(dāng)波形出現(xiàn)疊加效應(yīng)，則對(duì)缺陷的評(píng)價(jià)應(yīng)以（b）為據(jù)： （b）探傷 （d） ，水中加入適量潤(rùn)濕劑的目的是（c） ，鋼管用橫波檢測(cè)的條件是（b）≤40%或T/d≤20% ≤20%或T/d≤40% ≤25%或T/d≤50% ≤50%或T/d≤25%式中：T壁厚；D管子外徑；d管子內(nèi)徑，若材料中存在白點(diǎn)，其特征為（d）、尖銳 ，探測(cè)靈敏度的校驗(yàn)可以使用（d）： ，主要用于檢測(cè)（b）： ，主要用于檢測(cè)（c） ，因此在超聲波探傷時(shí)應(yīng)考慮（b） 初、中級(jí)無(wú)損檢測(cè)技術(shù)資格人員超聲檢測(cè)考題匯編填空題?從左到右：（A）（B）（C） ，當(dāng)超聲波（縱）波的（折射）角等于90℃時(shí)的（縱）波（入射）角稱為第一臨界角（斜射）時(shí)才能在異質(zhì)界面發(fā)生波型轉(zhuǎn)換，并且至少一側(cè)為（固）體，采用橫軸表示實(shí)際聲程，縱軸表示規(guī)則反射體相對(duì)波高的坐標(biāo)曲線是描述（距離）、（波幅）、（當(dāng)量大?。┲g關(guān)系的曲線，又稱實(shí)用AVG曲線，在調(diào)節(jié)（探傷靈敏度）和對(duì)缺陷（定量）中得到了廣泛應(yīng)用，而聲速則由（材質(zhì)）和（波的種類）決定的，（差），如聲程相同，若平底孔面積相差一倍，則波高相差（6）dB，若長(zhǎng)橫孔直徑相差一倍時(shí)，則波高相差（3）dB，相同的探測(cè)靈敏度下，缺陷波幅決定于缺陷的（大?。ⅲㄈ∠颍┡c（類型），它的頻率高于（20千赫），屬于（機(jī)械波）、聲速C、頻率f之間的關(guān)系是（λ=c/f）。應(yīng)用2P20x20 60176。的探頭探測(cè)鋼時(shí)，鋼材中超聲波的波長(zhǎng)是（）12.（縱波）、（橫波）和（表面波）可在固體中傳播，只有（縱波）可在液體中傳播（固體）中傳播（有發(fā)射聲波的聲源）、（有傳播聲波的彈性介質(zhì)）（能量的傳播），沒(méi)有（物質(zhì)的遷移）（同相位振動(dòng)）的各質(zhì)點(diǎn)構(gòu)成的空間曲面，此波稱為（橫波）。介質(zhì)中質(zhì)點(diǎn)振動(dòng)方向和波的傳播方向平行時(shí)，此波稱為（縱波）。橫波的聲速比縱波的聲速（慢）。焊縫探傷主要用（橫波）（兩束以上的波）相互作用，引起強(qiáng)度（重新分布）的結(jié)果。（聲能）的傳播速度，在頻率一定的情況下，在給定的材料中，橫波探測(cè)缺陷要比縱波靈敏，這是因?yàn)椋M波比縱波的波長(zhǎng)短），具有的特性是（質(zhì)點(diǎn)振動(dòng)方向垂直于傳播方向），（傳播速度約為縱波速度的1/2）()和(),在探測(cè)鋁時(shí)的波長(zhǎng)分別是()和()（縱波）（表面波），不向材料內(nèi)部傳播的超聲波是（表面波），由于交變振動(dòng)產(chǎn)生了壓強(qiáng)，這種交變的附加壓強(qiáng)就叫做（聲壓），單位時(shí)間內(nèi)通過(guò)超聲波傳播方向垂直截面單位面積上的聲能稱為（聲強(qiáng)），后者與前者的振幅平方正比。