完整溶膠ppt課件(編輯修改稿)
2025-06-16 03:35 本頁面
【文章內(nèi)容簡介】 423224 InnnnVI ??????????????I 散射光強度 I0 入射光強度 ? 波長 ? 粒子濃度 (粒子數(shù) /體積 ) V 單個粒子體積 n1， n2 粒子，介質(zhì)折光率 0222212221423224 InnnnVI ??????????????二．光散射定律 ?? Reyleigh公式 可見光 400 ～ 700 nm （蘭 紅） 從側(cè)面看溶膠，呈蘭色（散射） (2) I ? ?，粒子濃度越大，散射光越強 濁度法測定溶膠的濃度 (3) I ? V，粒子體積越大，散射光越強 從乳光強度分布確定粒度分布 ?? 塵粒測定儀 (4) I 與折光率差 ?n 有關(guān)， ?n 越大，散射光越強 因此散射光是由于光學不均勻性引起的 大分子溶液單相， ?n小， I 就小 波長越短，散射光越強 (1) ， 41??I三 . 溶膠的顏色 吸收，與觀察方向無關(guān) 散射，與觀察方向有關(guān) 若吸收很弱，主要表現(xiàn)為散射，如 AgCl， BaSO4溶膠：乳光 若吸收較強，主要表現(xiàn)為其補色， 如 Au 溶膠（紅）， As2S3 溶膠（黃） 粒子大小可改變吸收 ~ 散射相對比 如 Au溶膠 高度分散時，吸收為主：紅 放置后粒子增大，散射為主：蘭 二個因素 四 . 光學方法測定粒子大小 1. 超顯微鏡法 普通顯微鏡：明視野，分辯率 10–7m，無法計數(shù) 超顯微鏡： 四 . 光學方法測定粒子大小 1. 超顯微鏡法 普通顯微鏡：明視野，分辯率 10–7m，無法計數(shù) 超顯微鏡： 四 . 光學方法測定粒子大小 1. 超顯微鏡法 普通顯微鏡：明視野，分辯率 10–7m，無法計數(shù) 方法： 計數(shù)：每 mL中粒子數(shù) n 稱重：每 mL中粒子重量 m 計算： m = n?V?? ?? nr ?? 334由此式計算 r 2. 激光散射法 3. 電鏡 暗視野，觀察散射光，一個粒子一個光點，可計數(shù) （用血球計數(shù)器） 超顯微鏡： 第五節(jié) 溶膠的電學性質(zhì) 一．電動現(xiàn)象 1. 電泳： 膠粒在電場中運動 泥土 + – 膠粒帶負電 介質(zhì)帶正電 2. 電滲： 介質(zhì)在電場中運動 + – 泥土 半透膜 一．電動現(xiàn)象 1. 電泳： 膠粒在電場中運動 2. 電滲： 介質(zhì)在電場中運動 3. 流動電勢： 使介質(zhì)移動，產(chǎn)生電場 4. 沉降電勢： 使膠粒移動，產(chǎn)生電場 電動現(xiàn)象說明：溶膠質(zhì)點與介質(zhì)分別帶電，在電場中發(fā)生移動，或移動時產(chǎn)生電場 二 . 帶電原因 2. 電離帶電 如硅酸溶膠 H2SiO3 （不同 pH時） 3. 同晶置換 如晶格中高價離子被低價離子置換而帶負電 1. 吸附帶電 非選擇性吸附： 選擇性優(yōu)先吸附 ? Fajans法金斯規(guī)則： 難溶鹽晶體的溶膠，優(yōu)先吸附與其成分相同的離子 HSiO3– + H+ HSiO2+ + OH – 吸附介質(zhì)中 H+， OH– 或其它 一般陽離子水化能力強，不易吸附 懸浮粒子往往吸附陰離子而帶負電 4. 摩擦帶電 非水介質(zhì)中無電離，質(zhì)點與介質(zhì)摩擦帶電 三 . 溶膠表面雙電層理論 1. 平板雙電層（ Helmholtz模型） 模型過于簡單 不能區(qū)別表面電勢與電動電勢 三 . 溶膠表面雙電層理論 反離子排布 形成內(nèi)多外少的擴散狀分布 (符合 Boltzman分布 ) 靜電吸力，向內(nèi)集中 熱運動，向外擴散 ?0 電位 距離 x kx?? e0??反離子 定位離子 滑動面 2. 擴散雙電層 （ GowyChanman模型） 三 . 溶膠表面雙電層理論 反離子排布 形成內(nèi)多外少的擴散狀分布 (符合 Boltzman分布 ) 兩者分界面稱滑動面 電動電勢 滑動面處電勢 靜電吸力，向內(nèi)集中 熱運動，向外擴散 膠體粒子移動時 近端反離子跟隨移動 遠端反離子不跟隨移動 ?0 電位 距離 x ? kx?? e0??反離子 定位離子 滑動面 滑動面 2. 擴散雙電層 （ GowyChanman模型） 三 . 溶膠表面雙電層理論 距離 x 3. 吸附擴散雙電層 （ Stern模型） 是前二種模型的結(jié)合 定位離子 ?0 ?0 ? 反離子 定位離子 滑動面 擴散層 ?d Stern 面 滑動面內(nèi)離
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