統(tǒng)計(jì)過程控制培訓(xùn)講座-文庫(kù)吧在線文庫(kù)
【正文】 （存在特殊原因） 過程能力 ? 過程能力是指過程處于受控狀態(tài)下（不存在變差的特殊原因）的實(shí)際加工能力 ? 一個(gè)穩(wěn)定過程的固有變差的總范圍 ? 過程能力是由造成變差的普通原因造成 ? 工序能力高時(shí)：產(chǎn)品品質(zhì)出現(xiàn)異常的幾率越小 ? 工序能力低時(shí)：產(chǎn)品品質(zhì)出現(xiàn)異常的幾率越大 過程能力指數(shù)（ Cp) ? 過程能力用過程能力指數(shù)來加以量化 Cpk=(T2ε)/6 σ 其中， ε=|Xbar(T/2)| Cp=T/6σ –T=（ USLLSL) –USL:公差上限 –LSL:公差下限 無偏情況下： 存在偏移時(shí)： Cpk值的判定原則 Cpk值 處理原則 ≦ Cpk 無缺點(diǎn)考慮降低成本 ≦ Cpk≦ 維持現(xiàn)狀 1≦ Cpk≦ 有缺點(diǎn)發(fā)生 Cpk≦ 采取緊急措施，進(jìn)行品質(zhì) 改善，并研討規(guī)格 ) 過程控制的工具 控制圖 上控制限 中心限 下控制限 ? 控制圖是 1924年休哈特博士在貝爾實(shí)驗(yàn)室發(fā)明的。 控制圖的控制線 ? 中心線（ CL): X ? 上控制線 /限（ UCL): X+ 3 σ ? 下控制線 /限（ LCL): X 3 σ ? 右轉(zhuǎn) 90度 3 σ 3 σ x+ 3 σ x 3 σ x x 公差界限與控制界限的區(qū)別 ? 公差界限： 區(qū)分合格品與不合格品 ? 控制界限： 區(qū)分偶波與異波 合理使用控制圖的益處 ? 供正在進(jìn)行過程控制的操作者使用 ? 有助于過程在質(zhì)量上和成本上能持續(xù)的、可預(yù)測(cè)的保持下去 ? 使過程達(dá)到： ? 更高的質(zhì)量 ? 更低的單件成本 ? 更高的有效能力 ? 為討論過程的性能提供共同的語言 ? 區(qū)分變差的特殊原因和普通原因，作為采取局部措施或?qū)ο到y(tǒng)采取措施的指南 使用控制圖的基本步驟 收集 收集數(shù)據(jù)并畫在圖上 控制 根據(jù)過程數(shù)據(jù)計(jì)算實(shí)驗(yàn)控制限 識(shí)別變差的特殊原因并采取措施 分析及改進(jìn) 確定普通原因變差的大小并采取減小它的措施 重復(fù)這三個(gè)階段從而不斷改進(jìn)過程 使用控制圖的兩個(gè)階段 ? 過程分析階段（初始能力研究） ? 過程監(jiān)控階段 分析用控制圖與控制用控制圖 ●分析用控制圖 應(yīng)用控制圖時(shí)，首先將非穩(wěn)態(tài)的過程調(diào)整到穩(wěn)態(tài)，用分析控制圖判斷是否達(dá)到穩(wěn)態(tài)。 注： 應(yīng)制定一個(gè)收集數(shù)據(jù)的計(jì)劃，將其作為收集、記錄及描圖的依據(jù)。 n 表示子組 的樣本容量 1選擇控制圖的刻度 41 兩個(gè)控制圖的縱坐標(biāo)分別用于 X 和 R 的測(cè)量值?？刂葡奘怯勺咏M的樣本容量以及反 12 映在極差上的子組內(nèi)的變差的量來決定的。 5 （即其中之一或兩者均不受控）進(jìn)而采取適當(dāng)?shù)拇胧? 注 1： 當(dāng)子組數(shù)（ n） 變得更?。?5或更小）時(shí)，出現(xiàn)低于 R 的鏈的可能 性增加，則 8點(diǎn)或更多點(diǎn)組成的鏈才能表明過程變差減小。 d2 過程或取樣方法造成連續(xù)的分組中包含了從兩個(gè)或多個(gè)具有 明顯不同的變化性的過程流的測(cè)量值（如：輸入材料批次混 淆）。 注：排除代表不穩(wěn)定條件的子組并不僅是“丟棄壞數(shù)據(jù)”。 c 如果顯著多余 2/3以上的描點(diǎn)落在離 R很近之處 （ 對(duì)于 25子組 ， 如果超過 90%的點(diǎn)落在控制限的 1/3區(qū)域 ） ， 則應(yīng)對(duì)下列情況的 一種或更多進(jìn)行調(diào)查： c1 控制限計(jì)算錯(cuò)或描點(diǎn)描錯(cuò) c2 過程或取樣方法被分層 ， 每個(gè)子組系統(tǒng)化包含了從兩個(gè)或 多個(gè)具有完全不同的過程均值的過程流的測(cè)量值 （ 如：從 幾組軸中 ， 每組抽一根來測(cè)取數(shù)據(jù) 。 b 當(dāng)子組容量變化時(shí)，（例如：減少樣本容量，增加抽樣頻率） 應(yīng)調(diào)整中心限和控制限 。 UCL X LCL UCL X LCL 均值失控的過程（點(diǎn)離過程均值太近） 均值失控的過程（點(diǎn)離控制限太近） 35 識(shí)別并標(biāo)注所有特殊原因（均值圖） a 對(duì)于均值數(shù)據(jù)內(nèi)每一個(gè)顯示處于失控狀態(tài)的條件進(jìn)行一次過 程操作分析，從而確定產(chǎn)生特殊原因的理由，糾正該狀態(tài)， 防止再發(fā)生。 a3 測(cè)量系統(tǒng)發(fā)生變化（例如：不同的量具或 QC） 不受控制的過程的均值（有一點(diǎn)超過控制限） 受控制的過程的均值 UCL LCL X LCL UCL X 342 鏈 有下列現(xiàn)象之表明過程已改變或出現(xiàn)某種趨勢(shì)： 連續(xù) 7點(diǎn)在平均值一側(cè)或 7點(diǎn)連續(xù)上升或下降 a 與過程均值有關(guān)的鏈通常表明出現(xiàn)下列情況之一或兩者 。 33 重新計(jì)算控制限（極差圖） a 在進(jìn)行首次過程研究或重新評(píng)定過程能力時(shí)，失控的原因已 被識(shí)別和消除或制度化，然后應(yīng)重新計(jì)算控制限，以排除失控 時(shí)期的影響，排除所有已被識(shí)別并解決或固定下來的特殊原因 影響的子組，然后重新計(jì)算新的平均極差 R和控制限，并畫下來， 使所有點(diǎn)均處于受控狀態(tài)。 C 如果顯著多余 2/3以上的描點(diǎn)落在離 R 很近之處（對(duì)于 25子組，如果超過 90%的點(diǎn)落在控制限的 1/3區(qū)域），則應(yīng)對(duì)下列情況的一種或更多進(jìn)行調(diào)查： c1 控制限計(jì)算錯(cuò)或描點(diǎn)已描錯(cuò) 。 b 超出極差上控制限的點(diǎn)通常說明存在下列情況中的一種或幾種： 控制限計(jì)算錯(cuò)誤或描點(diǎn)時(shí)描錯(cuò) 零件間的變化性或分布的寬度已增大 (即變壞 ） 測(cè)量系統(tǒng)變化 （ 如：不同的檢驗(yàn)員或量具 ） c 有一點(diǎn)位于控制限之下
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