【文章內(nèi)容簡介】 0mm， Se75源的最小透照厚度可降至 5mm。 理解：（ 1）鼓勵和提倡采用源在內(nèi)中心透照方式盡可能實現(xiàn)單壁透照，同時也有利于橫向裂紋的檢出（ 2）其他透照方式包括：雙壁雙影、雙壁單影、內(nèi)透法 F＞R、 F＜ R（ 3）經(jīng)合同各方同意的主要目的是 對‘放寬最小透照厚度’要慎重 （ 4） γ射線源和高能Ｘ射線適用的透照厚度范圍與檢測的技術(shù)級別有關(guān)，其他透照方式‘放寬最小透照厚度’與技術(shù)級別有關(guān)（僅限于 A級 AB級） 應(yīng)用： （ 1）采用 Ir192源中心透照時最小透照厚度可為 10mm，且不用合同各方同意。如最小透照厚度小于10mm時，即使合同各方同意也不能實施。采用其他透照方式當透照厚度小 20mm時，應(yīng)經(jīng)合同各方同意。如最小透照厚度小于 10mm時，即使合同各方同意也不能實施。 （ 2）采用 Se75源中心透照時最小透照厚度可為5mm，且不用合同各方同意。如最小透照厚度小于 5mm時，即使合同各方同意也不能實施。采用其他透照方式當透照厚度小 10mm時，應(yīng)經(jīng)合同各方同意。如最小透照厚度小于 5mm時，即使合同各方同意也不能實施。 （ 3）有效補償措施包括：高類別的膠片、適當提高底片黑度、提高增感屏的厚度、散射線的屏蔽。 注意：（ 1）最小透照厚度以公稱厚度計算。（ 2）合同各方同意：一般指在施工方案上或工藝文件上有甲方簽字認可，并存檔。 射線源至工件表面的最小距離 所選用的射線源至工件表面的距離 f應(yīng)滿足下式的要求： － A 級射線檢測技術(shù)： f ≥ b 2/3 － AB級射線檢測技術(shù)： f ≥ 10db 2/3 － B 級射線檢測技術(shù)： f ≥ 15db 2/3 圖 2是 A級和 B級射線檢測技術(shù)確定 f的諾模圖，圖 3是 AB級射線檢測技術(shù)確定 f的諾模圖。 有效焦點尺寸 d 按附錄 E（規(guī)范性附錄）的規(guī)定計算。 采用源在內(nèi)中心透照方式周向曝光時，只要得到的底片質(zhì)量符合 要求， f值可以減小，但減小值不應(yīng)超過規(guī)定值的 50%。 采用源在內(nèi)單壁透照方式時，只要得到的底片質(zhì)量符合 ， f值可以減小，但減小值不應(yīng)超過規(guī)定值的20%。 理解： （ 1）確定射線源至工件表面的最小距離與檢測技術(shù)級別有關(guān)。減小值與檢測技術(shù)級別無關(guān)，與透照方式有關(guān)。 （ 2）鼓勵和提倡采用內(nèi)透法特別是中心內(nèi)透法。 體現(xiàn)了采用單壁透照的原則。減少透照厚度，有利與檢驗缺陷；減少照射角，有利裂紋檢出。 應(yīng)用：（ 1）由諾模圖中可直接得出射線源至工件表面最小距離（ 2）工件表面至膠片的距離應(yīng)根據(jù)透照方式確定，同時應(yīng)考慮焊縫余高和墊板（雙壁單影、單壁單影）的厚度 注意：由諾模圖中給出的數(shù)據(jù)是射線源至工件表面的最小距離。 曝光量 Ｘ射線照相，當焦距為 700mm時，曝光量的推薦值為： A級和 AB級射線檢測技術(shù)不小于 15mAmin； B級射線檢測技術(shù)不小于 20mAmin。