數(shù)字電路測試系統(tǒng)介紹(編輯修改稿)
2025-04-21 02:55 本頁面
【文章內(nèi)容簡介】 0。 WAFERMAP 測試程序轉(zhuǎn)換器 ANDOSUMMIT 至 V7100 (主程序和波形程序) SENTRY 至 V7100 (波形程序) CREDENCESC212 至 V7100 (波形程序) ADVANTESTMOSPL 至 V7100 (波形程序) 驅(qū)動器 輸出電壓 VIH 0V 至 +11V VIL 2V 至 +8V 電壓擺幅 100mVpp 至 11Vpp 精度 % + 5mV 分辨率 最大 DC 電流輸出=H177。20mA 輸出 = L177。20mA 阻抗 50 177。 5%ohm 升 / 降 時間 驅(qū)動器模式 5ns/5Vpp(20% 至 80%) I/O 模式 5ns/5Vpp 總時鐘精度 (NRZ 格式 ) 177。5ns ( 最大 ) 時滯 (NRZ 格式 ) 有關(guān) PINS 177。5ns ( 最大 ) 有關(guān) TGS 177。4ns ( 最大 ) 上突波 / 下突波 3%+50mV VIH/VIL 級別 4 級別 驅(qū)動器模式 FIXHI, FIXLO, NRZ, /NRZ, RZ, /RZ, R1, EXOR, /EXOR, 無調(diào)制 時鐘的限制 參照圖 1 條件: 10Mohm 和 15pF 載荷安捷倫 83000 數(shù)字電路測試系統(tǒng)描述：特性和用途：
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