無損檢測(cè)2級(jí)超聲相關(guān)試題(編輯修改稿)
2025-04-22 01:08 本頁(yè)面
【文章內(nèi)容簡(jiǎn)介】 動(dòng)一個(gè)點(diǎn)，聲程就會(huì)發(fā)生變化，且缺陷波在掃描線上位置相應(yīng)發(fā)生變化。探頭移動(dòng)速度快，不同聲程缺陷波的變化也快，于是構(gòu)成缺陷游動(dòng)信號(hào)。n 長(zhǎng)期以來，人們認(rèn)為游動(dòng)信號(hào)來自裂紋類缺陷。雖然試驗(yàn)研究表明，裂紋回波信號(hào)不一定游動(dòng)，游動(dòng)信號(hào)也不一定全是裂紋。但一般說，具有游動(dòng)信號(hào)特征的缺陷具有明顯的方向性，對(duì)焊件危害比較大，因此說游動(dòng)信號(hào)是一種危險(xiǎn)信號(hào)，需要在超聲檢測(cè)中加以特別注意。游動(dòng)信號(hào)除與聲程差有關(guān)外，還與檢測(cè)靈敏度、重復(fù)頻率、焊件內(nèi)部組織、缺陷與檢測(cè)面的方位角和探頭的指向角有關(guān)。2JB/？ASMEV篇是以熒光屏滿刻度5%作為全波消失和存在的界限值。JB/，明確規(guī)定全波消失法是指在某一當(dāng)量靈敏度條件下，利用底波或缺陷回波降至熒光屏滿刻度5%以下作為全波消失的界限值，來判斷缺陷是否存在和明確缺陷尺寸的檢測(cè)方法。2碳鋼和低合金鋼鍛件為什么要采用橫波檢測(cè)？而奧氏體鋼鍛件一般不采用橫波檢測(cè)？碳鋼和低合金鋼鍛件超聲檢測(cè)時(shí)，一般選用直探頭采用縱波進(jìn)行檢測(cè)，以取得較好的檢測(cè)效果。但由于有些鍛件形狀比較復(fù)雜，而且鍛造方向千變?nèi)f化，因此，也可能產(chǎn)生取向各異的各種缺陷，此時(shí)僅靠直探頭縱波檢測(cè)已不能滿足質(zhì)量要求，而必須增加采用橫波檢測(cè)工序以取得較好的檢測(cè)效果。如超高壓整體鍛造氣瓶、水晶釜、筒形和環(huán)形鍛件等都存在這個(gè)問題。n 由于奧氏體鋼鍛件晶粒粗大、各向異性、衰減嚴(yán)重，因此，一般利用斜探頭產(chǎn)生的橫波無法進(jìn)行檢測(cè)。而縱波由于波長(zhǎng)比較大，衰減相對(duì)比較小、信噪比較高，通常較適合奧氏體鋼鍛件的超聲檢測(cè)。所以，本標(biāo)準(zhǔn)在奧氏體鋼鍛件超聲檢測(cè)這部分內(nèi)容中所提到的斜探頭，一般都是指的縱波斜探頭。n 為了克服奧氏體鋼鍛件晶粒粗大、各向異性的影響，使檢測(cè)結(jié)果盡可能和實(shí)際情況相符，因此采用的對(duì)比試塊晶粒大小和聲學(xué)特性應(yīng)與被測(cè)鍛件大致相近?？紤]到不同奧氏體鋼鍛件和奧氏體鋼鍛件不同部位的不同情況，從檢測(cè)工作的嚴(yán)肅性考慮，應(yīng)制備幾套不同粒度的奧氏體鋼鍛件對(duì)比試塊，以便能將缺陷區(qū)衰減同試塊作合理的比較。2奧氏鋼鍛件能否只制備一套對(duì)比試塊，通過測(cè)定衰減系數(shù)來解決粗晶粒材料的檢測(cè)問題?~2，是否為純橫波探傷?n 不能。應(yīng)制備幾套不同粒度的奧氏體鋼鍛件對(duì)比試塊，以便能將缺陷區(qū)衰減同試塊作合理的比較。n 不是。，既有折射縱波，也有折射橫波。2JB/、B、C三個(gè)檢測(cè)技術(shù)等級(jí)有什么意義？n JB/、B、C三個(gè)檢測(cè)技術(shù)等級(jí)，是為了便于根據(jù)承壓設(shè)備產(chǎn)品的重要程度進(jìn)行選用，原則上n A級(jí)檢測(cè)適用于鍋爐、壓力容器及壓力管道有關(guān)的支承件和結(jié)構(gòu)件焊縫檢測(cè)，n B級(jí)檢測(cè)適用于一般鍋爐、壓力容器及壓力管道對(duì)接焊縫檢測(cè)，n C級(jí)檢測(cè)適用于重要鍋爐、壓力容器及壓力管道對(duì)接焊縫檢測(cè)。2JB/、B、C三個(gè)檢測(cè)技術(shù)等級(jí)，其主要區(qū)別有哪些？n 主要區(qū)別有以下幾個(gè)方面（1）厚度范圍，A級(jí)適用于母材厚度 ≥846mm，B級(jí)和C級(jí)適用于母材厚度≥8400mm。（2）探頭數(shù)量，A級(jí)用一種K值探頭，B級(jí)用一種或兩種K值探頭，C級(jí)用兩種K值探頭。（3）檢測(cè)面，A級(jí)為單面單側(cè)，B級(jí)和C級(jí)為單面雙側(cè)或雙面雙側(cè)。