（鄰近探頭），聲壓（無(wú)規(guī)律）變化，有極大值和極小值的區(qū)域，隨著（距探頭的距離）增加，聲壓（單調(diào)下降）的區(qū)域，聲壓分布不均勻的超聲場(chǎng)為（近場(chǎng)）此區(qū)長(zhǎng)度在頻率給定時(shí)，隨晶片直徑變小而（縮短）。用公式L0=（D2λ2）/4λ表示=P0AsS/λ2X2，反射波的聲壓與缺陷面積S成（正）比，同時(shí)與缺陷距離X的（平方）成反比而（減少）。面積為As的晶片近場(chǎng)距離為N，,這個(gè)算式可以認(rèn)為基本上是成立的。，則大平底面而產(chǎn)生的反射波聲壓PF=P0As/2λX，反射波的聲壓與晶片面積成（正）比而增大，與距離成（反）比而減少。這個(gè)算式對(duì)晶片面積為As。，在同一介質(zhì)中改變其傳播方向的現(xiàn)象叫做（反射）（折射），其聲束軸線與界面法線所成的夾角稱為（折射角），同一波型的超聲波反射角（等于）入射角，可能發(fā)生（反射、折射、波型轉(zhuǎn)換），入射聲束軸線與界面法線所成的夾角稱為（入射角），超聲波按一定角度擴(kuò)散。在超音波檢測(cè)中，這個(gè)角度是以（聲壓）在理論上是零點(diǎn)的位置作為基準(zhǔn)的，即說(shuō)指向角θ0=70λ/D（折射定律）176。折射的入射角叫做（臨界角），反射波和透射波的波型（不變），縱波在第一介質(zhì)的入射角應(yīng)（在第一和第二臨界角之間） 45176。的探頭，有機(jī)玻璃楔塊內(nèi)聲速為2730m/s，被檢材料（碳鋼）中的聲速為3230m/s，求入射角α的公式為（α=Sin1(3230/2730)Sin45176。）176。角入射到鋼內(nèi)，此時(shí)的橫波折射角（小于）縱波折射角，水中入射角為7176。，在鋼中主要存在的振動(dòng)波型是（縱波、橫波同時(shí)存在）176。的有機(jī)玻璃斜探頭探測(cè)鋼時(shí)，折射橫波的折射角是（36176。）。要使鋼中折射橫波的折射角是45176。，縱波在水中的入射角應(yīng)是（176。）。，第二介質(zhì)中聲波折射角的大小是由 （兩個(gè)介質(zhì)中聲速）決定的，任一點(diǎn)的聲壓和該點(diǎn)振動(dòng)速度之比稱為（聲阻抗），它常用 （介質(zhì)密度）和（聲速）的乘積來(lái)表示，折射角主要取決于（水與金屬的相對(duì)聲速及聲波入射角），若介質(zhì)兩側(cè)面的物質(zhì)聲阻抗相等，則薄層厚度為（1/2波長(zhǎng)的整倍數(shù)）時(shí)，將有最大的聲壓透過(guò)率，（Z=聲阻抗）應(yīng)是（Z保護(hù)膜=(Z晶片xZ工件)1/2 ），如果第一介質(zhì)的聲阻抗比較大，但聲速與第二介質(zhì)相同，則折射角與入射角（相同），隨聲阻抗比Z1/Z2的增大，而透過(guò)聲壓（減?。?，主要是由（散射和吸收）所引起的，數(shù)值相近，或小于晶粒時(shí)，（衰減）顯著、穿透能力減弱，同時(shí)由于晶粒反射，出現(xiàn)（雜亂）回波，不易檢出缺陷。，宜采用（較低）頻率和（縱）波進(jìn)行探傷。