統(tǒng)計(jì)過程控制123456789-文庫吧在線文庫
【正文】 常用。 ?測試制程能力 ?計(jì)算產(chǎn)品不良率 ?調(diào)查是否混入兩個(gè)以上不同群體 ?指定規(guī)格界限 ?研究設(shè)計(jì)的規(guī)格界限是否可用于制程管制 ?判定數(shù)據(jù)的真假 ?與規(guī)格相比較 R=Max－ Min K=1+ 圖形制作與分析 — 11 直方（正態(tài)）圖 組距 =極差 /組數(shù) 起點(diǎn)值 =最小值－測定值最小位數(shù) /2 終點(diǎn)值 =最大值－測定值最小位數(shù) /2 第一組下界 =起始點(diǎn)值 第一組上界 =第二組下界 =起始點(diǎn)值 +組距 圖形制作與分析 — 11 直方（正態(tài)）圖 第 K組上界 =終點(diǎn)數(shù)值 各組中心點(diǎn) =(各組上界 +各組下界 )/2 (應(yīng)用 Minitab軟件 ) 疊加各列 : (Manip—StackStack Columns) 進(jìn)入正態(tài)分布圖界面 : (Stat—Quality ToolsCapability Analysis(Normal) 圖形制作與分析 — 11 直方（正態(tài)）圖 ?參數(shù)中含有成分相對較高或較低的數(shù)據(jù) 在“ Single column”中輸入疊加后的數(shù)值所在列 在“ Subgroup size”中輸入子組容量 在“ Lower spec”中輸入標(biāo)準(zhǔn)下限 在“ Upper spec”中輸入標(biāo)準(zhǔn)上限 進(jìn)入“ Options”界面 在“ Target”中輸入標(biāo)準(zhǔn)中心值 OK 圖形制作與分析 — 11 直方（正態(tài)）圖 ?變異剛開始或已經(jīng)對變異采取了措施 ?產(chǎn)品經(jīng)過全檢 ?設(shè)備出現(xiàn)較大松動(dòng)或磨損 ?分析時(shí)間長，測量頻率小 ?數(shù)據(jù)中混有不同過程的測量值 ?數(shù)據(jù)經(jīng)過編輯 ?因生產(chǎn)過程出現(xiàn)問題而做了調(diào)整 圖形制作與分析 — 11 直方（正態(tài)）圖 ?因儀器精度不夠測定值需要適當(dāng)?shù)墓烙?jì) ?數(shù)據(jù)經(jīng)過編輯 ?不同特性的數(shù)據(jù)混在一起 ?數(shù)據(jù)輸入有誤 ?制程中有少量其他原因混入 ?因制程中出現(xiàn)特殊原因而產(chǎn)生變異 圖形制作與分析 — 11 直方（正態(tài)）圖 ?數(shù)據(jù)經(jīng)過編輯 ?測量數(shù)據(jù)過少 ?儀器精度不夠，測量數(shù)據(jù)較多 ?品質(zhì)一般而且數(shù)據(jù)經(jīng)過挑選 ?數(shù)據(jù)經(jīng)過編輯 ?作圖有誤 ?品質(zhì)較差而且使用經(jīng)過全檢的數(shù)據(jù) 圖形制作與分析 — 11 直方（正態(tài)）圖 LCL UCL CL 圖形制作與分析 — 11 直方（正態(tài)）圖 （注：圖中曲線是根據(jù)正態(tài)分布原理擬合出來的） 圖形制作與分析 — 12 Kσ－ Chart K倍標(biāo)準(zhǔn)差管制圖可以直觀的看出現(xiàn)有的品質(zhì)能夠達(dá)到多少倍標(biāo)準(zhǔn)差，通常 K取 1~6。 Xi、 Si Xi= n ΣXi Σ(Xi X)2/(n – 1) Si= 計(jì)算中心線 S= ΣSi n 均值圖 CL(同 X/bar圖 ) 標(biāo)準(zhǔn)差圖 CL 圖形制作與分析 —8 Xbarσ均值標(biāo)準(zhǔn)差圖 均值圖 UCL、 LCL(同 X/bar圖 ) Σ(Si S)2/K σ= 標(biāo)準(zhǔn)差圖 UCL、 LCL UCLS=CL+3σ LCLS=CL－ 3σ (同 XR圖 ) 圖形制作與分析 —8 Xbarσ均值標(biāo)準(zhǔn)差圖 d. 圖形分析 圖形制作與分析 —8 Xbarσ均值標(biāo)準(zhǔn)差圖 圖形制作與分析 — 9MidR中位數(shù)極差圖 MidR圖是對 XbarR圖 和 Xbarσ圖的一種補(bǔ)充，通常用于樣本容量小于 10的情況。 圖形制作與分析 — 2 NPChart 通常用于： ?自動(dòng)化程度較高，對不良分析以計(jì)數(shù)為主 ?不良數(shù)相對較低 ?批量相對較低 ?各批檢驗(yàn)數(shù)相同 ： a. 收集數(shù)據(jù) b. 計(jì)算平均不良數(shù) P： 平均不良數(shù) n： 檢驗(yàn)數(shù) d： 不良數(shù) i： 第 i組數(shù)據(jù) CL=PBar =P= Σni Σdi 圖形制作與分析 — 2 NPChart c. 計(jì)算管制上下限 UCL=Pbar +3 Pbar (1Pbar) LCL=Pbar－ 3 Pbar (1Pbar) 2. 圖形制作 (同 P 圖 ) 3. 圖形分析 圖形制作與分析 — 2 NPChart UChart即單位缺點(diǎn)數(shù)管制圖，可用來對不同工種或不同生產(chǎn)部門進(jìn)行品質(zhì)考核。 ?計(jì)數(shù)值 ?計(jì)量值 兩個(gè)概念 ： 以計(jì)產(chǎn)品的件數(shù)或點(diǎn)數(shù)來表達(dá) 以實(shí)際測量或測試的數(shù)據(jù)來表達(dá) （如：高歪蓋、熱變形、瓶身氣泡及熔缺） （如：扭矩、凈含量、殺菌溫度、空瓶頂壓） SPC的運(yùn)作流程 收集原始數(shù)據(jù) 將數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換成直觀圖形 了解數(shù)據(jù)的真實(shí)性，分析圖形 實(shí)時(shí)監(jiān)控品質(zhì)狀況 找出影響最大原因 找出未來可能出現(xiàn)的品質(zhì)狀況 專案處理 有無問題 及時(shí)通知制造采取措施 有 注意實(shí)時(shí)監(jiān)控改善前中后狀況 有無效果及效果是否明顯 繼續(xù)生產(chǎn)監(jiān)控 記錄納入標(biāo)準(zhǔn)化 有 立即采取措施 無 無 SPC運(yùn)作成功的條件 ? 高層管理者的大力支持 ? 中層干部能夠在有良好的品質(zhì)觀念的基礎(chǔ)上 及時(shí)分析圖形 ? 作一份詳盡、全面、系統(tǒng)的 SPC系統(tǒng)規(guī)劃 ? 必須使用專業(yè)軟件 ? 數(shù)據(jù)收集要真實(shí)、適時(shí) SPC系統(tǒng)運(yùn)作的重點(diǎn) ? 相關(guān)人員的教育訓(xùn)練 ? 全面的系統(tǒng)規(guī)劃 ? 適時(shí)
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