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正文內(nèi)容

統(tǒng)計(jì)過程控制培訓(xùn)講座(編輯修改稿)

2025-02-24 22:20 本頁面
 

【文章內(nèi)容簡介】 否能很方便 地計(jì)算? 否 使用中 位數(shù)圖 是 使用單值圖XMR 是 接上頁 子組容量是否大于或等于 9? 是 否 是否能方便地計(jì)算每個(gè)子組的 S值? 使用 X—R圖 是 否 使用 X—R圖 使用 X— s圖 注:本圖假設(shè)測(cè)量系統(tǒng)已經(jīng)過評(píng)價(jià)并且是適用的。 ) 使用控制圖的準(zhǔn)備 建立適合于實(shí)施的環(huán)境 a 排除阻礙人員公正的因素 b 提供相應(yīng)的資源 c 管理者支持 定義過程 根據(jù)加工過程和上下使用者之間的關(guān)系,分析每個(gè)階段的影響 因素。 確定待控制的特性 應(yīng)考慮到: 顧客的需求 當(dāng)前及潛在的問題區(qū)域 特性間的相互關(guān)系 接上頁 確定測(cè)量系統(tǒng) a 規(guī)定檢測(cè)的人員、環(huán)境、方法、數(shù)量、頻率、設(shè)備或量具。 b 確保檢測(cè)設(shè)備或量具本身的準(zhǔn)確性和精密性。 使不必要的變差最小 確保過程按預(yù)定的方式運(yùn)行 確保輸入的材料符合要求 恒定的控制設(shè)定值 注: 應(yīng)在過程記錄表上記錄所有的相關(guān)事件,如:刀具更新,新的材料批 次等,有利于下一步的過程分析。 均值和極差圖( XR) 收集數(shù)據(jù) 以樣本容量恒定的子組形式報(bào)告,子組通常包括 25件連續(xù)的產(chǎn)品,并周性期的抽取子組。 注: 應(yīng)制定一個(gè)收集數(shù)據(jù)的計(jì)劃,將其作為收集、記錄及描圖的依據(jù)。 11 選擇子組大小,頻率和數(shù)據(jù) 111 子組大小 :一般為 5件連續(xù)的產(chǎn)品,僅代表單一刀具 /沖頭 /過程 流等。( 注: 數(shù)據(jù)僅代表單一刀具、沖頭、模具等 生產(chǎn)出來的零件,即一個(gè)單一的生產(chǎn)流。) 112 子組頻率 :在適當(dāng)?shù)臅r(shí)間內(nèi)收集足夠的數(shù)據(jù),這樣子組才能 反映潛在的變化,這些變化原因可能是換班 /操作人 員更換 /材料批次不同等原因引起。對(duì)正在生產(chǎn)的產(chǎn) 品進(jìn)行監(jiān)測(cè)的子組頻率可以是每班 2次,或一小時(shí)一 次等。 接上頁 113 子組數(shù): 子組越多,變差越有機(jī)會(huì)出現(xiàn)。一般為 25組,首次使 用管制圖選用 35 組數(shù)據(jù),以便調(diào)整。 12 建立控制圖及記錄原始數(shù)據(jù) (見下圖) 1計(jì)算每個(gè)子組的均值( X) 和極差 R 對(duì)每個(gè)子組計(jì)算: X=( X1+X2+…+Xn ) / n R=XmaxXmin 式中: X1 , X2 ? ? ? ?為子組內(nèi)的每個(gè)測(cè)量值。 n 表示子組 的樣本容量 1選擇控制圖的刻度 41 兩個(gè)控制圖的縱坐標(biāo)分別用于 X 和 R 的測(cè)量值。 42 刻度選擇 : 接上頁 對(duì)于 X 圖,坐標(biāo)上的刻度值的最大值與最小值的差應(yīng)至少為子組均值( X) 的最大值與最小值的差的 2倍,對(duì)于 R圖坐標(biāo)上的刻度值的最大值與最小值的差應(yīng)為初始階段所遇到的最大極差( R) 的 2倍。 注: 一個(gè)有用的建議是將 R 圖的刻度值設(shè)置為 X 圖刻度值的 2倍。 ( 例如:平均值圖上 1個(gè)刻度代表 ,則在極差圖上 1個(gè)刻度代表 ) 1將均值和極差畫到控制圖上 51 X 圖和 R 圖上的點(diǎn)描好后及時(shí)用直線聯(lián)接,瀏覽各點(diǎn)是否 合理,有無很高或很低的點(diǎn),并檢查計(jì)算及畫圖是否正確。 52 確保所畫的 X 和 R點(diǎn)在縱向是對(duì)應(yīng)的。 注: 對(duì)于還沒有計(jì)算控制限的初期操作的控制圖上應(yīng)清楚地注明“ 初始研究 ”字樣。 2 計(jì)算控制限 3 首先計(jì)算極差的控制限,再計(jì)算均值的控制限 。 4 5 21 計(jì)算平均極差( R) 及過程均值( X) 6 R=( R1+R2+…+Rk ) / k( K表示子組數(shù)量) 7 8 X =( X1+X2+…+Xk ) / k 9 22 計(jì)算控制限 10 計(jì)算控制限是為了顯示僅存在變差的普通原因時(shí)子組的均 11 值和極差的變化和范圍。控制限是由子組的樣本容量以及反 12 映在極差上的子組內(nèi)的變差的量來決定的。 13 計(jì)算公式: 14 UCLx=X+ A2R UCLR=D4R 15 LCLx=X A2R LCLR=D3R 16 接上頁 注: 式中 A2,D3,D4為常系數(shù),決定于子組樣本容量。其系數(shù)值 見下表 : n 2 3 4 5 6 7 8 9 10 D4 D3 ? ? ? ? ? A2 注: 對(duì)于樣本容量小于 7的情況, LCLR可能技術(shù)上為一個(gè)負(fù)值。在這種情況下沒有下控制限,這意味著對(duì)于一個(gè)樣本數(shù)為 6的子組,
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