（散射）（尺寸）、（方位）、（類型），晶片越厚則頻率（越低），如果頻率相同，則在粗晶材料中，穿透力強(qiáng)的波型是（縱波），聲波到達(dá)底面之前，由于聲束擴(kuò)散，在試件側(cè)面可能會(huì)有（波型轉(zhuǎn)換）產(chǎn)生，通過(guò)試件后再由另一接收探頭接收，這種檢驗(yàn)方法稱 為（穿透法）（薄板），使超聲波垂直于探測(cè)面而進(jìn)入被檢材料的檢驗(yàn)方法稱為（垂直法），因?yàn)槌暡z測(cè)儀器存在有儀器（阻塞）效應(yīng)（壓電）原理，能使電能與機(jī)械能相互轉(zhuǎn)換的特性稱為（壓電）效應(yīng)，聲程增加一倍，大平底的反射聲壓為原來(lái)的（1/2倍），平底孔的反射聲壓為原來(lái)的（1/4倍），橫通孔的反射聲壓為原來(lái)的（1/），球孔的反射聲壓為原來(lái)的（1/4倍）。，若聲程相同，則孔徑增加一倍時(shí)，平底孔反射聲壓為原來(lái)的（4倍），橫通孔的反射聲壓為原來(lái)的（），球孔的反射聲壓為原來(lái)的（2倍），在遠(yuǎn)場(chǎng)區(qū)，同一深度的平底孔，直徑增大一倍，其回波高度提高（12dB）（PF=P0As/2λX（Ａs晶片面積）） （PF=P0AsS/λ2X2（S平底孔面積）） 壓公式為（PF=P0Asd/4λX2（d球孔直徑））（PF=[P0As/2(2)1/2λ](d/X3)1/2（d橫通孔直徑）），同直徑的平底孔，聲程從100mm增大到300mm，若不計(jì)材質(zhì)衰減，則聲壓減小（19dB），同聲程的長(zhǎng)橫通孔，直徑從2mm增大到8mm時(shí)，其回波聲壓提高（6dB），同直徑長(zhǎng)橫通孔，聲程增大1倍，不計(jì)材質(zhì)衰減，則聲壓減?。?dB），填入正確的分貝值回波高度比1210dB值20606204016953，與晶片面積S成（正）比，與波長(zhǎng)成（反）比，因此頻 率越高，（聲壓）也越大，若孔徑差1倍，平底孔回波高度差（12）dB，橫通孔的回波高度差（3）dB，球孔回波高度差（6）dB。，若孔徑相同，聲程差一倍，平底孔回波高度差（12）dB，橫通孔的回波高度差（9）dB，球孔回波高度差（12）dB。，從而晶體的表面上出現(xiàn)電荷，這種現(xiàn)象稱為（壓電）效應(yīng)，這一效應(yīng)是可逆的，用于超聲波探傷的壓電晶體材料，如石英、硫酸鋰、碘酸鋰等是（單晶）體，而鈦酸鋇、鋯鈦酸鉛是（多晶）體，也稱（壓電陶瓷）（換能器）（直探頭）、（斜探頭）、（組合雙晶探頭）、（水浸探頭）。（任寫(xiě)四種），聲透鏡的聲速為C1，液體中的聲速為C2，若C1＞C2，聲透鏡應(yīng)加工成（平凹）形。若C1＜C2，聲透鏡應(yīng)加工成（平凸）形。