第八章鍛件與鑄件超聲檢測(cè)(編輯修改稿)
2025-11-22 12:13 本頁(yè)面
【文章內(nèi)容簡(jiǎn)介】 ?？梢栽谠噳K上或鍛件上調(diào)節(jié)。一般 B1位于屏幕水平80%位置。 ? 單直探頭基準(zhǔn)靈敏度的確定 當(dāng)被檢部位的厚度大于或等于探頭的三倍近場(chǎng)區(qū)長(zhǎng)度，且探測(cè)面與底面平行時(shí)，原則上可采用底波計(jì)算法確定基準(zhǔn)靈敏度。對(duì)由于幾何形狀所限，不能獲得底波或壁厚小于探頭的三倍近場(chǎng)區(qū)時(shí)，可直接采用 CSⅠ 標(biāo)準(zhǔn)試塊確定基準(zhǔn)靈敏度。 ? 雙晶直探頭基準(zhǔn)靈敏度的確定 使用 CS Ⅱ 試塊，依次測(cè)試一組不同檢測(cè)距離的 φ3平底孔（至少三個(gè)）。調(diào)節(jié)衰減器，作出雙晶直探頭的距離 波幅曲線，并以此作為基準(zhǔn)靈敏度。 ? 掃查靈敏度一般不得低于最大檢測(cè)距離處的 φ2mm平底孔當(dāng)量直徑。 ? 計(jì)算缺陷當(dāng)量時(shí)，若材質(zhì)衰減系數(shù)超過(guò)4dB/m，應(yīng)考慮修正。 ? 當(dāng)被檢部位厚度 x≥3N時(shí)，且鍛件具有平行底面或圓柱曲底面時(shí)，常用底波調(diào)節(jié)法。 ? 大平底：△ =20lgPB/Pf=20lg[2λx/(πDf2)] ? 空心圓柱體： △ =20lgPB/Pf=20lg[2λx/(πDf2)]177。 10lg(d/D) ? 缺陷位置和大小的測(cè)定 ? 缺陷位置的測(cè)定 ? 缺陷大小的測(cè)定： 被檢缺陷的深度大于或等于探頭的三倍近場(chǎng)區(qū)時(shí)，采用 AVG曲線及計(jì)算法確定缺陷當(dāng)量。對(duì)于三倍近場(chǎng)區(qū)內(nèi)的缺陷，可采用單直探頭或雙晶直探頭的距離 波幅曲線來(lái)確定缺陷當(dāng)量。也可采用其他等效方法來(lái)確定。 當(dāng)量計(jì)算法 ? 平底面或?qū)嵭膱A柱體： ? 空心圓柱體： )(2lg10lg20lg20 222xxxD xPP BfBfffBBf Dd?????? ???)(2lg20lg20 222xxxD xPP BfBfffBBf????? ???外 +內(nèi)－ ? 大 平底回波聲壓：△ =20lg(x2/x1) ? 平底孔回波聲壓：△ =40lg(Df1x2/Df2x1) ? 平底孔與大平底回波聲壓： △ =20lg[2λx/(πDf2)] ? 例：有一厚度 T的平底鍛件，探傷中在 T1處發(fā)現(xiàn)一缺陷，比掃查靈敏度高△ dB，要求評(píng)級(jí)。 ? 步驟 1：計(jì)算掃查靈敏度 (Φ2)， △ 1=20lg[λT/(2π)] ? 步驟 2： △ =40lg(Df1x2/Df2x1) =40lg(Df1T/2T1) ? 實(shí)際操作時(shí)： ? 將底面回波調(diào)到 6
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