核工業(yè)無損檢測中心ut-i講義(三、設(shè)備)(編輯修改稿)
2025-01-04 10:17 本頁面
【文章內(nèi)容簡介】 但覆蓋范圍小； 線聚焦：靈敏度高， 覆蓋范圍略大。 基本頻率 晶片材料 晶片尺寸 探頭種類 特征 MHz 元素縮寫符號 mm 拼音縮寫 K， MM (1) 直探頭型號舉例 (,鈦酸鋇晶片，直徑20mm，直探頭） (2)斜探頭型號舉例 5P8 6K1(5MHz,鋯鈦酸鉛晶片，8 6mm，斜探頭， K=1） 3試塊 定義：超聲檢測中，特定材料設(shè)計制作的有專門用途的試樣。 ： 1）測試儀器和探頭性能 2）調(diào)節(jié)掃描速度和靈敏度 3）判定缺陷大小 4）測定材料聲學(xué)性質(zhì)（聲速，衰減等） (1)標(biāo)準(zhǔn)試塊（ STB） 如 IIW和 IIW2試塊 (2)參考試塊 /對比試塊（ RB） 各部門依據(jù)具體檢測對象的探傷需要制定的試塊。 如 CSI， CSKIIA (1)平底孔試塊 (2)橫孔試塊 (RB3) (3)槽形試塊（矩形槽， V形槽， U形槽） (4)自然缺陷試塊 (1)鋼管試塊 (2)鋼板試塊 (CBII216。5平底孔） (3)焊縫試塊 (4)葉根試塊 1352309 φ 22554144 14全部20919919153R1R210 10 鋼、鋁壓力管道和管子焊接接頭超聲檢測對比試塊 （國際焊接協(xié)會 /荷蘭 /船形） (1)材質(zhì)： 20g (2)用途 測定儀器的水平線性、垂直線性、動態(tài)范圍 調(diào)節(jié)掃描速度和范圍 測定直探頭與儀器的分辨力、盲區(qū)、最大穿透能力 測定斜探頭的入射點、折射角（ K值）、聲束偏斜。 1955年荷蘭人提出； 1958年國際焊接學(xué)會通過并命名為 IIW試塊； ISO組織推薦使用。 (1)臺階孔 (2)階梯圓弧 (3)折射角改為 K值 (4)材質(zhì)一般同工件 有機(jī)玻璃CSKIA 試塊 圖 CSKIB 試塊 測定儀器的水平線性、垂直線性、動態(tài)范圍 調(diào)節(jié)掃描速度和范圍 測定斜探頭的入射點、折射角（ K值） 調(diào)節(jié)靈敏度 圖 CSKIB 試塊 （中心切槽 /不切槽） 測定儀器的水平線性、垂直線性、動態(tài)范圍 調(diào)節(jié)掃描速度和范圍 測定斜探頭的入射點 調(diào)節(jié)靈敏度 圖 CSKIB 試塊 65 176。 70 176。40圖B. 13 G D2 (26)， CS2(66)試塊 （平底孔試塊） 儀器的水平線性、垂直線性、動態(tài)范圍 測定平底孔 AV
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