【總結(jié)】附:掃描電子顯微分析方法及其工程應(yīng)用掃描電子顯微圖象分析(SEM,黃銅管金相樣品二次電子象)微區(qū)成分能譜分析(EDS-銅基體)微區(qū)成分能譜分析(EDS-銅合金管表面的點(diǎn)腐蝕)AlKPk●EDS,Al-Si合金中的Alk的線分布和面分布掃描電鏡成象原理和方法滴狀作用體積
2025-01-02 05:38
【總結(jié)】第六章掃描電子顯微書LettuceField(16MDRAM)TheoryofScanningElectronMicroscopeHitachiHigh-TechnologiesCorporationNanoTechnologiesSalesDept.1.ResolutionImprovement30kV1kVn
2025-05-12 02:39
【總結(jié)】第八章掃描電子顯微鏡與電子探針顯微分析序?掃描電子顯微鏡(ScanningElectronMicroscope,簡(jiǎn)稱SEM)是繼透射電鏡(TEM)之后發(fā)展起來(lái)的一種電子顯微鏡?掃描電子顯微鏡的成像原理和光學(xué)顯微鏡或透射電子顯微鏡不同,它是以電子束作為照明源,把聚焦得很細(xì)的電子束以光柵狀掃描方式照射到試樣上,產(chǎn)生各種與試
2025-01-16 16:16
【總結(jié)】研究生畢業(yè)去向表屆姓名去向發(fā)表論文情況02周建萍中南大學(xué)博士發(fā)光學(xué)報(bào),2022,1:51-5503趙斌中山大學(xué)博士JournalofMaterialsSciencer,2022,39,1405SCI高分子學(xué)報(bào),
2025-05-01 18:02
【總結(jié)】第八章掃描電子顯微鏡與電子探針顯微分析?內(nèi)容提要:?第一節(jié)電子束與固體樣品相互作用時(shí)產(chǎn)生的物理信號(hào)?第二節(jié)掃描電子顯微鏡的結(jié)構(gòu)和工作原理?第三節(jié)表面形貌襯度原理及其應(yīng)用?第四節(jié)原子序數(shù)襯度原理及其應(yīng)用?第五節(jié)電子探針X射線顯微分析引言?SEM
2025-04-11 22:11
【總結(jié)】掃描電子顯微鏡第三章掃描電子顯微鏡1.掃描電鏡的優(yōu)點(diǎn)2.電子束與固體樣品作用時(shí)產(chǎn)生的信號(hào)3.掃描電鏡的工作原理4.掃描電鏡的構(gòu)造5.掃描電鏡襯度像二次電子像背散射電子像6.掃描電鏡的主要性能7.樣品制備8.應(yīng)用舉例1.掃描電鏡的優(yōu)點(diǎn)l高的分辨率。由于超高真空技術(shù)的發(fā)展,場(chǎng)發(fā)射
2025-01-15 04:39
【總結(jié)】第五章電子探針顯微分析2電子探針顯微分析電子探針(ElectronProbeMicroanalysis-EPMA)的主要功能是進(jìn)行微區(qū)成分分析。它是在電子光學(xué)和X射線光譜學(xué)原理的基礎(chǔ)上發(fā)展起來(lái)的一種高效率分析儀器。其原理是:用細(xì)聚焦電子束入射樣品表面,激發(fā)出樣品元素的特征X射線,分析特征X射線的波長(zhǎng)(或能量)可知元素種類;分析特征
2025-04-30 01:47
【總結(jié)】第三章掃描電子顯微鏡LightvsElectronMicroscope?掃描電子顯微鏡(ScanningElectronMicroscope,簡(jiǎn)稱SEM)是繼透射電鏡之后發(fā)展起來(lái)的一種電子顯微鏡?掃描電子顯微鏡的成像原理和光學(xué)顯微鏡或透射電子顯微鏡不同,它是以類似電視攝影的方式,利用細(xì)聚焦電子束在樣品表面掃描時(shí)激發(fā)出來(lái)的各種物理
2025-01-15 04:37
【總結(jié)】第五章掃描電子顯微鏡和電子探針?lè)治??掃描電子顯微鏡(ScanningelectronmicroscopeSEM)是以類似電視攝影顯像的方式,通過(guò)細(xì)聚焦電子束在樣品表面掃描激發(fā)出的各種物理信號(hào)來(lái)調(diào)制成像的顯微分析技術(shù)。?SEM在60’s商品化,應(yīng)用范圍很廣;SEM成像原理與TEM完全不同,不用電磁透鏡放大成像;新式SEM的二次電子
2025-05-04 06:57
【總結(jié)】掃描電子顯微鏡基礎(chǔ)黃銳.ScanningElectronMicroscopeOutline?掃描電鏡?光學(xué)顯微鏡與掃描電鏡—OM&SEM?掃描電鏡的特點(diǎn)—FeaturesofSEM?掃描電鏡的原理—MechanismofSEM
2025-05-01 18:11
【總結(jié)】第十四章其他顯微分析方法【教學(xué)內(nèi)容】【重點(diǎn)掌握內(nèi)容】【教學(xué)難點(diǎn)】一.離子探針顯微分析
2025-05-06 06:31
【總結(jié)】第7章其他顯微分析技術(shù)離子探針?lè)治鰞x(IMA)(二次離子質(zhì)譜儀(SIMS))俄歇電子能譜儀(AES)X射線光電子譜儀(XPS)掃描隧道顯微鏡(STM)原子力顯微鏡(AFM)場(chǎng)離子顯微鏡(FIM)原子探針(AP)離子探針顯微分析?離子探針儀是利用電子光學(xué)方法把惰性氣體等初級(jí)離子加速并聚焦成細(xì)
2025-01-17 16:21
【總結(jié)】1第十四章其它顯微分析方法簡(jiǎn)介?本章簡(jiǎn)要介紹幾種表面分析儀器和技術(shù):(1)離子探針?lè)治鰞x(IMA)或二次離子質(zhì)譜儀(SIMS);(2)低能電子衍射(LEED);(3)俄歇電子能譜儀(AES);(4)場(chǎng)離子顯微鏡(FIM)和原子探針(AtomProbe);(5)X射線光電子能譜儀(XPS);
2025-05-06 06:37
【總結(jié)】2022/9/71電子顯微分析技術(shù)2022/9/722022/9/73顯微鏡由兩個(gè)會(huì)聚透鏡組成,光路圖如圖所示。物體AB經(jīng)物鏡成放大倒立的實(shí)像A1B1,A1B1位于目鏡的物方焦距的內(nèi)側(cè),經(jīng)目鏡后成放大的虛像A2B2于明視距離處。顯微技術(shù)的相關(guān)概念?放大倍數(shù):M=成像大小/實(shí)物大小SECTION:物
2024-08-25 02:14
【總結(jié)】第六章電子探針顯微分析和俄歇電子能譜分析?電子探針顯微分析儀和俄歇能譜儀,可以對(duì)固體直接進(jìn)行微區(qū)微量成分分析,因而廣泛地應(yīng)用于科學(xué)的各個(gè)領(lǐng)域。第一節(jié)電子探針顯微分析↓↓↓入射電子束二次電子背散射電子可見(jiàn)光透射電子特征X射
2025-01-20 09:04