當焦距改變時可按平方反比定律對曝光量的推薦值進行換算。 采用 γ射線源透照時 , 總的曝光時間應(yīng)不少于輸送源 往返 所需時間的 10倍。 理解： （ 1）曝光量的大小與焦距有關(guān) （ 2） X射線的曝光量的選擇與檢測技術(shù)級別有關(guān) （ 3）采用 γ射線源透照時，在某一時段焦距是在不斷變化，為保證底片質(zhì)量，從而確定了總的曝光時間 應(yīng)用：以 AB級為例：當焦距 700mm時，曝光量應(yīng)大于或等于 15mAmin、當焦距大于 700mm時，曝光量應(yīng)大于 15mAmin、當焦距小于 700mm時，曝光量可小于或等于 15mAmin、焦距改變時按平方反比定律對曝光量的推薦值進行換算。 注意：對小口徑薄壁管采用 γ射線源透照時，強度不宜太大 曝光曲線 對每臺在用射線設(shè)備均應(yīng)做出經(jīng)常檢測材料的曝光曲線，依據(jù)曝光曲線確定曝光參數(shù)。 制作曝光曲線所采用的膠片、增感屏、焦距、射線能量等條件以及底片應(yīng)達到的靈敏度、黑度等參數(shù)均應(yīng)符合本部分的規(guī)定。 對使用中的曝光曲線，每年至少應(yīng)校驗一次。射線設(shè)備更換重要部件或經(jīng)較大修理后應(yīng)及時對曝光曲線進行校驗或重新制作。 理解：（ 1）曝光曲線是針對 X射線機 （ 2）每臺 X射線機必須有曝光曲線且不能混用 （ 3）射線設(shè)備重要部件是指 X射線管和高壓包 應(yīng)用：（ 1）曝光曲線橫坐標上的厚度應(yīng)是穿透厚度（ 2）當實際拍片的條件與制作曝光曲線的條件不一致時，必須對曝光曲線作相應(yīng)的修正。 注意：曝光曲線的校驗日期（至少每年一次） 無用射線和散射線屏蔽 應(yīng)采用金屬增感屏、鉛板、濾波板、準直器等適當 措施，屏蔽散射線和無用射線，限制照射場范圍。 對初次制定的檢測工藝或當在使用中檢測工藝的 條件、環(huán)境發(fā)生改變時 ,應(yīng)進行背散射防護檢查。 檢查背散射防護的方法是：在暗盒背面貼附“ B”鉛字標記，一般 B鉛字的高度為 13mm、厚度為 ,按檢測工藝的規(guī)定進行透照和暗室處理。若在底片上出現(xiàn)黑度低于周圍背景黑度的“ B”字影像，則說明背散射防護不夠 ,應(yīng)增大背散射防護鉛板的厚度。若底片上不出現(xiàn) “ B”字影像或出現(xiàn)黑度高于周圍背景黑度的“ B”字影像，則說明背散射防護符合要求。 理解：（ 1）金屬增感屏、鉛板、濾波板、準直器等是屏蔽和控制散射線的主要器件 （ 2） 屏蔽和控制散射線與檢測技術(shù)級別無關(guān) （ 3）背散射檢查的前提條件（初次制定的檢測工藝或當在使用中檢測工藝的條件、環(huán)境發(fā)生改變） 應(yīng)用：對不是初次制定的檢測工藝或在使用中檢測工藝的條件、環(huán)境未發(fā)生變化時，不用每次都進行背散射檢查 注意：在薄工件或不用增感屏時，有時會出現(xiàn)黑度高于周圍背景黑度的“ B”字影像 像質(zhì)計的使用 像質(zhì)計一般應(yīng)放置在工件源側(cè)表面焊接接頭的一端（ 在被檢區(qū)長度的 1/4左右位置 ） ,金屬絲應(yīng)橫跨焊縫，細絲置于外側(cè)。當一張膠片上同時透照多條焊接接頭時 ,像質(zhì)計應(yīng)放置在透照區(qū)最邊緣的焊縫處。 