09第九講統(tǒng)計(jì)過(guò)程控制與診斷-文庫(kù)吧在線(xiàn)文庫(kù)
【正文】 R圖的 CL = R = UCL = D4R = = LCL，不必要 （ 4）根據(jù)以上數(shù)據(jù)作圖并打點(diǎn)，見(jiàn)圖 120。 （ 2）失控狀態(tài)的判斷 只要控制圖上的點(diǎn)子出現(xiàn)下列情況時(shí)，就可判斷工序?yàn)槭Э貭顟B(tài)： 首先， 控制圖上的點(diǎn)子超出控制界限外或恰好在界限上；其次，控制界限內(nèi)的點(diǎn)子排列方式有缺陷，呈現(xiàn)非隨機(jī)排列。 ? 連續(xù) 7點(diǎn)在中心線(xiàn)一側(cè)，如圖 122。 為什么上述各種情況有些是正常的有些不是正常的，這涉及到控制圖缺陷的概率計(jì)算。 2σ～ 177。 所以“ 7點(diǎn)鏈”出現(xiàn)的概率值為： 因?yàn)?＜ （小概率標(biāo)準(zhǔn)值），所以“ 7點(diǎn)鏈”應(yīng)判為點(diǎn)子排列有缺陷。如果我們抽取到這樣的產(chǎn)品進(jìn)行檢驗(yàn)，那么，這時(shí)由于點(diǎn)子未出界判斷生產(chǎn)過(guò)程正常，就犯了漏發(fā)警報(bào)的錯(cuò)誤，這種錯(cuò)誤就叫做第二種錯(cuò)誤。而英國(guó)和北歐等少數(shù)國(guó)家則采用所謂概率界限方式。 用 “ B”表示 。 當(dāng) K≥ 1時(shí) ， 認(rèn)為 CPK＝ 0。 2. 過(guò)程加工的分布中心與公差中心的偏移量 ε ； 3. 過(guò)程加工的質(zhì)量特性分散程度 ， 即標(biāo)準(zhǔn)偏差 σ 。 只有當(dāng)中心偏移量 ε ＝ 0， 而 CP值仍然小于 1時(shí) ， 才考慮提高過(guò)程能力 ， 減少過(guò)程加工的分散程度或考慮是否有可能放寬公差范圍 。 五、過(guò)程能力調(diào)查 3. 過(guò)程能力調(diào)查的程序 1) 明確調(diào)查目的； 2) 選擇調(diào)查對(duì)象； 3) 確定調(diào)查方法； 4) 工序的標(biāo)準(zhǔn)化； 5) 嚴(yán)格按照各項(xiàng)標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行作業(yè)； 6) 收集數(shù)據(jù)； 7) 畫(huà)直方圖或分析用的控制圖； 8) 判斷過(guò)程是否處于控制狀態(tài)； 9) 計(jì)算過(guò)程能力指數(shù)； 10) 處理 。 五、過(guò)程能力調(diào)查 2. 過(guò)程能力調(diào)查的方法 －－直方圖法：可以通過(guò)直方圖的分散范圍同公差范圍比較 ， 簡(jiǎn)單而直觀(guān)地判斷過(guò)程能力能否滿(mǎn)足質(zhì)量要求；簡(jiǎn)便計(jì)算出過(guò)程能力指數(shù)CPK ， 為分析過(guò)程中系統(tǒng)因素的影響提供依據(jù) 。 ? 修訂工序 ， 改進(jìn)工藝方法 ， 修訂操作規(guī)程 ， 優(yōu)化工藝參數(shù) ， 補(bǔ)充增添中間工序 ， 推廣應(yīng)用新材料 、 新工藝 、 新技術(shù)； ? 檢修 、 改造或更新設(shè)備 ， 改造 、 增添與公差要求相適應(yīng)的精度較高的設(shè)備； ? 增添工具工裝 ， 提高工具工裝的精度； ? 改變材料的進(jìn)貨周期 ， 盡可能減少由于材料進(jìn)貨批次的不同而造成的質(zhì)量波動(dòng)； ? 改造現(xiàn)有的現(xiàn)場(chǎng)條件 ， 以滿(mǎn)足產(chǎn)品對(duì)現(xiàn)場(chǎng)環(huán)境的特殊要求； ? 對(duì)關(guān)鍵工序 、 特種工藝的操作者進(jìn)行技術(shù)培訓(xùn)； ? 加強(qiáng)現(xiàn)場(chǎng)的質(zhì)量控制 ， 設(shè)置過(guò)程質(zhì)量控制點(diǎn)或推行控制圖管理 ， 開(kāi)展 QC小組活動(dòng)；加強(qiáng)質(zhì)檢工作 。 ＞ CP≥ 1 2級(jí) 過(guò)程能力 尚可 必須用控制圖或其他方法對(duì)工序進(jìn)行控制和監(jiān)督 ， 以便及時(shí)發(fā)現(xiàn)異常波動(dòng)；對(duì)產(chǎn)品按正常規(guī)定進(jìn)行檢驗(yàn) 。 －－過(guò)程能力指數(shù)是技術(shù)要求和過(guò)程能力的比值 。 趨勢(shì)狀況－連續(xù)七點(diǎn)以上上升或下降 。反之，如果我們把這間距縮小，則犯第一種錯(cuò)誤的可能性增大，而犯第二種錯(cuò)誤的可能性減小，這兩者也是矛盾的。 ? 3‰ 這數(shù)值雖然很小，但這類(lèi)事件總還是可能發(fā)生的。 k 例如，“ 7點(diǎn)鏈”的點(diǎn)子落在中心線(xiàn)兩側(cè)的概率是相同的，其值取 （嚴(yán)格地講，點(diǎn)子落在 μ177。它的應(yīng)用條件是： ①每次試驗(yàn)只有兩種結(jié)果，即成功或失??； ②每次試驗(yàn)是相互獨(dú)立的。 ⑤點(diǎn)子在波動(dòng)呈現(xiàn)周期性變化，表明生產(chǎn)過(guò)程有系統(tǒng)性因素發(fā)生。 控制圖有缺陷的狀態(tài)大致有以下幾種： ①點(diǎn)子越出控制界限。 ①連續(xù) 25個(gè)點(diǎn)子沒(méi)有一點(diǎn)在控制界限以外； ②連續(xù) 35個(gè)點(diǎn)子中最多有一點(diǎn)在控制界限以外； ③連續(xù) 100個(gè)點(diǎn)子中最多有兩點(diǎn)在控制界限以外。 9. 在不對(duì)該過(guò)程做任何調(diào)整的同時(shí) ， 繼續(xù)用同樣的方法對(duì)多裝量抽樣 、 觀(guān)察和打點(diǎn) 。 多裝量（ g）和樣本統(tǒng)計(jì)量 樣本號(hào) x 1 x 2 x 3 x 4 x 5 ∑ x x R 1 47 32 44 35 20 178 27 2 19 37 31 25 34 146 18 3 19 11 16 11 44 101 33 4 29 29 42 59 38 197 30 5 28 12 45 36 25 146 33 6 40 35 11 38 33 157 29 7 15 30 12 33 26 116 21 8 35 44 32 11 38 160 33 9 27 37 26 20 35 145 17 10 23 45 26 37 32 163 22 11 28 44 40 31 18 161 26 12 31 25 24 32 22 134 10 13 22 37 19 47 14 139 33 14 37 32 12 38 30 149 26 多裝量（ g）和樣本統(tǒng)計(jì)量 樣本號(hào) x 1 x 2 x 3 x 4 x 5 ∑ x x R 15 25 40 24 50 19 158 31 16 7 31 23 18 32 111 25 17 38 0 41 40 37 156 41 18 35 12 29 48 20 144 36 19 31 20 35 24 47 157 27 20 12 27 38 40 31 148 28 21 52 42 52 24 25 195 28 22 20 31 15 3 28 97 28 23 29 47 41 32 22 171 25 24 28 27 22 32 54 163 32 25 42 34 15 29 21 141 27 累計(jì) 686 平均 X＝ R＝ ＝ 1) 計(jì)算各樣本平均值 （ x） 和各樣本極差的平均值 （ R ） 。 3σ間的概率 小組觀(guān)察數(shù)目 n A2 D3 D4 m3 A2 E2 1/ d2 2 1. 830 3. 267 1. 880 2. 660 0. 886 3 1. 023 2. 575 1. 187 1. 772 0. 591 4 0. 729 2. 232 0. 796 1. 457 0. 486 5 0. 577 15 0. 691 1. 290 0. 430 6 0. 483 2. 004 0. 549 1. 184 0. 395 7 4. 419 0. 076 1. 924 0. 509 1. 109 0. 370 8 0. 373 0 .136 1. 864 0. 432 1. 054
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