核工業(yè)無損檢測中心ut-i 講義(三、設備)-文庫吧
2024-11-23 10:17 本頁面
【正文】 (1)波型分類： 縱波探頭 橫波探頭 表面波探頭 (2)接觸方式：接觸式 /液浸式 (3)聲束聚焦：聚焦和非聚焦 (4)晶片數量：單晶片探頭 /雙晶片探頭 (5)聲束入射：直探頭 /斜探頭 /可變角探頭 直探頭（縱波接觸式直探頭） 主要特點： 1）適宜探測基本與探測面相平行的缺陷 2）廣泛應用于鍛件、板材、鑄件的探傷 3）測厚的應用。 4）探測近表面盲區(qū)大，分辨力低。 直探頭主要結構 2. 阻尼塊和吸聲材料 : 以 逆壓電效應發(fā)射 超聲波 以 正壓電效應接收 超聲波 特點： 尺寸越大，發(fā)射能量越大 指向性越好，靈敏度高但近場長度大 2. 阻尼塊和吸聲材料 粘附在晶片后面具有阻尼作用的塊狀物。 作用： 1）阻尼晶片振動，減小脈沖寬度（持續(xù)振動時間），提高分辨力，減小盲區(qū)。 2）吸收晶片背面雜波，提高信噪比。 3）支撐晶片。 ：保護晶片不致磨損或損壞。 硬保護膜 （剛玉）適用于光潔度高的表面（如鍛件表面）； 軟保護膜適用于光潔度低或表面較軟的工件表面（如軸瓦合金）。 斜探頭 ： 主要有縱波（ ?L ?1 ） 橫波（ ?1 ?L ?II ） 表面波（ ?L ≥ ?II ） 板波探頭 ：聲束傾斜入射 適用于探測與探測面成一定角度的缺陷，如焊縫、管材、鍛件的探傷。 斜探頭主要結構 橫波斜探頭與直探頭的主要區(qū)別： 1）多透聲斜楔： 實現波型轉換，使工件中只存在折射橫波 特點：縱波聲速小于工件縱波聲速 衰減系數適當 耐磨宜加工 加工吸聲槽，減少反射雜波 2）少保護膜 晶片不與工件直接接觸 30 176。 ， 45 176。 等 45176。 60176。 70176。 等 K標稱 k=1,2,3等 雙晶探頭 ：一個發(fā)射 /一個接收 雙晶縱波 雙晶橫波 ：靈敏度高；雜波少盲區(qū)小 近場長度小（延遲塊的采用） 探測范圍可調 主要用于探傷近表面缺陷。 制作成本高，覆蓋深度有限。 雙晶探頭結構 ：點聚焦，線聚焦 /水浸聚焦，接觸聚焦 ： 點聚焦：靈敏度高，分辨力高；
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