（4）對(duì)橫向缺陷的檢測(cè)，A級(jí)一般不需要檢測(cè)橫向缺陷，B級(jí)和C級(jí)應(yīng)檢測(cè)橫向缺陷。（5）對(duì)焊接接頭余高的要求，A級(jí)、B級(jí)不要求將焊接接頭的余高磨平，而C級(jí)要求將焊接接頭的余高磨平。（6）對(duì)掃查區(qū)母材的檢測(cè)，C級(jí)要求用直探頭對(duì)斜探頭掃查經(jīng)過的母材區(qū)域進(jìn)行檢測(cè)。A級(jí)、B級(jí)則不需要。2JB/？n 一般情況下認(rèn)為制造重要設(shè)備的鋼板一般都經(jīng)超聲檢測(cè)合格，通常不存在鋼板再驗(yàn)收問題。但由于鋼板是按平行線檢測(cè)，而且一些小缺陷是不計(jì)的，因此，難免在聲束（包括斜探頭和直探頭）經(jīng)過的母材區(qū)域存在一些小分層缺陷。這些小缺陷對(duì)容器使用不構(gòu)成什么威脅，但有可能影響焊接接頭缺陷的檢測(cè)效果。n 從保證無損檢測(cè)的可靠性考慮，有必要預(yù)先對(duì)聲束經(jīng)過的區(qū)域進(jìn)行超聲檢測(cè)，以保證對(duì)焊接接頭缺陷的檢測(cè)效果。因此，JB/：采用靈敏度較高的C級(jí)檢測(cè)重要承壓設(shè)備時(shí)，應(yīng)將焊接接頭的余高磨平，同時(shí)對(duì)焊縫兩側(cè)斜探頭掃查經(jīng)過區(qū)域的母材部位增加直探頭超聲掃查。2在熒光屏上繪制距離波幅曲線應(yīng)注意什么問題?n 在熒光屏上繪制距離波幅曲線，應(yīng)特別注意最大檢測(cè)距離處的曲線位置不得過低。全跨距檢測(cè)時(shí)，深度為工件厚度的2倍的孔的反射波幅最好不低于熒光屏滿刻度的40％，至少應(yīng)不低于熒光屏滿刻度的20％。距離波幅曲線位置太低，超出了儀器的線性動(dòng)態(tài)范圍，實(shí)際上是降低了掃查靈敏度。且波幅過低，探頭掃查過程中的回波動(dòng)態(tài)變化不宜觀察到，容易導(dǎo)致缺陷漏檢。2為什么壁厚6~8mm鋼對(duì)接接頭的UT一般選用CSKⅡA試塊?n CSKⅡA試塊通常在薄板焊縫和堆焊層的UT中使用，因其人工缺陷是長(zhǎng)橫孔，具有軸對(duì)稱特點(diǎn)，近場(chǎng)檢測(cè)反射波幅較穩(wěn)定，有線性缺陷特征，一般能代表工件內(nèi)部有一定長(zhǎng)度的裂紋、未焊透、未熔合和條狀?yuàn)A渣，且適用于各種K值探頭。JB/？n 壁厚大于40mm，且單側(cè)坡口角度小于5176。的對(duì)接焊接接頭實(shí)際上主要指窄間隙焊接接頭。隨著承壓設(shè)備向大型和厚壁化發(fā)展，窄間隙對(duì)接焊接接頭所占比例愈來愈大。這類對(duì)接焊接接頭往往會(huì)產(chǎn)生與檢測(cè)面垂直或近似垂直的坡口未熔合和裂紋，對(duì)設(shè)備的安全運(yùn)行威脅很大，而反射面光滑的坡口未熔合缺陷用常規(guī)超聲方法很難檢出。n 串列式雙探頭技術(shù)，由于需要較復(fù)雜的機(jī)械掃查夾具，現(xiàn)場(chǎng)操作非常困難，實(shí)用性差，無法得到應(yīng)用，故此刪去。n 對(duì)于單側(cè)坡口角度小于5176。的窄間隙焊縫，如有可能應(yīng)增加對(duì)檢測(cè)與坡口表面平行缺陷的有效檢測(cè)方法，如TOFD法和相控陣技術(shù)。 3JB/176。的斜角掃查？電渣焊焊接接頭中容易出現(xiàn)“八”字裂紋，增加與焊縫中心線成45176。的斜角掃查就是為了更有效地檢測(cè)“八”字裂紋。3鋼對(duì)接焊接接頭（平板、管座、T型）超聲檢測(cè)的掃查靈敏度是有何新規(guī)定?鋼對(duì)接接頭（平板、管座、T型）超聲檢測(cè)的掃查靈敏度是不低于它們各自探測(cè)時(shí)最大聲程處的距離一波幅曲線評(píng)定線靈敏度3鋁及鋁合金管道環(huán)向焊接接頭的超聲檢測(cè)范圍與鋼制壓力管道環(huán)向焊接接頭的超聲檢測(cè)范圍有何差異?鋼制壓力管道環(huán)向焊接接頭的超聲檢測(cè)范圍：n 適用于壁厚大于或等于4mm，外徑為32～159mm或壁厚為4～6mm，外徑大于或等于159mm的鍋爐、壓力容器管子和壓力管道環(huán)向焊接接頭n 不適用于鑄鋼、奧氏體不銹鋼
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