像質(zhì)計放置原則 a) 單壁透照規(guī)定像質(zhì)計放置在源側(cè)。雙壁單影透照規(guī)定像質(zhì)計放置在膠片側(cè)。雙壁雙影透照像質(zhì)計可放置在源側(cè)，也可放置在膠片側(cè)。 b) 單壁透照中，如果像質(zhì)計無法放置在源側(cè)，允許放置在膠片側(cè)。 c) 單壁透照中像質(zhì)計放置在膠片側(cè)時，應(yīng)進行對比試驗。 對比試驗方法是在射源側(cè)和膠片側(cè)各放一個像質(zhì)計，用與工件相同的條件透照，測定出像質(zhì)計放置在源側(cè)和膠片側(cè)的靈敏度差異，以此修正像質(zhì)指數(shù)規(guī)定，以保證實際透照的底片靈敏度符合要求。 d) 當像質(zhì)計放置在膠片側(cè)時，應(yīng)在像質(zhì)計上適當位置放置鉛字“ F”作為標記， F標記的影像應(yīng)與像質(zhì)計的標記同時出現(xiàn)在底片上，且應(yīng)在檢測報告中注明。 原則上每張底片上都應(yīng)有像質(zhì)計的影像。當一次曝光完成多張膠片照相時，使用的像質(zhì)計數(shù)量允許減少但應(yīng)符合以下要求 : a) 環(huán)形對接焊接接頭采用源置于中心周向曝光時，至少在圓周上等間隔地放置 3個像質(zhì)計 。 b) 球罐對接焊接接頭采用源置于球心的全景曝光時，至少在北極區(qū)、赤道區(qū)、南極區(qū)附近的焊縫上沿緯度等間隔地各放置 3個像質(zhì)計，在南、北極的極板拼縫上各放置 1個像質(zhì)計 。 c) 一次曝光連續(xù)排列的多張膠片時，至少在第一張、中間一張和最后一張膠片處各放置一個像質(zhì)計。 小徑管可選用通用線型像質(zhì)計或附錄 F（規(guī)范性附錄）規(guī)定的專用（等徑金屬絲）像質(zhì)計，金屬絲應(yīng)橫跨焊縫放置。 如底片黑度均勻部位（ 一般是鄰近焊縫的母材金屬區(qū) ）能夠清晰地看到長度不小于10mm的連續(xù)金屬絲影像時，則認為該絲是可識別的。專用像質(zhì)計至少應(yīng)能識別兩根金屬絲。 理解： （ 1）在像質(zhì)計擺放原則中對 1/4處是一個相對概念 （ 2）根據(jù)透照方式的不同規(guī)定了像質(zhì)計應(yīng)的擺放位置（ 3）規(guī)定了允許減少的三種情況（環(huán)形焊縫周向曝光： ≥3 ；連續(xù)多張一次曝光： ≥3 ；球：≥3 3＋ 2）（ 4） 小徑管即可以選用通用線型像質(zhì)計也可以選用專用線型像質(zhì)計（ 4）像質(zhì)計的觀察 一般在母材上而不是在焊縫上。（考慮深槽焊）（ 5）“ F”標記的影像應(yīng)與像質(zhì)計的 標記 同時出現(xiàn)在底片上（像質(zhì)計的標記是指像質(zhì)計上的標準號） 應(yīng)用： （ 1）只有在單壁透照，象質(zhì)計放在膠片測時才進行對比試驗，其他方式均不用做對比試驗。（ 2）像質(zhì)計可放置在源側(cè)，也可放置在膠片側(cè)僅限于小徑管雙壁雙影時使用（ 3）“ F”標記一般應(yīng)放置在像質(zhì)計標識的右上角。（ 4）當焊縫寬度較大時應(yīng)加長金屬絲的長度，或適當移動像質(zhì)計的位置。（ 5）當象質(zhì)計放在膠片測時，應(yīng)在檢驗報告