若C1=C2，聲透鏡（不產(chǎn)生）聚焦，主要是由于不受（工件表面光潔度）影響，還可以實(shí)現(xiàn)聲束（聚焦）的緣故，要求入射角在（第一臨界角）和（第二臨界角）之間，在一定條件下，就會(huì)產(chǎn)生（波型轉(zhuǎn)換），這種現(xiàn)象與橫波（入射角）有關(guān)、密度之間的關(guān)系式是（CL=[(E/ρ)(1σ)/(1+σ)(12σ)]1/2 ）（連續(xù)縱波），不但要選擇合適的（入射角），而且要給斜探頭選擇合適的斜楔材料，應(yīng)滿足斜楔材料的縱波聲速（小）于工件中的橫波聲速，不但要選擇合適的（入射角），而且要給斜探頭選擇合適的（斜楔材料）=:1水平定位法，并使得第一次回波前沿出現(xiàn)在第三格，第二次回波前沿出現(xiàn)在第九格的半圓試塊，該試塊的半徑應(yīng)是（）mm，首先要做出如下一組衰減量與理論回波高度的對(duì)應(yīng)數(shù)值，再根據(jù)實(shí)測(cè)回波高度對(duì)應(yīng)值，然后計(jì)算該儀器的垂直線性誤差，請(qǐng)?zhí)畛鱿率霰砀裰?、1124dB時(shí)的理論回波高度對(duì)應(yīng)數(shù)值 衰減量（dB）02468101214161820222426波高值（%）100　　　　　　　　　:（較低）頻率的探頭，而造成聲波傳播的損耗，其表面補(bǔ)償dB值應(yīng)用（實(shí)驗(yàn)）方法測(cè)定，為防止在第一次底面回波前面出現(xiàn)二次界面回波，水層厚度為25mm時(shí)，能探測(cè)鋼材的最大厚度為（100mm），若后者探測(cè)面粗糙，與前者耦合差5dB，前者的底面回波調(diào)至示波屏滿幅度的80%，則后者的底面回波應(yīng)為滿幅度的（20%）（被檢產(chǎn)品的基本狀況）、（探傷方法）、（探傷條件）、（驗(yàn)收標(biāo)準(zhǔn)）、（探傷結(jié)論）、（操作者）、（審核人）、（探傷日期），應(yīng)把槽加工在管子的（內(nèi)外表面）（檢驗(yàn)儀器和探頭的組合性能）、（確定靈敏度）、（缺陷定位）、（缺陷定量）（壓電晶片）、（吸收塊）、（高頻接線和地線）、（保護(hù)膜）、（外殼）等，其中（壓電晶片）是主要元件，其功能是將（電能）轉(zhuǎn)變成（聲能），并且可逆（抑制不需要的振動(dòng)）和（吸收雜波），常用（環(huán)氧樹(shù)脂粉加鎢粉）制成（即阻尼塊），其作用是阻尼晶片的振動(dòng)使脈沖便窄，限制從晶片背面發(fā)射的聲波，以防止出現(xiàn)雜波。探頭若不加阻尼塊，始脈沖應(yīng)會(huì)變（寬），盲區(qū)變（大），分辯力（降低）（縱波聲速比被檢工件橫波聲速?。┑牟牧现瞥?，它的功能是將（縱波）按給定的（入射角）斜射到工件表面，在界面發(fā)生折射，形成（橫波）或（瑞利波）或（蘭姆波）在工件中傳播（兩）塊壓電晶片，在電路上和聲路上（彼此分離），晶片前裝有（延遲塊），此種探頭有盲區(qū)（?。?，有助于（近表面缺陷）的檢出（高）的探頭容易產(chǎn)生（寬度窄）的脈沖，因此在探測(cè)薄工件和近表面缺陷時(shí)，應(yīng)選擇（高）頻率的探頭。，其掃描鋸齒波形的好壞程度，決定了掃描（水平線性）的好壞。