無損檢測(cè)理論開卷4730rt-2級(jí)標(biāo)準(zhǔn)考試題(編輯修改稿)
2025-08-11 02:27 本頁(yè)面
【文章內(nèi)容簡(jiǎn)介】 C )A φ1148mm B φ1338mmC φ21914mm D φ15914mm4標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定：應(yīng)根據(jù)工件的特點(diǎn)和技術(shù)條件的要求選擇適宜的透照方式。在可以實(shí)施的情況下，應(yīng)選用單壁透照方式，在單壁透照不能實(shí)施時(shí)，才能允許采用雙壁透照方式。這一規(guī)定的主要目的是（ A ）。A 單壁透照最有利于缺陷的檢出B 單壁透照在實(shí)際工作中最容易實(shí)施C 單壁透照所采用的管電壓低，可延長(zhǎng)X射線機(jī)的使用壽命D 單壁透照時(shí)產(chǎn)生的輻射最小，有利于環(huán)保4下列那種情況說明被散射防護(hù)不符合要求（ A ）A 底片上出現(xiàn)重影的白色“B”字B 底片上不出現(xiàn)“B”字C 底片上出現(xiàn)反向黑色“B”字D 以上說法都不正確4在雙壁雙影透照時(shí)，如果像質(zhì)計(jì)放置在膠片側(cè)，則下列哪種說法正確（ D ）A 應(yīng)進(jìn)行對(duì)比試驗(yàn)，保證靈敏度相同B 應(yīng)在像質(zhì)計(jì)上適當(dāng)位置放置鉛字“R”作為標(biāo)記C 底片上的像質(zhì)計(jì)絲號(hào)即為實(shí)際透照的底片靈敏度D 應(yīng)在檢測(cè)報(bào)告中注明4采用AB級(jí)檢測(cè)技術(shù)對(duì)φ426 ，焦距568mm，最少透照次數(shù)為（ B ）。A 4次 B 5次 C 6次 D 7次4關(guān)于曝光量規(guī)定的理解，錯(cuò)誤的是（ B ）A 曝光量與焦距有關(guān)，與檢測(cè)技術(shù)等級(jí)有關(guān)B 曝光量與焦距有關(guān)，與檢測(cè)技術(shù)等級(jí)無關(guān)C 當(dāng)采用伽馬源透照時(shí)，總的曝光時(shí)間與檢測(cè)技術(shù)等級(jí)無關(guān)D 當(dāng)焦距改變時(shí)，可按平方反比定律對(duì)曝光量的推薦值進(jìn)行換算4射線檢測(cè)技術(shù)級(jí)別為B級(jí)，縱向焊接接頭一次透照長(zhǎng)度的透照厚度比K值（ B ）A K≤ B K≤ C K≤ D K≤4透照厚度30mm鋁制承壓設(shè)備對(duì)接焊縫，Ⅲ級(jí)對(duì)接焊接接頭允許存在的缺陷是（ ）。A φ5mm的夾銅 B 長(zhǎng)徑為12mm的圓形缺陷C 長(zhǎng)度10mm的夾熔合 D 長(zhǎng)度為12mm的條形缺陷50、采用專用像質(zhì)計(jì)時(shí)，在射線底片上應(yīng)能至少（ ）以上的鋼絲像質(zhì)計(jì)影像。A 一根 B 二根 C 三根 D 四根7按標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定，下列說法正確的是（ ）A采用Ir192源中心透照時(shí)，最小透照厚度為10mm時(shí)，應(yīng)經(jīng)合同各方同意B采用Ir192源其它方式照時(shí)，最小透照厚度小于10mm時(shí)，即使合同各方同意也不能能實(shí)施C 采用Se75中心照，最小透照厚度小于5mm時(shí)，合同雙方同意后方可實(shí)施D采用Se75其它方式透照時(shí)，最小透照厚度為5mm時(shí)，不用合同各方同意7標(biāo)準(zhǔn)對(duì)各級(jí)別的底片黑度值都有所提高，這一規(guī)定的主要目的是（ B ）A 提高底片的清晰度 B 擴(kuò)大一次透照厚度范圍C 提高小缺陷檢出能力D 減少散射線對(duì)底片的影響80、以下關(guān)于射線 能量重返的敘述，與標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定不相符的是（ C ）A X射線照相應(yīng)盡量選用較低的管電壓B 對(duì)截面厚度變化大的承壓類設(shè)備，在保證靈敏度的前提下，管電壓可以超過圖規(guī)定的限值，對(duì)鋼、銅及銅合金材料，管電壓增量不應(yīng)超過80KVC 采用較高管電壓時(shí)，應(yīng)保證適當(dāng)?shù)钠毓饬緿 采用任何管電壓透照所得的底片，8以下關(guān)于曝光曲線使用的敘述,與標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定不相符的是( A )A 對(duì)使用中的曝光曲線,每次檢測(cè)前應(yīng)進(jìn)行校驗(yàn)B 對(duì)每臺(tái)在用射線設(shè)備均應(yīng)做出經(jīng)常檢測(cè)材料的曝光曲線C 應(yīng)依據(jù)曝光曲線所確定的參數(shù)來進(jìn)行實(shí)際檢測(cè)D X射線機(jī)更換高壓包等重要部件后,應(yīng)對(duì)曝光曲線進(jìn)行校驗(yàn)或重新制作8以下關(guān)于增感屏使用的敘述,與標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定不相符的是 CA 高能X射線照相,可使用或銅屏也可以使用鉛屏B Se75照相,—C Ir192照相,選擇增感屏厚度時(shí)應(yīng)考慮所采用的照相技術(shù)等級(jí)D Co60照相,不允許使用鋼屏或銅屏8
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