其他顯微分析技術(shù)ppt課件(編輯修改稿)
2025-02-13 16:21 本頁面
【文章內(nèi)容簡(jiǎn)介】 作原理 ? 若連續(xù)改變外筒上的負(fù)電壓 ， 就可以使不同能量的俄歇電子依次檢測(cè)出來 。 從而可記錄到 Auger電子計(jì)數(shù) NE—能量 E（ ev） 分布曲線 。 ? 在園筒鏡面能量分析器中還帶有一個(gè)離子濺射裝置 ， 用來進(jìn)行表面清理和剝層 。 譜線分析 Auger電子的峰值的能量范圍 50—1500 ev間，它和 SE，BE等存在范圍不重疊。 俄歇電子的記錄方式有如圖所示幾種。 ? 因 Auger峰高度較小，當(dāng)信號(hào)較弱時(shí)，在 NE—E曲線上Auger峰不明顯， ? 如果對(duì) NE—E曲線進(jìn)行微分處理，就可得到 dNE/dEE曲線，此時(shí)，原來較低的俄歇電子峰轉(zhuǎn)化為一對(duì)雙重峰，使Auger峰位和計(jì)數(shù)清晰可辨。 ? 雙重峰極小值處的能量代表 Auger電子特征能量 ? 極大值和極小值差代表 Auger電子計(jì)數(shù) 從俄歇峰的能量可進(jìn)行元素定性分析，根據(jù)峰高度可進(jìn)行半定量和定量分析。 3. 應(yīng) 用 1）金屬和合金的晶介脆斷 2）壓力加工和熱處理后的表面偏析 掃描隧道顯微鏡（ STM）與原子力顯微鏡（ AFM） STM （ Scanning Tunneling Microscope） STM是 Gerd Binnig于 1983年發(fā)明的一種新型表面測(cè)試分析儀器。 可在大氣、真空、液體環(huán)境下，在實(shí)空間內(nèi)進(jìn)行原位動(dòng)態(tài)樣品表面的原子組態(tài)，也可直接觀察樣品表面發(fā)生的物理或化學(xué)反應(yīng)的動(dòng)態(tài)過程或及反應(yīng)中原子的遷移過程。 具有極優(yōu)異的分辨率。橫向分辨率達(dá) ，縱向分辨率高達(dá) 。 結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單，對(duì)試樣尺寸沒有任何限制，分析過程不破壞樣品的表面結(jié)構(gòu)，用于材料表面結(jié)構(gòu)的直接觀察。 2. STM的工作原理 STM的工作原理如圖所示。 STM工作時(shí)，在樣品和針尖間加一定電壓，當(dāng)樣品與針尖間的距離小于一定值時(shí)，由于 量子隧道效應(yīng) ，樣品與針尖間產(chǎn)生 隧道電流 。 A具有原子尺度的針尖； B被分析樣品； STM工作時(shí)，在樣品和針尖間加一定電壓，當(dāng)樣品與針尖間的距離小于一定值時(shí)，由于 量子隧道效應(yīng) ，樣品與針尖間產(chǎn)生 隧道電流 。 在低溫低壓下，隧道電流 I可近似表達(dá)為 )2e x p ( kdI ??式中 ， I隧道電流； d樣品與針尖間的間距； k為常數(shù) ， 在真空隧道條件下 ， 與有效局部功函數(shù) ?有關(guān) ， 可近似表示為 ?? mhk 22?STM工作時(shí)，樣品與針尖間隧道電流的精確表達(dá)為： ? ? )()(1)(2 22
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