，儀器調(diào)節(jié)中，不應(yīng)該使用（“深度補(bǔ)償”）和（“抑制”）“抑制”旋鈕，會(huì)影響儀器的（垂直線性）和（動(dòng)態(tài)范圍），以熒光屏縱軸顯示超聲波信號(hào)強(qiáng)度，以橫軸顯示超聲波傳播時(shí)間或反射體深度的脈沖顯示法叫做（A掃描顯示）（陰極射線管），脈沖的持續(xù)時(shí)間稱為（脈沖寬度），在熒光屏上波幅從80%處降至5%時(shí)，應(yīng)衰減（24）dB，電子束在陰極射線管的熒光屏上均勻重復(fù)移動(dòng)，所形成的水平線叫做（掃描線），產(chǎn)生高壓電脈沖以激發(fā)探頭工作的電路單元稱為（脈沖發(fā)生器），放大器這一非飽合的放大區(qū)域稱為（線性范圍）（分辨力）（發(fā)射電脈沖），除了與探頭特性有關(guān)外，主要還決定于接收放大器在強(qiáng)信號(hào)沖擊下的（阻塞）時(shí)間。，其中包括：（水平線性）、（垂直線性）、（靈敏度）、（分辨力）、（盲區(qū)）、（聲程）、（入射點(diǎn)）、（折射角）（25）mm，寬度為（100）mm，長(zhǎng)度為（300）mm，凹槽上的（85）mm及槽兩側(cè)的91mm和（100）mm可用于測(cè)定探頭的（分辨力），當(dāng)同時(shí)存在底波和傷波時(shí)，說(shuō)明鋼板中存在（小于）聲場(chǎng)直徑的缺陷。，鋼板中可能存在尺寸很大的缺陷，也可能存在尺寸很小的缺陷，可以用（6dB法）測(cè)量缺陷的邊界位置，水層厚度為δS時(shí)，要求采用四次重合法探傷。其條件分別為一次重合法時(shí)（δS1=δB/4），二次重合法時(shí)（δS2=δB/2）、三次重合法時(shí)（δS3=3δB/4）、四次重合法時(shí)（δS4=δB）（(CL1/CL2)≤sinα≤(r/R)(CL1/CS2)，式中： R—管子外徑，r—管子內(nèi)徑），超聲波在耦合介質(zhì)中聚焦點(diǎn)的內(nèi)半角公式為（θ=tg1(D/2F) 式中：D晶片直徑；F焦距），如果聚焦點(diǎn)不能調(diào)整到被檢管件的中心軸線上，而是偏離中心軸線一定距離，在管壁內(nèi)將出現(xiàn)（無(wú)底波反射），在計(jì)算缺陷當(dāng)量大小時(shí)，要注意缺陷是否在（3倍近場(chǎng)長(zhǎng)度）以外，一定注意底面的（平直度），分為①（鋸齒型）掃查法、②（轉(zhuǎn)角）掃查法、③（環(huán)繞）掃查法、④（斜平行）掃查法、⑤（沿焊縫兩側(cè)平行）掃查法，由于焊縫加強(qiáng)高的存在，探頭一般（不放在）焊縫上，而是將探頭（放在鋼板上），超聲波傾斜射入焊縫進(jìn)行探傷。，儀器的“抑制”和“深度補(bǔ)償”旋鈕應(yīng)置于（關(guān)）的位置，如焊縫不磨平，應(yīng)從工件的（內(nèi)）表面和（外）表面，在焊縫（兩）側(cè)，共（四）個(gè)探測(cè)面探傷。，如焊縫磨平，為發(fā)現(xiàn)焊縫的橫向缺陷，應(yīng)在焊縫上，沿焊縫的（縱）向探測(cè)，表面粗糙的零件作超聲波檢測(cè)時(shí)，通常使用頻率較（低）的探頭和粘度較（高）的耦合劑，置于壓電晶片背面的阻尼塊有三個(gè)基本作用，第一是用于固定（晶片位置），第二是用于吸收（晶片背面的超音波），第三是用于減少（晶片持續(xù)振動(dòng)時(shí)間），從而使得脈沖寬度變（窄），顯示于示波屏上的缺陷回波圖形可以分為三種，它們是：（底波多次反射和缺陷的多次反射波同時(shí)出現(xiàn)）、（只有缺陷的多次反射波出現(xiàn)）、（只有一些紊亂的波）：（全面掃查）、（格子線掃查）、（列線掃查）