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statisticalprocesscontrol統(tǒng)計過程控制教材-文庫吧在線文庫

2025-03-14 15:28上一頁面

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【正文】 的需求和期望過程的聲音統(tǒng)計方法什么是過程控制? 過程控制是為了確保滿足內(nèi)、外部顧客的要求而對過程執(zhí)行的一套程序和經(jīng)策劃的措施。主要介紹了用來分析及監(jiān)控過程非常有效的工具 控制圖。? 在管理部門,經(jīng)??繖z查或重新檢查工作來找出錯誤。最有用的信息是以研究過程本身以及其內(nèi)在的變化性中得到的。如果不分析過程中的根本原因,不對過程采取校正措施或驗證,這是時間和材料的極大浪費。 造成短期影響的因素,例如 :機器及其固定裝置間的游隙和間隙。普通原因指的是造成隨著時間的推移具有穩(wěn)定的且可重復(fù)的分布過程中的許多變差的原因。216。216??刂撇蛔?,過度調(diào)整。216。 平衡不需控制時采取了措施(過度控制 /頻繁調(diào)整機床或擅自改變) 不平衡需要控制時未采取措施(控制不足)216。內(nèi)、外部顧客更關(guān)心過程的輸出是否符合規(guī)范要求,并不關(guān)心過程變差如何。四類:過程不受控、過程分布寬度不可接受。? Cp、 Cpk,是長期的能力指數(shù)。合理使用控制圖能夠:? 供正在過程控制的操作者使用? 有助于過程在質(zhì)量上和成本上能持續(xù)地、可預(yù)測地保持下去? 使過程達到: 更高的質(zhì)量 更低的單位成本 更高的有效能力? 為討論過程性能提供共同的語言? 區(qū)分變差的特殊原因和變通原因,作為采取局部措施或?qū)ο到y(tǒng)采取措施時決策的指南??刂茍D的種類 :控制圖的選用程序使用 X- S圖確定要制定控制圖的特性是計量型數(shù)據(jù)嗎 ?性質(zhì)上是否是均勻或不能按子組取樣 例如 :化學槽液 ,批量油漆等 ?使用 XRS圖關(guān)心的是不合格品率 即 (壞 )零件的百分比嗎 ?關(guān)心的是不合格品數(shù) 即單位零件不合格數(shù)嗎 ?樣本客量是否恒定 ?使用U圖使用 C或 U圖使用 np圖或 p圖樣本容量是否恒定 ?使用P圖子組均值是否能方便計算 ?是否能方便計算子組的 S值 ?子組容量是否大于等于 9? 使用 X- R圖-使用 X- R圖-使用 X- S圖~注:本圖假設(shè)測量系統(tǒng)已經(jīng)過評價并且是適用的。? 定義測量系統(tǒng):測量設(shè)備本身的準確性和精密性,必須是可預(yù)測的。:一般情況下,零件總數(shù)不少于 100件,子組不少于 25組。 極差的上控制限 UCLR = D4?R 極差的下控制限 LCLR = D3?R 均 值 的上控制限 UCLX = X+A2?R 均 值 的下控制限 LCLX = XA2?R 式中: D D A2為 常數(shù),隨 樣 本容量的大小而 變 化,可 查 表得到。 由于出現(xiàn)特殊原因而從 R圖中去掉的子組,也應(yīng)從 X圖中去掉。? 如果過程中心偏離目標值,可調(diào)整過程使之對準目標值,這些控制限可繼續(xù)用來進行過程監(jiān)控。 ?(過程穩(wěn)定沒有特殊原因時,) ? (估計偏差) = R/d2 = ?R/d2 式中: R是子組極差的平均值(極差圖受控時) D2是隨子組樣本容量不同而變化的常數(shù),可查表得到。--對于雙邊容差:應(yīng)分別計算超出上、下限規(guī)范界限的百分布。 放大規(guī)范使之與過程性能一致(但不能滿足顧客要求)。將計算后的各子組的均值 X、極差 R填入數(shù)據(jù)欄中 。 900.0725計算能力指數(shù):CPK =Zmin = ? (接受準則要求 Cpk ?) 3 3或 CPK =(CPU = USLX 或 CPL = XLSL的較小值 ) 3? 3?在不考慮過程有無偏倚時,Cp = USLLSL = = 6? 6*如果本例是 “ 初始過程 ” 能力研究,則計算 PP?PPK?s = ? = (本例中,去除異常點后,存 16個子組 80個單值數(shù)據(jù))= =()2 (801)√80i=1__________^ ^^^PP = USLLSL = = 6?s 6上限能力指數(shù): USLX = = 3?s 3下限能力指數(shù): XLSL = = 3?s 3PPK取上限能力指數(shù)或下限能力指數(shù)中的較小值, 即 PPK=(能力不足 )==^^^從上面分析,盡管過程處于受控狀態(tài),但過程能力不足使過程輸出的 %左右超出規(guī)范限值。