軟件回歸測(cè)試及其實(shí)踐(編輯修改稿)
2025-06-17 20:20 本頁(yè)面
【文章內(nèi)容簡(jiǎn)介】 例是冗余的。冗余測(cè)試用例的存在降低了回歸測(cè)試的效率。所以需要定期的整理測(cè)試用例庫(kù)，并將冗余的用例刪除掉。 (4)增添新的測(cè)試用例 如果某個(gè)程序段、構(gòu)件或關(guān)鍵的接口在現(xiàn)有的測(cè)試中沒有被測(cè)試，那么應(yīng)該編寫新測(cè)試用例重新對(duì)其進(jìn)行測(cè)試。并將新編寫的測(cè)試用例合并到基線測(cè)試包中。 通過對(duì)測(cè)試用例庫(kù)的維護(hù)不僅改善了測(cè)試用例的可用性，而且也提高了測(cè)試庫(kù)的可信性，同時(shí)還可以將一個(gè)基線測(cè)試用例庫(kù)的效率和效用保持在一個(gè)較高的級(jí)別上。 回歸測(cè)試包的選擇 在軟件生命周期中，即使一個(gè)得到良好維護(hù)的測(cè)試用例庫(kù)也可能變得相當(dāng)大，這使每次回歸測(cè)試都重新運(yùn)行完整的測(cè)試包變得不切實(shí)際。一個(gè)完全的回歸測(cè)試包括每個(gè)基線測(cè)試用例，時(shí)間和成本約束可能阻礙運(yùn)行這樣一個(gè)測(cè)試，有時(shí)測(cè)試組不得不選擇一個(gè)縮減的回歸測(cè)試包來完成回歸測(cè)試。 回歸測(cè)試的價(jià)值在于它是一個(gè)能夠檢測(cè)到回歸錯(cuò)誤的受控實(shí)驗(yàn)。當(dāng)測(cè)試組選擇縮減的回歸測(cè)試時(shí)，有可能刪除了將揭示回歸錯(cuò)誤的測(cè)試用例，消除了發(fā)現(xiàn)回歸錯(cuò)誤的機(jī)會(huì)。然而，如果采用了代碼相依性分析等安全的縮減技術(shù)，就可以決定哪些測(cè)試用例可以被刪除而不會(huì)讓回歸測(cè)試的意圖遭到破壞。 選擇回歸測(cè)試策略應(yīng)該兼顧效率和有效性兩個(gè)方面。常用的選擇回歸測(cè)試的方式包括： (1)再測(cè)試全部用例 選擇基線測(cè)試用例庫(kù)中的全部測(cè)試用例組成回歸測(cè)試包，這是一種比較安全的方法，再測(cè)試全部用例具有最低的遺漏回歸錯(cuò)誤的風(fēng)險(xiǎn)，但測(cè)試成本最高。全部再測(cè)試幾乎可以應(yīng)用到任何情況下，基本上不需要進(jìn)行分析和重新開發(fā)，但是，隨著開發(fā)工作的進(jìn)展，測(cè)試用例不斷增多，重復(fù)原先所有的測(cè)試將帶來很大的工作量，往往超出了我們的預(yù)算和進(jìn)度。 (2)基于風(fēng)險(xiǎn)選擇測(cè)試 可以基于一定的風(fēng)險(xiǎn)標(biāo)準(zhǔn)來從基線測(cè)試用例庫(kù)中選擇回歸測(cè)試包。首先運(yùn)行最重要的、關(guān)鍵的和可疑的測(cè)試，
畢業(yè)設(shè)計(jì)相關(guān)推薦
鄂ICP備17016276號(hào)-1