重要的是:把被檢查的每個元件、零件或項目記錄成合格或不合格(即使一個項目有幾次不合格,也只記錄為一個不合格項)。時間間隔短則反饋快,但也許與大的子組容量的要求相矛盾。 計算過程平均不合格品率( P) P= n1p1+n2p2+???+nKpK n1+n2+???+nK式中: n1p n2p2… 及 n1n2為每個子組內(nèi)的不合格項目數(shù)及檢查的項目數(shù)。 只有當子組的不合格項目平均值 (np)較大時 (np?9),才可使用以下判斷規(guī)則:? 在一個受控的 np中等較大的過程中,落在均值兩側(cè)的點的數(shù)量幾乎相等。如果大大少于 2/3的點位于過程均值較近的區(qū)域,則有可能:- 發(fā)生了計算或描點錯誤- 過程或取樣方法造成連續(xù)的子組包含來自兩個或多個具有不同均值性能的過程流的測量(如:每班之間的性能差異)? 當從數(shù)據(jù)中發(fā)現(xiàn)失控,應(yīng)研究操作過程,確定原因,采取措施,防止再發(fā)生。但是%的平均失效率(要求重新加工或報廢),是對時間和材料的極大浪費,應(yīng)采取措施以提高長期績效水平。機器能力的表示( 8 ? m) 機器能力是通過其加工產(chǎn)品的質(zhì)量特性值的分布來衡量的。一個工件除有尺寸偏差外,還形狀偏差,把這些在試件上可能出現(xiàn)的偏差搞清楚,是與加工方法和加工目的有關(guān)的重要條件。若偏離直線的斜度很大,可將標準偏差修正,而偏離 TN的大小及方向是加工過程中系統(tǒng)誤差的重要信息。 ,后角 6176。Rs的測定方法 將產(chǎn)品分作 2025群,從每群中各抽取 1個作試樣進行測試,所得的數(shù)據(jù)填入數(shù)據(jù)表中。例如:一次化學反應(yīng)的收率、每日的電力消耗,一爐鋼的成份等;? 過程內(nèi)部均一,不需要測取多個測定值。將 24次測量編號從 ……24,每一編號連續(xù)進行兩次測量。 Ri Ri= XimaxXimin R R= ∑ Ri/K 式中: Ri為 每個子 組 極差, K為 子 組 數(shù)量。 根據(jù)經(jīng)驗,一般關(guān)系式為: ?m = ? 即: 4 ?m = 3 ? 3 4工作不可靠性 在工件加工中所發(fā)生的尺寸變動是加工尺寸分散性或加工精度的直接表現(xiàn),加工不可靠性是衡量精度的尺度(也就是過程質(zhì)量特性的標準偏差 ? ),它包括機器、人、材料、方法和環(huán)境等因素引起的。機器能力是過程能力的重要組成部分。? 過程能力的初步估計值,應(yīng)使用歷史數(shù)據(jù),但應(yīng)剔除與特殊原因有關(guān)的數(shù)據(jù)點。注:當 np5時,出現(xiàn)低于 p 的鏈的可能性增加,因此不能用上面的 7點鏈作為判斷規(guī)則,應(yīng)使用 8點或更多的點的長鏈作為判斷規(guī)則。注:當 p很小和/或 n很小時, LCL計算值為負值,則無下控制限。 選擇控制圖的坐標刻度 p圖上的縱坐標表示不合格品率,橫坐標為按時間順序的子組。 選擇子組容量、分組頻率及數(shù)量:用于計數(shù)型數(shù)據(jù)的控制圖一般要求較大的子組容量(例如: 50到 200或更多)。^能力比值和性能比值? 能力比值 (CR): 是 Cp值的倒數(shù),是過程分布寬度與公差的一個比較值 CR= 1/CP = 6? R/d2 USLLSL? 性能比值( PR),是過程分布寬度與么差的一個比較值 PR= 1/PP = 6? S USLLSL 在本例中 : CR = 6?R/d2 = 6 = USLLSL CR = 6?s = 6 = USLLSL 當 CR與 PR越小時,說明過程能力越高。 排除了與極差和均值有關(guān)的可解釋和可糾正的問題,過程看來是統(tǒng)計受控的。? 管理層參與和支持,做一些基本變動、分配資源并改進過程進行協(xié)調(diào)工作。 3?R/d2==^^^___? 短期的能力指數(shù) PP式中: USL與 LSL為規(guī)范的上限和下限。R新 (當 n7時 ,無 LCLR) UCLX = X+A2但大約 1/150的點落在控制限之外,可認為過程是受控的。 測量系統(tǒng)改變,不能反映過程真實性能的變化。 對于 X圖,縱坐標上的刻度值的最大值與最小值之差應(yīng)至少為子組均值( X)的最大值與最小值差的 2倍。 在過程初期時,子組一般選 4- 5件,且僅代表單一刀具、沖頭、模槽(型腔)等生產(chǎn)出的零件(即一個單一的過程流)。? 確定作圖的(待管理)特性: 顧客的需求(顧客呼聲,過程何處需改進)。?計量型控制圖可以通過分布寬度(零件間的變異性)和其位置(
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